【技术实现步骤摘要】
本申请一般涉及图像处理。更具体地，本申请涉及一种灯珠缺陷检测方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、miniled面板是一种新型显示技术，它是传统lcd屏幕的升级版，通过使用更小的led背光灯珠来提升显示效果。miniled背光技术将传统lcd原本50颗led灯珠上升至1-2万颗，极大地提升了单位面积下的背光灯珠密度，实现更加细腻的显示效果。
2、然而，miniled面板在生产过程中可能会出现各种缺陷，主要为miniled面板灯珠点亮时存在的缺陷，具体可以包含灯珠过亮、灯珠过暗、灯珠熄灭和灯珠并亮等的缺陷。为了准确检测上述灯珠缺陷，需要对灯珠进行精准定位以输出异常灯珠的行列坐标，并且需要对分别点亮的rgb灯珠进行位置合并，从而有利于对灯珠缺陷情况进行分类。
3、有鉴于此，亟需提供一种灯珠缺陷检测方法，以便提升灯珠缺陷的检测精度，对灯珠缺陷情况进行有效分类，提高miniled面板的生产质量。
技术实现思路
1、为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题，本申请在多个方面中提出了灯珠缺陷检测方法、电子设备及存储介质。该灯珠缺陷检测方法能够提升灯珠缺陷的检测精度，对灯珠缺陷情况进行有效分类，提高miniled面板的生产质量。
2、在第一方面中，本申请提供一种灯珠缺陷检测方法，包括：获取待检测面板的灯珠点亮图像；基于灯珠点亮图像确定点亮灯珠二值图；基于点亮灯珠二值图确定每一灯珠的灯珠像素坐标；根据每一灯珠的灯珠像素坐标分别将灯珠点亮图像中相邻的rgb灯
3、在一些实施例中，基于灯珠点亮图像确定点亮灯珠二值图包括：基于灯珠点亮图像确定灯珠响应图；基于灯珠响应图确定点亮灯珠二值图。
4、在一些实施例中，基于灯珠点亮图像确定灯珠响应图包括：根据第一分割阈值对灯珠点亮图像进行阈值分割，得到灯珠感兴趣区域图像；对灯珠感兴趣区域图像进行角度校正处理，得到检测校正图像；通过形态学顶帽对检测校正图像进行处理，得到灯珠响应图。
5、在一些实施例中，基于灯珠响应图确定点亮灯珠二值图包括：根据第二分割阈值对灯珠响应图进行阈值分割，得到二值化图像；根据预设灯珠长度和预设灯珠面积对二值化图像中的亮点进行筛除，得到点亮灯珠二值图。
6、在一些实施例中，基于点亮灯珠二值图确定每一灯珠的灯珠像素坐标包括：搜索点亮灯珠二值图中的闭合区域；确定每一闭合区域对应的中心点坐标，并将每一闭合区域对应的中心点坐标确定为每一点亮灯珠的灯珠像素坐标；对点亮灯珠二值图进行形态学开操作，得到开操作图像并基于开操作图像确定灯珠列边缘距离和灯珠行边缘距离；根据每一点亮灯珠的灯珠像素坐标、灯珠列边缘距离、灯珠行边缘距离、预设灯珠列间距和预设灯珠行间距确定每一熄灭灯珠的灯珠像素坐标；基于每一点亮灯珠的灯珠像素坐标和每一熄灭灯珠的灯珠像素坐标确定每一灯珠的灯珠像素坐标。
7、在一些实施例中，分别确定每一灯珠组合网格对应的灯珠特征信息包括：分别确定每一灯珠组合网格对应的灯珠平均灰度值；并且分别确定每一灯珠组合网格对应的闭合区域数量。
8、在一些实施例中，基于每一灯珠组合网格对应的灯珠特征信息确定每一灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型包括：根据每一灯珠组合网格对应的灯珠平均灰度值和每一灯珠组合网格对应的闭合区域数量确定每一灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型。
9、在一些实施例中，根据每一灯珠组合网格对应的灯珠平均灰度值和每一灯珠组合网格对应的闭合区域数量确定每一灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型包括：若灯珠组合网格对应的闭合区域数量为0，则确定灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型为灯珠熄灭；若灯珠组合网格对应的闭合区域数量为1，则将灯珠组合网格对应的闭合区域尺寸与灯珠尺寸上限值进行比较，且若灯珠组合网格对应的闭合区域尺寸大于灯珠尺寸上限值，则确定灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型为灯珠并亮；若灯珠组合网格对应的闭合区域数量大于1，则确定灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型为灯珠并亮；若灯珠组合网格对应的灯珠平均灰度值小于灯珠灰度下限值，则确定灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型为灯珠过暗；若灯珠组合网格对应的灯珠平均灰度值大于灯珠灰度上限值，则确定灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型为灯珠过亮。
10、在第二方面中，本申请提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，其上存储有用于灯珠缺陷检测的程序代码，当所述程序代码被所述处理器执行时，使所述电子设备实现如上所述的方法。
11、在第三方面中，本申请提供一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有用于灯珠缺陷检测的程序代码，当所述程序代码由处理器执行时，能够实现如上所述的方法。
12、本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：
13、本申请提供的灯珠缺陷检测方法、电子设备及存储介质，通过获取待检测面板的灯珠点亮图像，进而基于灯珠点亮图像确定点亮灯珠二值图，进而基于点亮灯珠二值图确定每一灯珠的灯珠像素坐标，从而实现对每一灯珠进行准确定位。
14、进一步地，本申请能够根据每一灯珠的灯珠像素坐标分别将灯珠点亮图像中相邻的rgb灯珠合并为每一灯珠组合网格，进而分别确定每一灯珠组合网格对应的灯珠特征信息，为每一灯珠组合网格的灯珠缺陷分类提供有效特征信息。进而基于每一灯珠组合网格对应的灯珠特征信息确定每一灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型，从而能够精准确定待检测面板上每一个位置上的灯珠缺陷类型，有利于快速针对于相应的灯珠缺陷类型来提供有效的缺陷解决方案。
15、总的来说，本申请能够提升灯珠缺陷的检测精度，对灯珠缺陷情况进行有效分类，提高miniled面板的生产质量。
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1.一种灯珠缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述灯珠点亮图像确定点亮灯珠二值图包括：
3.根据权利要求2所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述灯珠点亮图像确定灯珠响应图包括：
4.根据权利要求2所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述灯珠响应图确定所述点亮灯珠二值图包括：
5.根据权利要求1所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述点亮灯珠二值图确定每一灯珠的灯珠像素坐标包括：
6. 根据权利要求1所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述分别确定每一灯珠组合网格对应的灯珠特征信息包括：
7.根据权利要求6所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于每一灯珠组合网格对应的灯珠特征信息确定每一灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型包括：
8.根据权利要求7所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述根据每一灯珠组合网格对应的灯珠平均灰度值和每一灯珠组合网格对应的闭合区域数量确定每一灯珠组合网格对应的灯珠缺陷类型包括：
<...【技术特征摘要】
1.一种灯珠缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述灯珠点亮图像确定点亮灯珠二值图包括：
3.根据权利要求2所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述灯珠点亮图像确定灯珠响应图包括：
4.根据权利要求2所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述灯珠响应图确定所述点亮灯珠二值图包括：
5.根据权利要求1所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述点亮灯珠二值图确定每一灯珠的灯珠像素坐标包括：
6. 根据权利要求1所述的灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述分别确定每...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：高视科技苏州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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