【技术实现步骤摘要】
本公开涉及但不限于电子，尤其涉及一种电子设备的测试方法及装置。
技术介绍
1、相关技术中，存储设备的能效(例如，带宽、功耗等)分析是产品分析的重要组成部分，而通过lmbench这个微型测评工具对存储设备进行带宽测试时，存在无法获取不同场景对应的功耗、无法获得任意功耗对应的访问带宽、无法支持不同场景下的能效分析与比对等问题。
技术实现思路
1、本公开实施例至少提供一种电子设备的测试方法及装置。
2、本公开实施例的技术方案是这样实现的：
3、本公开实施例提供一种电子设备的测试方法，所述电子设备包括第一存储设备，所述方法包括：
4、获取第一存储设备在目标场景下的第一参数；其中，所述第一参数包括以下之一：第一带宽、第一功耗；
5、利用第一映射关系，基于所述第一参数，确定第二参数；其中，所述第二参数为第二带宽或第二功耗，所述第二参数的类别不同于所述第一参数的类别，所述第一映射关系表征功耗与带宽之间的关系。
6、本公开实施例提供一种电子设备的测试装置，所述电子设备包括第一存储设备，所述装置包括：
7、获取模块，用于获取第一存储设备在目标场景下的第一参数；其中，所述第一参数包括以下之一：第一带宽、第一功耗；
8、确定模块，用于利用第一映射关系，基于所述第一参数，确定第二参数；其中，所述第二参数为第二带宽或第二功耗，所述第二参数的类别不同于所述第一参数的类别，所述第一映射关系表征功耗与带宽之间的关系。
10、本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法。
11、本公开实施例提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，所述计算机程序被计算机读取并执行时，实现上述方法。
12、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本公开。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电子设备的测试方法，所述电子设备包括第一存储设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述基于所述第一参数，确定第二参数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，所述基于所述第一存储设备的类型和所述第一存储设备的频率值，确定所述第一存储设备的电压值，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，在所述第一参数为所述第一带宽的情况下，所述第二参数为所述第二功耗；
5.根据权利要求2所述的方法，在所述第一参数为所述第一功耗的情况下，所述第二参数为所述第二带宽；
6.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：
7.根据权利要求1所述的方法，所述第一映射关系为：
8.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，所述方法还包括：
10.一种电子设备的测试装置，所述电子设备包括第一存储设备，所述装置包括：
【技术特征摘要】
1.一种电子设备的测试方法，所述电子设备包括第一存储设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述基于所述第一参数，确定第二参数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，所述基于所述第一存储设备的类型和所述第一存储设备的频率值，确定所述第一存储设备的电压值，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，在所述第一参数为所述第一带宽的情况下，所述第二参数为所述第二功耗；
5.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：邱广波，聂志伟，鲁汉洋，
申请(专利权)人：鼎道智芯上海半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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