System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种用于交叉影像系统的测试装置及方法制造方法及图纸_技高网

一种用于交叉影像系统的测试装置及方法制造方法及图纸

技术编号:44838155 阅读:7 留言:0更新日期:2025-04-01 19:37
本发明专利技术公开了一种用于交叉影像系统的测试装置及方法,属于放射治疗设备技术领域。一种用于交叉影像系统的测试装置,包括两个导轨,两个导轨呈交叉状设置,并转动连接,两个导轨的交叉处设有模体测试平台,模体测试平台与安装其中一个导轨上,模体测试平台用于放置模体主体,模体测试平台的空间位置可以调节,导轨上滑动连接有X射线管支架与平板探测器支架,X射线管支架与平板探测器支架分别位于模体测试平台两侧,X射线管支架用于安装X射线管主体,X射线管主体在X射线管支架上的安装角度与位置均可以调节,平板探测器支架用于安装平板探测器主体,平板探测器主体在平板探测器支架上的安装角度与位置均可以调节。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及放射治疗设备,更具体地说,涉及一种用于交叉影像系统的测试装置及方法


技术介绍

1、随着医学影像设备的技术发展,影像设备应用于医疗诊断和患者治疗。在放疗设备应用中医学影像设备可以用于对患者肿瘤部位进行定位,应用于伽玛刀放疗设备的交叉影像系统采用交角立体平面成像技术,通过计算机控制两组由kv级(诊断级)x射线管组件、高压发生器、平板探测器、曝光控制器组成的成像硬件系统,对患者的解剖结构或外部植入标记进行两个方向的透视投影,取得一对交角x射线投影图像。对获得的二维x射线投影图像和用于放射治疗计划的三维ct图像,进行2d-3d图像配准和2d-3d几何转换,精确探测出患者(病灶)在放疗设备上的摆位误差,据此引导放疗设备移动治疗床,校正患者位置,实现对患者在治疗前的精确定位。目前对于交叉影像系统搭载到伽玛刀设备使用时需要在保证图像质量的情况下,确保曝光剂量最低,因为曝光剂量对患者有损害。

2、经检索,现有公开号为cn112914591a的专利文献提供一种图像引导系统校准装置及方法,该方法根据激光束与模体光道快速完成平板探测器初始位置安装,再基于x射线与标记物(金属小球)实现平板探测器安装位置精确定位,最后配准实现平板探测器最终位置的确认与验证。

3、上述方法仅适用与对一组影像设备进行校准,无法适用于对交叉影像系统校准。鉴于此,我们提出一种用于交叉影像系统的测试装置及方法。


技术实现思路

1、1.要解决的技术问题

2、本专利技术的目的在于提供一种用于交叉影像系统的测试装置及方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

3、2.技术方案

4、本专利技术是通过以下技术方案实现的:

5、一种用于交叉影像系统的测试装置,包括两个导轨,两个所述导轨呈交叉状设置,并转动连接,两个所述导轨的交叉处设有模体测试平台,所述模体测试平台与安装其中一个导轨上,所述模体测试平台用于放置模体主体,所述模体测试平台的空间位置可以调节,所述导轨上滑动连接有x射线管支架与平板探测器支架,所述x射线管支架与平板探测器支架分别位于模体测试平台两侧,所述x射线管支架用于安装x射线管主体,所述x射线管主体在x射线管支架上的安装角度与位置均可以调节,所述平板探测器支架用于安装平板探测器主体,所述平板探测器主体在平板探测器支架上的安装角度与位置均可以调节。

6、一种用于交叉影像系统的测试方法,包括以下步骤:

7、s1、将x射线管主体安装在x射线管支架上,将平板探测器主体安装在平板探测器支架上,并对导轨上的x射线管主体与平板探测器主体进行定位;

8、s2、将模体主体放置在模体测试平台上,并调节模体主体的位置;

9、s3、按照x射线管主体初始的电压电流与曝光时间参数,控制x射线管主体出束,并在平板探测器主体上形成平面图像;

10、s4、调节x射线管主体与模体主体之间的间距以及x射线管主体与平板探测器主体之间的间距,以获取符合第一标准的平面图像,并记录此时的x射线管主体与模体主体之间的间距以及x射线管主体与平板探测器主体之间的间距;

11、s5、控制两个x射线管主体出束,在两个平板探测器主体上形成平面图像,并利用两个平面图像生成三维模体模型;

12、s6、调节两个导轨之间的夹角,以获取符合第二标准的三维模体模型,并记录此时两个导轨之间的夹角;

13、s7、在成像剂量允许的范围内,对x射线管主体电压电流与曝光时间参数进行调节,以获取符合第二标准的三维模体模型,并记录此时x射线管主体电压电流与曝光时间参数;

