System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法技术_技高网

一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法技术

技术编号:44824778 阅读:16 留言:0更新日期:2025-03-28 20:15
本发明专利技术属于循环水阻垢领域,提供了一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,包括:原溶液制备、原溶液分组、加入空气微纳米气泡、水浴加热和过滤、钙离子浓度测定、校正系数计算以及阻垢率计算。本发明专利技术通过引入校正系数和阻垢率公式,对使用化学阻垢剂阻垢率测定方法存在的缺陷进行改进,提高了空气微纳米气泡阻垢率测定的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及循环水阻垢领域,特别是涉及一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法


技术介绍

1、常规化学阻垢剂可凭借羧酸、膦酸或磺酸基团等官能团络合钙离子或附着在碳酸钙晶体的活性位点,以阻碍碳酸钙晶体的正常生长等方式抑制垢体的形成。通过将一定钙离子浓度的溶液分为两组,一组添加阻垢剂,一组不添加,并在一定温度下水浴加热一定时间后,测定两组剩余钙离子浓度,后可通过公式即可得出相应阻垢剂的阻垢率。式中,η为阻垢率,ρ0为原溶液钙离子浓度,ρ1为不添加阻垢剂水浴加热处理后剩余钙离子浓度,ρ2为添加阻垢剂水浴加热处理后剩余钙离子浓度。由于edta对于钙离子的络合能力强于常规化学阻垢剂,测定结果精准,因此使用edta滴定法可测定溶液剩余钙离子真实浓度。

2、实验发现使用空气微纳米气泡阻垢后,使用edta滴定法测定的溶液剩余钙离子浓度与通过结垢量换算出的溶液钙离子损失量之和,要小于原水中钙离子浓度,且不在误差范围内。由于选用空气微纳米气泡作为阻垢剂时会显著增大垢体粒径,易于垢体的分离,可以从溶液中分离出绝大部分垢体,因此判断edta对于钙离子的结合能要远小于空气微纳米气泡对钙离子的吸附能力,导致使用edta滴定法测定的溶液剩余钙离子浓度要小于溶液真实剩余的钙离子浓度,进而导致计算出的空气微纳米气泡阻垢率偏离真实值。


技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足,本专利技术的目的是提供一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,解决因edta对于钙离子的结合能远小于空气微纳米气泡对钙离子的吸附能力而导致计算出的空气微纳米气泡阻垢率偏离真实值的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供了如下方案:

3、一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,包括:

4、制备包含预设钙离子浓度和预设碳酸氢根浓度的原溶液;

5、将所述原溶液分成两份,得到实验组溶液和空白组溶液;

6、向所述实验组溶液中充入空气微纳米气泡,得到含气泡溶液;

7、分别在预设温度下对所述含气泡溶液和所述空白组溶液进行水浴加热和过滤,得到第一滤液和第二滤液;

8、分别使用edta滴定法测定所述第一滤液和所述第二滤液的离子浓度,得到第一钙离子浓度和第二钙离子浓度;

9、将所述预设温度带入预设的校正系数计算公式,得到辅助校正系数;

10、将所述辅助校正系数、所述第一钙离子浓度以及所述第二钙离子浓度输入预设的阻垢率计算公式,得到空气微纳米气泡阻垢率计算结果。

11、优选地,所述校正系数计算公式的构建过程,包括:

12、制备包含预设钙离子浓度和预设碳酸氢根浓度的试验溶液;

13、向所述试验溶液中充入空气微纳米气泡;

14、在所述预设温度下对气泡冲入后的所述试验溶液进行水浴加热和过滤,得到垢体和第三滤液;

15、对所述垢体进行干燥称重,得到垢体质量;

16、使用edta滴定法测定所述第三滤液的钙离子浓度,得到第三钙离子浓度;

17、将所述垢体质量输入到预设的钙离子浓度计算公式中进行计算,得到第四钙离子浓度;

18、计算所述第四钙离子浓度和所述第三钙离子浓度的比值,得到一组校正数据;

19、获取若干组温度下的所述校正数据,并根据全部所述校正数据进行函数拟合,得到所述校正系数计算公式。

20、优选地,所述预设温度包括:30℃到70℃中的任一温度。

21、优选地,所述校正系数的计算式为:ξ=α3t3-α2t2+α1t-α0;其中,ξ为所述校正系数;t为温度;α0、α1、α2以及α3分别对应温度的零次、一次、二次、三次的系数。

22、优选地,所述真实阻垢率的计算公式为:其中,η为所述真实阻垢率;ρ1为所述第二钙离子浓度;ρ2为所述第一钙离子浓度;ρ0为所述原溶液的钙离子浓度。

23、优选地,所述钙离子浓度计算公式为:其中,ρ为所述第四钙离子浓度;ρ01为所述试验溶液的钙离子浓度;mb为所述垢体质量;mca2+为钙离子的相对原子质量;mcaco3为碳酸钙的相对分子质量。

24、本专利技术公开了以下技术效果:

25、本专利技术提供了一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,通过引入校正系数和阻垢率公式,解决了edta对于钙离子的结合能远小于空气微纳米气泡对钙离子的吸附能力导致计算出的空气微纳米气泡阻垢率偏离真实值的问题,实现了对使用化学阻垢剂阻垢率测定方法存在的缺陷进行改进。

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【技术保护点】

1.一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述校正系数计算公式的构建过程,包括:

3.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述预设温度包括:30℃到70℃中的任一温度。

4.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述校正系数的计算式为:ξ=α3T3-α2T2+α1T-α0;其中,ξ为所述校正系数;T为温度;α0、α1、α2以及α3分别对应温度的零次、一次、二次、三次的系数。

5.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述真实阻垢率的计算公式为:其中,η为所述真实阻垢率;ρ1为所述第二钙离子浓度;ρ2为所述第一钙离子浓度;ρ0为所述原溶液的钙离子浓度。

6.根据权利要求2所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述钙离子浓度计算公式为:其中,ρ为所述第四钙离子浓度;ρ01为所述试验溶液的钙离子浓度;mb为所述垢体质量;MCa2+为钙离子的相对原子质量;MCaCo3为碳酸钙的相对分子质量。

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【技术特征摘要】

1.一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述校正系数计算公式的构建过程,包括:

3.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述预设温度包括:30℃到70℃中的任一温度。

4.根据权利要求1所述的一种空气微纳米气泡阻垢率计算方法,其特征在于,所述校正系数的计算式为:ξ=α3t3-α2t2+α1t-α0;其中,ξ为所述校正系数;t为温度;α0、α1、α2以及α3分别对应...

【专利技术属性】
技术研发人员:周正武张利平张玉玲李梦浩贾晶张敬红
申请(专利权)人:国家能源集团新能源技术研究院有限公司
类型:发明
国别省市:

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