【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片领域，特别是涉及一种atpg测试向量的调试方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、自动测试向量生成(automatic test pattern generation，atpg)是一种用于生成可以检测数字电路故障的测试向量的方法。对芯片的测试是向一个处于已知状态的待测芯片施加确定的输入激励，并将其得到的输出响应与“理想”的期望响应进行比较，根据比较结果是否一致来判断dut是否存在故障。其中向待测芯片施加的输入激励和“理想”的期望响应构成测试向量，其中测试向量由atpg算法程序自动生成。但是若atpg所产生的测试向量不符合预期时，则无法测试出dut中真正的故障，无法将测试向量用于测试dut。
2、为了验证测试向量的正确性，通常采用verilog仿真工具进行验证，其将测试向量中的激励施加给芯片模型进行仿真，并根据输入激励重新计算输出结果；将verilog仿真工具得到的输出结果与测试向量中“理想”的期望响应进行比对，若对比结果一致，则认为atpg生成的测试向量是正确的；否则，atpg生成的测试向量不正确，也称为测试向量不匹配。
3、通常利用verilog仿真工具中的调试器进行调试查找测试向量不匹配的根源，但是verilog的主要缺点是只有来自verilog仿真数据库的波形数据信号，即只有verilog仿真视图，而没有atpg仿真视图。用户需要分别通过两个不同的工具打开verilog仿真视图和atpg仿真视图，在通过每个工具进行追溯时需要手动将所选信号添加到波形查看器中来查看其值，通过比较两个
技术实现思路
1、针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：
2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种atpg测试向量不匹配的调试方法，所述方法包括如下步骤：
3、s100，atpg解析并加载verilog仿真器生成的第一类仿真数据库，所述第一类仿真数据库保存了verilog仿真器根据测试向量为芯片模型的输入施加激励进行仿真得到的第一类仿真数据信号，所述第一类仿真数据信号包括测试向量和第一类输出响应数据信号；所述测试向量包括激励和期望响应。
4、s200，atpg根据测试向量进行仿真生成第二类仿真数据库，所述第二类仿真数据库保存了第二类仿真数据信号，所述第二类仿真数据信号包括测试向量和输出引脚输出的第二类输出响应数据信号。
5、s300，获取不匹配的测试向量集及每个不匹配的测试向量对应的实例和不匹配的输出引脚，所述不匹配的测试向量集中的测试向量为观测到芯片模型输出引脚输出的第一类输出响应数据信号与测试向量中的期望响应不匹配的测试向量。
6、s400，当用户指定不匹配的测试向量集中的测试向量作为目标测试向量时，获取目标测试向量不匹配的源头，包括：
7、s410，添加观察到不匹配的测试向量的实例，将添加的不匹配的测试向量的实例作为目标实例。
8、s420，从第一类仿真数据库提取所有实例所有引脚的第一类仿真数据信号。
9、s430，从第二类仿真数据库提取所有实例中所有引脚的第二类仿真数据信号。
10、s440，当将同一个引脚的第一类仿真数据信号和第二类仿真数据信号进行比对得到相同的结果时，在可视化窗口的实例电路图中的相应引脚上显示一个数据信号；否则，按照指定的显示格式显示两类不匹配的数据信号。
11、s450，根据目标实例不匹配的输出引脚向前进行溯源得到不匹配的源头。
12、本专利技术至少具有以下有益效果：
13、本专利技术提供的方法能够将verilog仿真数据信号和atpg仿真数据信号合到一个工具中，并在同一可视化窗口中显示两类仿真信号。两类仿真信号之间的不匹配可以在可视化窗口中按照指定格式显示，并且通过跟踪突出显示的信号路径找到不匹配的根源实例。该方法显著提高了溯源效率，实现高效定位。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种ATPG测试向量不匹配的调试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S450还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S450还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在可视化窗口中标记不匹配的跟踪列表中所有实例之间的路径。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，第一类仿真数据库中还包括输入引脚的输入信号和芯片模型内部各个端口上的数据信号；
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S300中不匹配的测试向量、不匹配的测试向量对应的实例和不匹配的输出引脚由verilog仿真器生成。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S450中不匹配的源头为所有输入信号均匹配的实例。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S440中指定的显示格式为红色字体，高亮背景色或者加粗加亮字体。
9.一种非瞬时性计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令或至少一段程序，所述至少一条指令或所述至少一段程序由处理器加载并
10.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和权利要求9中所述的非瞬时性计算机可读存储介质。
...【技术特征摘要】
1.一种atpg测试向量不匹配的调试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，s450还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，s450还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在可视化窗口中标记不匹配的跟踪列表中所有实例之间的路径。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，第一类仿真数据库中还包括输入引脚的输入信号和芯片模型内部各个端口上的数据信号；
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，s300中不匹配的测试向量、不匹配的测试向量对应的实...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐华兴，张攀，刘定文，王星，
申请(专利权)人：成都融见软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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