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用于芯片的测试方法、测试装置、上位机、芯片与设备制造方法及图纸

技术编号：44827201 阅读：4 留言：0更新日期：2025-03-28 20:18

本申请提供一种用于芯片的测试方法、测试装置、上位机、芯片与设备。方法可以包括：获得按照热插拔试验台架要求搭建的测试电路，所述测试电路包括至少一个电池模组和至少一个芯片；将所述至少一个芯片连接到所述至少一个电池模组；以及对所述至少一个芯片的功能进行测试。

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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：周芳杰，楚乐，吴国秀，
申请(专利权)人：宁德时代新能源科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载我是这个专利的主人

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