System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法、设备及电子介质技术_技高网

一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法、设备及电子介质技术

技术编号:44743561 阅读:2 留言:0更新日期:2025-03-26 12:33
本发明专利技术提供一种基于时间‑电流曲线的直流去磁量化方法,所述方法包括以下步骤:在直流去磁过程中,通过电流监测装置获取变压器的时间‑电流变化曲线;标记电流从正值下降至零的交点,并确定这些交点所对应的时间,得到剩磁点;基于每个剩磁点的时间信息,计算每次剩磁占初始剩磁的百分比。本发明专利技术通过电流随时间变化的曲线,能够准确量化直流去磁过程,克服了传统方法无法精确评估去磁效果的不足。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于变压器去磁领域,具体涉及一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法、设备及电子介质


技术介绍

1、变压器在长期运行过程中,常常会产生剩磁,剩磁的存在会对变压器的性能、可靠性及运行效率产生一定影响。现有的去磁方法主要通过直流电流进行去磁处理,但缺乏有效的量化标准,无法精确评估去磁效果,因此难以指导实际操作。

2、现有的去磁效果评估方法多基于剩磁极性判断,但这种方法并不能量化去磁过程,且无法实现精确控制。直流去磁过程的量化仍是变压器维护领域的一个亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,该方法通过实时监测去磁过程中电流随时间变化的曲线,结合变压器的物理特性,量化去磁过程的效果,以便更精准地评估直流去磁效果并优化去磁处理过程。

2、本专利技术的技术方案如下:

3、一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,所述方法包括以下步骤:

4、在直流去磁过程中,通过电流监测装置获取变压器的时间-电流变化曲线;

5、标记电流从正值下降至零的交点,并确定这些交点所对应的时间,得到剩磁点;

6、基于每个剩磁点的时间信息,计算每次剩磁的百分比。

7、进一步地,所述剩磁点为电流从正值减小至零时和横轴的交点,定义为bi点,其中i表示施加反向电压次数。

8、进一步地,所述计算每次剩磁的百分比具体为:

9、读取电流达到正向、反向峰值的时间;

10、根据相邻剩磁点的时间差,计算每次剩磁的变化量;

11、将所有剩磁变化量累加,得到整个去磁过程中磁感应强度的减小量,并通过该减小量计算每次剩磁的百分比。

12、进一步地,所述根据相邻剩磁点的时间差,计算每次剩磁的变化量公式为:

13、|δtj|=(tnj-t0j)+(tnj+1-tpj)-(tpj+1-tnj)

14、其中,δtj表示第j次正向剩磁点到第j+1次正向剩磁点的磁通变化量对应的时间差,tnj为去磁电流第j次达到负向峰值的时间,t0j为去磁电流第j次从正半区衰减到0的时间,tpj为去磁电流第j次达到正向峰值的时间。

15、进一步地,所述将所有剩磁变化量累加,得到整个去磁过程中磁感应强度的减小量公式为:

16、

17、其中,|δtj|表示去磁过程变压器剩磁从bj变化到bj+1的变化量。

18、进一步地,所述通过该减小量计算每次剩磁的百分比公式为:

19、

20、其中,tsum表示初始剩磁br与0之间的差值对应的时间差,δt为使得磁感应强度大小从br上升到bs需要的正向电压时间。

21、进一步地,所述tsum和δt通过变压器磁通达到正、反饱和点需要的反向和正向电压作用的时间得到具体公式为:

22、

23、δt=t2-t1

24、其中,t1为变压器磁通达到正、反饱和点需要的反向电压作用的时间,t2为变压器磁通达到正、反饱和点需要的正向电压作用的时间

25、本专利技术还提供一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行上述的直流去磁量化方法。

26、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质,其存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的直流去磁量化方法。

27、与现有技术相比,本专利技术具有以下优点:

28、本专利技术通过电流随时间变化的曲线,能够准确量化直流去磁过程,克服了传统方法无法精确评估去磁效果的不足。

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【技术保护点】

1.一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述剩磁点为电流从正值减小至零时和横轴的交点,定义为Bi点,其中i表示施加反向电压次数。

3.根据权利要求1所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述计算每次剩磁的百分比具体为:

4.根据权利要求3所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述根据相邻剩磁点的时间差,计算每次剩磁的变化量公式为:

5.根据权利要求3所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述将所有剩磁变化量累加,得到整个去磁过程中磁感应强度的减小量公式为:

6.根据权利要求3所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述通过该减小量计算每次剩磁的百分比公式为:

7.根据权利要求6所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述tsum和Δt通过变压器磁通达到正、反饱和点需要的反向和正向电压作用的时间得到,具体公式为:

8.一种电子设备,其特征在于,包括存储器及处理器,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行根据权利要求1至7中任一项所述的直流去磁量化方法。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的直流去磁量化方法。

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【技术特征摘要】

1.一种基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述剩磁点为电流从正值减小至零时和横轴的交点,定义为bi点,其中i表示施加反向电压次数。

3.根据权利要求1所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述计算每次剩磁的百分比具体为:

4.根据权利要求3所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述根据相邻剩磁点的时间差,计算每次剩磁的变化量公式为:

5.根据权利要求3所述的基于时间-电流曲线的直流去磁量化方法,其特征在于,所述将所有剩磁变化量累加,得到整个去磁过程中磁感应强度的减小量...

【专利技术属性】
技术研发人员:段双明郭明鑫陈令龙孙传玉王浩吕腾飞张兼玮胡智超曲奕臻刘野于志瑜郑羽翊左钦文夏馗峰
申请(专利权)人:东北电力大学
类型:发明
国别省市:

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