【技术实现步骤摘要】
专利技术构思的各种示例实施例涉及存储设备及其控制方法。
技术介绍
1、存储设备可以包括存储器设备，并且存储器设备可以包括多个存储器块。多个存储器块可以被划分为正常操作块、坏块、保留块等。作为重复执行将数据编程和读取到正常操作块中的结果，正常操作块可能变成读取数据失败的读取失败块。编程在读取失败块中的数据可以作为保留块发送以防止数据丢失，并且读取失败块可以被登记为坏块以防止任何更多的数据被编程。然而，根据存储设备的内部温度，可能暂时出现数据读取失败。当读取失败的存储器块可以被统一地登记为坏块时，即使暂时读取失败的存储器块也可以被登记为坏块，并且因此，数据可以不被编程以浪费存储器设备中的存储空间。
技术实现思路
1、专利技术构思的各种示例实施例是提供一种存储设备及其控制方法，在将数据编程在存储器块中的时间点处测量作为存储设备的内部温度的编程温度，并且在尝试读取编程在存储器块中的数据的时间点处测量作为内部温度的读取尝试温度，并且使用编程温度和读取尝试温度来确定它是否对应于临时读取失败。以减少不必要的块替换并防止(或减少)保留块的消耗。
2、专利技术构思的一些示例实施例提供了一种存储设备，包括：存储器设备，包括多个存储器块；温度传感器，被配置为测量存储设备的内部温度；以及控制器，被配置为控制存储器设备和温度传感器，其中，温度传感器被配置为在通过控制器将数据编程在多个存储器块中的每个存储器块中的时间点处测量编程温度，并且控制器被配置为将编程温度在稳定范围之外的编程存储器块的编程温
3、一些示例实施例提供了一种存储设备，该存储设备包括：存储器设备，包括多个存储器块；温度传感器，被配置为测量存储设备的内部温度；控制器，被配置为控制存储器设备和温度传感器，将数据编程在多个存储器块中的每个存储器块中，以及读取编程到多个存储器块中的每个存储器块的数据，其中，温度传感器被配置为测量在将数据编程到多个存储器块中的每个存储器块的时间点处的编程温度，以及在尝试读取编程到多个存储器块中的每个存储器块的数据的时间点处的读取尝试温度，以及其中，控制器还被配置为：对存储器设备中的编程温度进行编程，将多个存储器块当中读取失败的至少一个存储器块确定为错误块，以计算对应于错误块的编程温度和读取尝试温度之间的差的温度差，基于温度差和保证大小以及错误块的编程温度和读取尝试温度是否落在驱动保证温度范围内，将错误块登记为坏块或刷新候选块，以及当存储设备的内部温度落在稳定范围内时，以对刷新候选块的刷新操作开始，以重新读取编程在刷新候选块中的数据。
4、专利技术构思的一些示例实施例提供了一种控制存储设备的方法，该方法包括：测量编程温度，该编程温度是在将数据编程在包括在存储器设备中的多个存储器块当中的编程目标块中的时间点处的存储设备的内部温度；当编程温度在稳定范围之外时，将编程温度编程为存储器设备中的编程目标块的温度；测量读取尝试温度，该读取尝试温度是存储设备在尝试读取编程在多个存储器块当中的读取目标块中的数据的时间点处的内部温度；当编程在读取目标块中的数据被读取失败时，确定读取目标块为错误块，并且确定错误块的编程温度和读取尝试温度是否落在驱动保证温度范围内；计算对应于错误块的编程温度和读取尝试温度之间的差的温度差，以将温度差与保证大小进行比较；当温度差小于保证大小时，将错误块登记为坏块，并且当温度差大于保证大小或者错误块的编程温度和读取尝试温度在驱动保证温度范围之外时，将错误块登记为刷新候选块；以及当存储设备的内部温度落在稳定范围内时，根据重新读取编程在刷新候选块中的数据的结果，以对刷新候选块的刷新操作开始，以将刷新候选块登记为坏块或者将新数据编程在刷新候选块中。
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1.一种存储设备，包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述驱动保证温度范围对应于其中所述存储设备被正常驱动的温度范围，并且
3.根据权利要求2所述的存储设备，其中，所述驱动保证温度范围包括第一温度区段和第二温度区段，并且所述驱动保证温度范围还包括最高驱动温度和最低驱动温度，
4.根据权利要求3所述的存储设备，其中，所述保证大小大于所述驱动保证温度范围的大小的一半。
5.根据权利要求4所述的存储设备，其中，所述稳定范围对应于其中所述第一温度区段和所述第二温度区段重叠的区域。
6.根据权利要求1所述的存储设备，其中，当数据被多次编程到所述多个存储器块中的每个存储器块时，
7.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述控制器被配置为，当所述温度差小于所述保证大小时，将所述错误块处理为坏块。
8.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述控制器被配置为，当所述温度差大于所述保证大小时，或者当所述错误块的所述编程温度和所述读取尝试温度在驱动保证温度范围之外时，将所述错误块登记为刷新候选块。
<...【技术特征摘要】
1.一种存储设备，包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述驱动保证温度范围对应于其中所述存储设备被正常驱动的温度范围，并且
3.根据权利要求2所述的存储设备，其中，所述驱动保证温度范围包括第一温度区段和第二温度区段，并且所述驱动保证温度范围还包括最高驱动温度和最低驱动温度，
4.根据权利要求3所述的存储设备，其中，所述保证大小大于所述驱动保证温度范围的大小的一半。
5.根据权利要求4所述的存储设备，其中，所述稳定范围对应于其中所述第一温度区段和所述第二温度区段重叠的区域。
6.根据权利要求1所述的存储设备，其中，当数据被多次编程到所述多个存储器块中的每个存储器块时，
7.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述控制器被配置为，当所述温度差小于所述保证大小时，将所述错误块处理为坏块。
8.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述控制器被配置为，当所述温度差大于所述保证大小时，或者当所述错误块的所述编程温度和所述读取尝试温度在驱动保证温度范围之外时，将所述错误块登记为刷新候选块。
9.根据权利要求8所述的存储设备，其中，所述控制器被配置为，当所述存储设备的内部温度落在所述稳定范围内时，以对所述刷新候选块的刷新操作开始，来重新读取编程在所述刷新候选块中的数据。
10.根据权利要求9所述的存储设备，其中，所述控制器被配置为：
11.根据权利要求...
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