【技术实现步骤摘要】
本技术属于oled器件测试设备，具体涉及一种oled器件光学寿命测试系统。
技术介绍
1、oled是一种利用多层有机薄膜结构产生电致发光的器件，能应用在各种平面显示器中，oled显示屏具有轻薄亮度高，功耗低，清晰度高等诸多优点，近年来获得了广泛的应用。oled器件出厂之前需要进行寿命测试，传统的oled寿命测试方法，需要在暗室环境中，使用三轴机台搭载光学仪器测试，设备占地面积大，一次性测试的oled样品数量有限，无法大批量测试。并且，为了测量准确，需要对每个发光的产品做精准定位，操作复杂，设备中的运动机构在运转时，还可能对oled器件的发光产生干扰，影响测试结构，使测试精度下降，测试效率低下。
技术实现思路
1、针对上述问题和技术需求，本技术提供一种oled器件光学寿命测试系统，能对oled器件进行批量化检测，不需要设置暗室环境，检测过程无干扰，具有检测精度高，效率高的优点。
2、本技术的技术方案如下：一种oled器件光学寿命测试系统，包括检测柜、工控机、治具抽屉、电信号读取模块和ups不间断电源，所述检测柜为矩形立式柜，检测柜内顶部设有工控机，电信号读取模块和ups不间断电源固定设置在检测柜内，检测柜的侧面板上设有多个治具抽屉，多个治具抽屉呈阵列排布，治具抽屉均能独立抽拉操作，每个治具抽屉内固定安装有治具，治具为翻盖结构，治具内放置待测oled工件，治具闭合后能将oled工件封闭在内，使oled工件处于暗室环境中，治具内设有硅光电二极管探头，测试时硅光电二极管探头能读
3、进一步的，所述治具包括基座、上盖、硅光电二极管探头和导通探针，基座固定安装在治具抽屉上，上盖铰接在基座一边，基座的中部向下凹陷形成容纳oled工件的矩形腔，矩形腔边缘设有一圈托条，托条上设有多个导通探针；所述上盖内设有与托条对应的一圈压条，压条上也设有多个导通探针，薄片型的oled工件放入矩形腔，oled工件被托条支撑，上盖与基座相合时，压条嵌入矩形腔内，压条从上方压住oled工件，上下设置的导通探针将oled工件的电极导通，导通探针与电信号读取模块连接，硅光电二极管探头设置在上盖的一圈压条内。治具的上盖和基座中均设置导通探针，在测试时，oled工件的顶部或底部的导通探针均能完成对oled工件的测试，无需翻转工件，能兼容不同的工件，设置多个探针，当上盖和基座闭合时，除了与电极导通的探针之外，oled工件四周的其余导通探针能辅助支撑，保证产品的水平。
4、进一步的，所述基座和上盖上还对应设有磁铁，磁铁嵌入基座和上盖的盖合面上，上盖和基座盖合时，磁铁互相吸附，将上盖和基座闭合。磁铁能更方便的辅助闭合，相对于传统卡扣闭合方式，磁铁吸附闭合不需要额外操作，开闭动作简单，操作效率高。
5、进一步的，所述矩形腔的中部还设有半导体加热片，半导体加热片能对放入矩形腔的oled工件进行加热。配置半导体加热片，可以对oled工件加热，测试高温下的oled工件寿命。
6、进一步的，所述检测柜的侧面板内安装有抽屉支撑框架，抽屉支撑框架内按阵列设有多个抽屉格子，每个治具抽屉的底板滑动连接在一个抽屉格子内，治具抽屉的面板上设有拉手。
7、进一步的，所述工控机与ups不间断电源连接，工控机运行状态下与外部电源连通，当外部电源断电时，ups不间断电源向工控机供电。设置ups不间断电源，能在断电情况下，保证设备的持续运行，可以在持续供电的时间内处理数据，防止意外情况下的数据丢失。
8、进一步的，所述检测柜另一侧的面板上设有散热网格。
9、进一步的，所述检测柜内还设有多个立式钢条，电信号读取模块和ups不间断电源支撑安装在立式钢条上。
10、本技术的有益效果：1）本检测柜通过设置阵列式的治具抽屉作为检测工位，每个测试工位都是独立且封闭的，保证了测试环境为暗室，同时也可以对每个工位独立操作，测试不同的样品，测试具有高度的独立性和灵活性；2）治具中采用了硅光电二极管探头代替光学仪器进行测试，硅光电二极管探头能将光信号转化为电信号，因此通过分析该电信号就能测算出光信号数据，测试所需空间更小，能一次性测试多种不同信号的工件，大大提高了测试效率；3）在治具能设置上下两层导通探针，使治具能兼容电极在上方或下方的两种oled工件，不需要翻转调整工件，操作更方便，兼容性更强；4）设置ups不间断电源对工控机供电，能保证在工控机主机突然断电的情况下，测试能继续进行，测试数据不丢失。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：包括检测柜、工控机、治具抽屉、电信号读取模块和UPS不间断电源，所述检测柜为矩形立式柜，检测柜内顶部设有工控机，电信号读取模块和UPS不间断电源固定设置在检测柜内，检测柜的侧面板上设有多个治具抽屉，多个治具抽屉呈阵列排布，治具抽屉均能独立抽拉操作，每个治具抽屉内固定安装有治具，治具为翻盖结构，治具内放置待测OLED工件，治具闭合后能将OLED工件封闭在内，使OLED工件处于暗室环境中，治具内设有硅光电二极管探头，测试时硅光电二极管探头能读取OLED工件的光信号，并将光信号转化为电信号向外输出。
