【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及密封检验装置以及包装检查系统。
技术介绍
1、以往，存在检查实施了顶部密封的包装体、并检测不良包装的装置。例如，在专利文献1（日本特开2006-160264号公报）的装置中，使气缸的按压面与传送带上的包装体抵接而按压包装体的上表面。然后，基于来自与气缸连接的传感器的信号来检测不良包装体。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：日本特开2006-160264号公报
技术实现思路
1、专利技术要解决的技术问题
2、在作为实施了顶部密封的包装体的托盘中，根据托盘的不同，托盘主体的材质等有所不同，但在使用柔软的材料的情况下，如果按压的力过强，则有可能损伤托盘、托盘内的商品。
3、本专利技术的技术问题在于提供密封检验装置以及包装检查系统，能够抑制对托盘的压力变得过大。
4、用于解决技术问题的方案
5、第一观点的密封检验装置对开口被膜密封的托盘进行密封检验，所述开口被边缘包围。密封检验装置具备：输送托盘的输送传送带、接触部、升降部、检测部、检查部以及控制部。接触部配置在输送传送带的上方。接触部与由输送传送带输送的托盘接触。升降部改变接触部的高度位置。检测部在托盘与接触部相接时，检测接触部的高度位置的位移量。检查部通过将由检测部检测出的位移量与预先设定的阈值进行比较，来检查膜的密封状态。控制部控制升降部。控制部使接触部在第一高度位置处待机。第一高度位置比托盘的边缘的高度位置高。若托盘被输送
6、在此，使用于密封检验的第二力不同于在接触部与托盘的膜相接之前的第一力。因而，能够抑制接触部与托盘的膜相接时从接触部作用于托盘的力的大小，从而抑制施加于托盘的压力变得过剩。
7、第二观点的密封检验装置是基于第一观点的密封检验装置，接触部作用有由重力产生的向下的力以及由升降部产生的向上的力。第一力和第二力是由升降部产生的向上的力。
8、在此，接触部作用有由与自身的质量相应的重力产生的向下的力以及由升降部产生的向上的力。若前者的向下的力变得比后者的向上的力大，则接触部下降，若前者的向下的力变得比后者的向上的力小，则接触部上升。并且，在前者的向下的力比后者的向上的力大的状态下，在接触部与托盘的膜接触之后，前者的向下的力与后者的向上的力的差量的向下的力作用于托盘。
9、第三观点的密封检验装置是基于第一观点或第二观点的密封检验装置，控制部根据托盘的种类改变第二高度位置。
10、如果第二高度位置大幅地远离托盘的边缘的高度位置，则在密封检验时有可能对托盘作用超过所需的力。但是，在此，由于能够根据托盘的材质、尺寸改变第二高度位置，因此能够将在密封检验时作用于托盘的力收敛于适当的范围。
11、第四观点的密封检验装置是基于第一观点至第三观点中任一个的密封检验装置，控制部根据托盘的种类改变第二力。
12、根据托盘的种类，如果用于密封检验的第二力过大，则有可能使托盘变形或者损伤。但是，在此，由于能够根据托盘的材质、尺寸改变第二力，因此能够将在密封检验时作用于托盘的力收敛于适当的范围。
13、第五观点的密封检验装置是基于第二观点的密封检验装置，控制部在使接触部从第一高度位置下降时，改变升降部施加于接触部的力。通过该控制，在接触部与托盘的膜相接之前的预定的高度范围内，控制部使作用于接触部的由升降部产生的向上的力增加。
14、在此，在接触部与托盘的膜相接之前，作用于接触部的由升降部产生的向上的力增加，与由接触部的重力产生的向下的力之差变小。由此，能够将在接触部与托盘的膜相接时从接触部作用于托盘的力抑制为适当的大小。换言之，在此，能够减小与托盘的膜接触时的接触部的表观上的质量，从而降低接触部碰到托盘时的冲击。
15、第六观点的密封检验装置是基于第一观点至第五观点中任一个的密封检验装置，接触部与膜中的不与托盘的边缘重叠的部分接触。
16、第七观点的密封检验装置是基于第一观点至第六观点中任一个的密封检验装置，接触部相对于升降部可装卸，根据托盘的种类进行更换。
17、在此，无论是俯视尺寸大的托盘还是尺寸小的托盘，通过更换接触部，都能够进行适当的密封检验。
18、第八观点的包装检查系统具备第一观点或第二观点的密封检验装置、顶部密封装置、第一输送部、以及第二输送部。顶部密封装置将膜粘贴在收容有商品的状态下的托盘的边缘，并对被边缘包围的开口进行密封。第一输送部输送开口被顶部密封装置密封的托盘。第二输送部配置在第一输送部与密封检验装置之间。第二输送部从第一输送部接受托盘，并向密封检验装置的输送传送带输送托盘。第二输送部的输送速度比第一输送部的输送速度快。
19、在该包装检查系统中，在顶部密封装置与密封检验装置之间配置第一输送部和第二输送部，使第二输送部的输送速度比第一输送部的输送速度快。由此，即使在从顶部密封装置向第一输送部连续供给的多个托盘的输送方向的间隙小（托盘间的距离短）的情况下，也能够在从第一输送部向第二输送部转移托盘时扩大托盘间的间隙。
20、专利技术的效果
21、在本专利技术所涉及的密封检验装置、包装检查系统中，使用于密封检验的第二力不同于在接触部与托盘的膜相接之前的第一力。因而，能够抑制接触部与托盘的膜相接时从接触部作用于托盘的力的大小，从而抑制施加于托盘的压力变得过剩。
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1.一种密封检验装置，对开口被膜密封的托盘进行密封检验，所述开口被边缘包围，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的密封检验装置，其特征在于，
3.根据权利要求1或2所述的密封检验装置，其特征在于，
4.根据权利要求1或2所述的密封检验装置，其特征在于，
5.根据权利要求2所述的密封检验装置，其特征在于，
6.根据权利要求1或2所述的密封检验装置，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的密封检验装置，其特征在于，
8.一种包装检查系统，其特征在于，具备：
【技术特征摘要】
1.一种密封检验装置，对开口被膜密封的托盘进行密封检验，所述开口被边缘包围，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的密封检验装置，其特征在于，
3.根据权利要求1或2所述的密封检验装置，其特征在于，
4.根据权利要求1或2所述的密封检验...
【专利技术属性】
技术研发人员：福井千明，谷川壮洋，冈本裕司，小野晃嗣，横田祐嗣，
申请(专利权)人：株式会社石田，
类型：发明
国别省市：
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