14、s8、根据记录的x射线管主体与模体主体之间的间距、x射线管主体与平板探测器主体之间的间距、两个导轨之间的夹角与x射线管主体电压电流与曝光时间参数,对x射线管主体与平板探测器主体进行安装与调试。

15、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述s1包括以下子步骤:

16、s101、在x射线管主体的出束口安装十字激光灯;

17、s102、调节平板探测器主体,使得十字激光灯在平板探测器主体上的投影与平板探测器主体面板上的十字标线对齐。

18、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述s2包括以下子步骤:

19、s201、利用模体主体投影在两个平板探测器主体上的平面图像,生成模体主体的三维模体模型,并获取三维模体模型的模体中心坐标;

20、s202、在三维模体模型所在坐标系中获取两个x射线管主体的焦点坐标,并计算模体中心坐标与焦点坐标之间的误差距离;

21、s203、对模体主体的位置进行调节,直至误差距离小于设定的误差阈值。

22、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述误差阈值为0.5mm。

23、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述x射线管主体与模体主体之间的间距为1500mm-2100mm,x射线管主体与平板探测器主体之间的间距为3000mm。

24、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述导轨之间的夹角为70°-110°。

25、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述电压为100kv-140kv。

26、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述电流为100ma-200ma。

27、作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述曝光时间为0.05s-0.1s。

28、3.有益效果

29、与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:

30、1)本申请通过设置呈交叉状的两个导轨,能够对交叉影像系统中两个x射线管主体之间的角度进行调节,用于测试不同角度下交叉影像系统的成像质量,解决现有技术只能够针对一组影像设备进行校准的缺陷。

31、2)本申请通过依次对不同的sad值、s id值、θ值、以及x射线管主体的电压值、电流值、曝光时间进行测试,能够获取x射线管主体与平板探测器主体的使用参数,指导x射线管主体与平板探测器的安装与调试。

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【技术保护点】

1.一种用于交叉影像系统的测试装置,其特征在于:包括:两个导轨(1),两个所述导轨(1)呈交叉状设置,并转动连接,两个所述导轨(1)的交叉处设有模体测试平台(2),所述模体测试平台(2)与安装其中一个导轨(1)上,所述模体测试平台(2)用于放置模体主体(3),所述模体测试平台(2)的空间位置可以调节,所述导轨(1)上滑动连接有X射线管支架(101)与平板探测器支架(102),所述X射线管支架(101)与平板探测器支架(102)分别位于模体测试平台(2)两侧,所述X射线管支架(101)用于安装X射线管主体(103),所述X射线管主体(103)在X射线管支架(101)上的安装角度与位置均可以调节,所述平板探测器支架(102)用于安装平板探测器主体(104),所述平板探测器主体(104)在平板探测器支架(102)上的安装角度与位置均可以调节。

2.一种用于交叉影像系统的测试方法,应用于如权利要求1所述的一种用于交叉影像系统的测试装置,其特征在于:包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述S1包括以下子步骤:

<p>4.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述S2包括以下子步骤:

5.根据权利要求4所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述误差阈值为0.5mm。

6.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述X射线管主体(103)与模体主体(3)之间的间距为1500mm-2100mm,X射线管主体(103)与平板探测器主体(104)之间的间距为3000mm。

7.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述导轨(1)之间的夹角为70°-110°。

8.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述电压为100KV-140KV。

9.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述电流为100mA-200mA。

10.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于:所述曝光时间为0.05s-0.1s。

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【技术特征摘要】

1.一种用于交叉影像系统的测试装置,其特征在于:包括:两个导轨(1),两个所述导轨(1)呈交叉状设置,并转动连接,两个所述导轨(1)的交叉处设有模体测试平台(2),所述模体测试平台(2)与安装其中一个导轨(1)上,所述模体测试平台(2)用于放置模体主体(3),所述模体测试平台(2)的空间位置可以调节,所述导轨(1)上滑动连接有x射线管支架(101)与平板探测器支架(102),所述x射线管支架(101)与平板探测器支架(102)分别位于模体测试平台(2)两侧,所述x射线管支架(101)用于安装x射线管主体(103),所述x射线管主体(103)在x射线管支架(101)上的安装角度与位置均可以调节,所述平板探测器支架(102)用于安装平板探测器主体(104),所述平板探测器主体(104)在平板探测器支架(102)上的安装角度与位置均可以调节。

2.一种用于交叉影像系统的测试方法,应用于如权利要求1所述的一种用于交叉影像系统的测试装置,其特征在于:包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种用于交叉影像系统的测试方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:李学忠吴庆娟高志森唐子明
申请(专利权)人:玛西普医学科技发展深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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