2.根据权利要求1所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述治具包括基座、上盖、硅光电二极管探头和导通探针，基座固定安装在治具抽屉上，上盖铰接在基座一边，基座的中部向下凹陷形成容纳OLED工件的矩形腔，矩形腔边缘设有一圈托条，托条上设有多个导通探针；所述上盖内设有与托条对应的一圈压条，压条上也设有多个导通探针，薄片型的OLED工件放入矩形腔，OLED工件被托条支撑，上盖与基座相合时，压条嵌入矩形腔内，压条从上方压住
3.根据权利要求2所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述基座和上盖上还对应设有磁铁，磁铁嵌入基座和上盖的盖合面上，上盖和基座盖合时，磁铁互相吸附，将上盖和基座闭合。
4.根据权利要求3所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述矩形腔的中部还设有半导体加热片，半导体加热片能对放入矩形腔的OLED工件进行加热。
5.根据权利要求4所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述检测柜的侧面板内安装有抽屉支撑框架，抽屉支撑框架内按阵列设有多个抽屉格子，每个治具抽屉的底板滑动连接在一个抽屉格子内，治具抽屉的面板上设有拉手。
6.根据权利要求5所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述工控机与UPS不间断电源连接，工控机运行状态下与外部电源连通，当外部电源断电时，UPS不间断电源向工控机供电。
7.根据权利要求1所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述检测柜另一侧的面板上设有散热网格。
8.根据权利要求1所述的一种OLED器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述检测柜内还设有多个立式钢条，电信号读取模块和UPS不间断电源支撑安装在立式钢条上。
...【技术特征摘要】
1.一种oled器件光学寿命测试系统，其特征在于：包括检测柜、工控机、治具抽屉、电信号读取模块和ups不间断电源，所述检测柜为矩形立式柜，检测柜内顶部设有工控机，电信号读取模块和ups不间断电源固定设置在检测柜内，检测柜的侧面板上设有多个治具抽屉，多个治具抽屉呈阵列排布，治具抽屉均能独立抽拉操作，每个治具抽屉内固定安装有治具，治具为翻盖结构，治具内放置待测oled工件，治具闭合后能将oled工件封闭在内，使oled工件处于暗室环境中，治具内设有硅光电二极管探头，测试时硅光电二极管探头能读取oled工件的光信号，并将光信号转化为电信号向外输出。
2.根据权利要求1所述的一种oled器件光学寿命测试系统，其特征在于：所述治具包括基座、上盖、硅光电二极管探头和导通探针，基座固定安装在治具抽屉上，上盖铰接在基座一边，基座的中部向下凹陷形成容纳oled工件的矩形腔，矩形腔边缘设有一圈托条，托条上设有多个导通探针；所述上盖内设有与托条对应的一圈压条，压条上也设有多个导通探针，薄片型的oled工件放入矩形腔，oled工件被托条支撑，上盖与基座相合时，压条嵌入矩形腔内，压条从上方压住oled工件，上下设置的导通探针将oled工件的电极导通，导通探针与电信号读取模块连接，硅光电二极管探头设置在上...
【专利技术属性】
技术研发人员：殷伯银，员浩然，蒋陆龙，葛丹杰，
申请(专利权)人：苏州立德麦光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。