【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光源检测，具体而言，涉及一种光源照射亮度均匀性测试方法、装置及电子设备。
技术介绍
1、aoi（自动光学检测，automated optical inspection），是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测。
2、aoi检测设备在进行目标检测时，一般都会借助外部光源使相机成像时增强检测目标的对比度识别率，而光源的照射均匀性会直接影响目标的成像效果，均匀性不佳的光源会使目标成像不均匀造成检测时识别率降低，产品漏检误检率增高。
技术实现思路
1、本申请实施例所要解决的技术问题是检测光源是否满足均匀性达标，从而能够用于作为外部光源，使相机成像时增强检测目标。本专利技术实施例的目的在于对光源照射亮度均匀性测试从而确定光源的均匀性是否能够用于作为外部光源用于辅助相机成像，从而增强检测目标的对比度识别率。
2、本专利技术的第一方面提供了一种光源照射亮度均匀性测试方法，用于对aoi检测设备的光源进行测试，所述aoi检测设备包括相机，其特征在于，所述方法包括：
3、根据相机采集第一图像，并基于平场矫正系数对所述第一图像进行平场矫正，获得第一平场矫正图；
4、对所述第一平场矫正图进行图像处理，并确定所述第一平场矫正图中光源实际应用时所需要测试的亮度均匀性区域范围；
5、根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内的亮度均匀性系数。
6、进一步，根据相机采集第一图像之前，所述方法还包括：p>
7、将相机进行平场矫正，计算得到每个像素的灰度矫正系数k；
8、调整所述相机曝光及增益系数，使相机对光源的成像图像中，最高灰度值在预定范围。
9、进一步，所述根据相机采集第一图像，包括：
10、根据调整所述相机曝光及增益系数后的相机，执行采集第一图像；所述对所述第一平场矫正图进行图像处理，包括：对第一平场矫正图进行去噪处理。
11、进一步，所述根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内亮度均匀性系数，包括：
12、确定需要测试的亮度均匀性区域范围内像素的最高灰度值值max_gray和最低灰度值min_gray；
13、根据所述最高灰度值值max_gray和最低灰度值min_gray确定该区域范围亮度的亮度均匀性系数a：
14、a=。
15、进一步，所述根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内亮度均匀性系数，还包括：
16、若所述亮度均匀性系数大于第一阈值，确定所述光源的均匀性合格，能够用于所述aoi检测设备成像。
17、此外，本专利技术的第二方面提供了一种光源照射亮度均匀性测试装置，所述系统用于对aoi检测设备的光源进行测试，所述aoi检测设备包括相机，所述装置包括采集与矫正模块、区域确定模块以及均匀性确定模块；其中：
18、采集与矫正模块，用于根据相机采集第一图像，并基于平场矫正系数对所述第一图像进行平场矫正，获得第一平场矫正图；
19、区域确定模块，用于对所述第一平场矫正图进行图像处理，并确定所述第一平场矫正图中光源实际应用时所需要测试的亮度均匀性区域范围；
20、均匀性确定模块，用于根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值，确定该区域范围内的亮度均匀性系数。
21、进一步，所述装置还包括预调整模块，用于：将相机进行平场矫正，计算得到每个像素的灰度矫正系数k；调整所述相机曝光及增益系数，使相机对光源的成像图像中，最高灰度值在预定范围。
22、进一步，所述采集与矫正模块，还用于根据调整所述相机曝光及增益系数后的相机，执行采集第一图像；
23、所述均匀性确定模块，还用于确定需要测试的亮度均匀性区域范围内像素的最高灰度值值max_gray和最低灰度值min_gray；根据所述最高灰度值值max_gray和最低灰度值min_gray确定该区域范围亮度的亮度均匀性系数a：a=。
24、此外，本专利技术的第三方面提供了一种电子设备，所述电子设备包括：一个或多个处理器，存储器，所述存储器用于存储一个或多个计算机程序；所述计算机程序被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行如第一方面所述的光源照射亮度均匀性测试方法步骤。
25、此外，本专利技术的第四方面提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序；所述程序由处理器加载并执行以实现如上第一方面所述的光源照射亮度均匀性测试方法步骤。
26、本专利技术的方案中，通过根据相机采集第一图像，并基于平场矫正系数对所述第一图像进行平场矫正，获得第一平场矫正图；对所述第一平场矫正图进行图像处理，并确定所述第一平场矫正图中光源实际应用时所需要测试的亮度均匀性区域范围；根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内的亮度均匀性系数。与现有技术相比，本申请实施例主要有以下有益效果：通过调整相机以及光源并对图像进行矫正后，选定需要测试的亮度均匀性区域执行亮度均匀性的精准量化计算，从而确定光源的均匀性是否能够用于作为外部光源用于辅助相机成像，从而增强检测目标的对比度识别率。
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1.一种光源照射亮度均匀性测试方法，用于对AOI检测设备的光源进行测试，所述AOI检测设备包括相机，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，所述根据相机采集第一图像，包括：根据调整所述相机曝光及增益系数后的相机，执行采集第一图像；所述对所述第一平场矫正图进行图像处理，包括：对第一平场矫正图进行去噪处理。
4.根据权利要求3所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内亮度均匀性系数，包括：
5.根据权利要求4所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内亮度均匀性系数，还包括：
6.一种光源照射亮度均匀性测试装置，其特征在于，所述系统用于对AOI检测设备的光源进行测试，所述AOI检测设备包括相机，所述装置包括采集与矫正模块、区域确定模块以及均匀性确定模块；其中：
7.根据权利
8.根据权利要求7所述的光源照射亮度均匀性测试装置，其特征在于，所述采集与矫正模块，还用于根据调整所述相机曝光及增益系数后的相机，执行采集第一图像；
9.一种电子设备，所述电子设备包括：一个或多个处理器，存储器，所述存储器用于存储一个或多个计算机程序；其特征在于，所述计算机程序被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行如权利要求1-5任一项所述的光源照射亮度均匀性测试方法步骤。
10.一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序；所述程序由处理器加载并执行以实现如权利要求1-5任一项所述的光源照射亮度均匀性测试方法步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种光源照射亮度均匀性测试方法，用于对aoi检测设备的光源进行测试，所述aoi检测设备包括相机，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，所述根据相机采集第一图像，包括：根据调整所述相机曝光及增益系数后的相机，执行采集第一图像；所述对所述第一平场矫正图进行图像处理，包括：对第一平场矫正图进行去噪处理。
4.根据权利要求3所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内亮度均匀性系数，包括：
5.根据权利要求4所述的光源照射亮度均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述亮度均匀性区域范围内的像素灰度值确定该区域范围内亮度均匀性系数，还包括：
6.一种光源照射亮度均匀性测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒲大杭，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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