【技术实现步骤摘要】
本申请涉及微波开关测试装置，尤其涉及一种通用微波开关测试装置及测试方法。
技术介绍
1、射频微波开关是一种用于控制射频和微波信号的开关装置，广泛用于无线通信系统、雷达、无线传感器网络等领域，用于控制信号的传输、路由和调制。微波开关测试装置与外界测试设备以及外部电源设备连接，共同完成对微波开关性能的测试。微波开关的引脚数量不同，测试项目也各不相同，对于每一种微波开关，需要配备一套与之匹配的测试装置，增加了测试的复杂性，从而降低了测试效率。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种通用微波开关测试装置及测试方法，以解决目前微波开关测试装置不能通用从而增加了测试难度的问题。
2、基于上述目的，本申请提供了一种通用微波开关测试装置，包括：
3、测试pcb板，所述测试pcb板上设有多条线路，微波开关设在所述测试pcb板上，至少部分所述线路连接微波开关引脚，以对不同引脚数量的微波开关进行测试；
4、测试底座，用以安装测试pcb板。
5、可选的，还包括测试夹具，所述测试夹具包括安装座和压接组件，所述测试底座和所述压接组件均连接在安装座上，所述压接组件用以固定微波开关。
6、可选的，所述压接组件包括竖杆、横杆、驱动件和压块，所述竖杆与安装座固定连接，所述横杆与所述竖杆顶部固定连接，所述驱动件固定连接在所述横杆上且其输出轴贯穿横杆，所述压块与所述驱动件的输出轴连接，所述压块抵接微波开关。
7、可选的，所述测试底座底部
8、可选的，所述预留槽的槽底设有第一安装板，所述第一安装板上设有连接孔，以便所述第一安装板与所述安装座连接。
9、可选的，所述线路包括射频线路、控制线路和供电线路。
10、可选的，所述安装座的侧壁上连接有多个sma接头，用以连接所述pcb板上的射频线路和外部测试设备。
11、可选的，所述测试pcb板上焊接有多个接线端子，所述控制线路和所述供电线路通过所述接线端子连接外部电源设备。
12、基于同一专利技术构思，本公开还提供了一种通用微波开关测试方法，应用于上述测试装置，包括以下步骤：
13、测试pcb板安装在测试底座上；
14、微波开关放置在测试pcb板上，根据测试需求，微波开关目标引脚连接pcb板的目标线路；
15、目标线路连接外部测试设备和外部电源设备，测试微波开关性能。
16、从上面所述可以看出，本申请提供一种通用微波开关测试装置，包括pcb板和测试底座，测试底座用以安装测试pcb板，测试pcb板上设有多条线路，至少部分所述线路连接微波开关引脚，以对不同引脚数量的微波开关进行测试，即测试pcb板上的线路丰富能够满足多种微波开关的测试需求，从而扩展该微波开关测试装置的适用范围，提高测试效率。
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1.一种通用微波开关测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，还包括测试夹具(3)，所述测试夹具(3)包括安装座(31)和压接组件(32)，所述测试底座(2)和所述压接组件(32)均连接在安装座(31)上，所述压接组件(32)用以固定微波开关。
3.根据权利要求2所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述压接组件(32)包括竖杆(321)、横杆(322)、驱动件(323)和压块(324)，所述竖杆(321)与安装座(31)固定连接，所述横杆(322)与所述竖杆(321)顶部固定连接，所述驱动件(323)固定连接在所述横杆(322)上且其输出轴贯穿横杆(322)，所述压块(324)与所述驱动件(323)的输出轴连接，所述压块(324)抵接微波开关。
4.根据权利要求2所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述测试底座(2)底部开设有预留槽(21)，所述测试底座(2)的侧壁开设有多个与所述预留槽(21)连通的安装槽(22)。
5.根据权利要求4所述的一种通用微波开关测试装置，
6.根据权利要求5所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述线路(11)包括射频线路、控制线路和供电线路。
7.根据权利要求6所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述安装座(31)的侧壁上连接有多个SMA接头，用以连接所述测试PCB板(1)上的射频线路和外部测试设备。
8.根据权利要求6所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述测试PCB板(1)上焊接有多个接线端子，所述控制线路和所述供电线路通过所述接线端子连接外部电源设备。
9.一种通用微波开关测试方法，应用于权利要求1-8任一项所述的测试装置，包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种通用微波开关测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，还包括测试夹具(3)，所述测试夹具(3)包括安装座(31)和压接组件(32)，所述测试底座(2)和所述压接组件(32)均连接在安装座(31)上，所述压接组件(32)用以固定微波开关。
3.根据权利要求2所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述压接组件(32)包括竖杆(321)、横杆(322)、驱动件(323)和压块(324)，所述竖杆(321)与安装座(31)固定连接，所述横杆(322)与所述竖杆(321)顶部固定连接，所述驱动件(323)固定连接在所述横杆(322)上且其输出轴贯穿横杆(322)，所述压块(324)与所述驱动件(323)的输出轴连接，所述压块(324)抵接微波开关。
4.根据权利要求2所述的一种通用微波开关测试装置，其特征在于，所述测试底座(2)底部开设有预留槽(21)，所述测试底座...
【专利技术属性】
技术研发人员：马博，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：
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