【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，特别是涉及一种基于嵌入式芯片的自动化设计方法及装置。
技术介绍
1、基于嵌入式芯片，对自测试、自诊断软件的研发，不仅依赖系统板卡功能硬件中自测试、自诊断硬件电路的实现，而且依赖于开发人员的经验，以及对嵌入式芯片的功能的理解。
2、而随着集成电路技术的发展，系统板卡上的功能不断增多，其电路规模和电路复杂度不断增加，导致系统板卡功能硬件中自测试、自诊断的软件开发难度、开发时间和开发成本显著增大，从而降低了系统板卡功能硬件中自测试、自诊断的软件的开发效率。
3、因此，如何提高系统板卡功能硬件中自测试、自诊断的软件的开发效率，是本申请亟需解决的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供一种基于嵌入式芯片的自动化设计方法及装置，实现系统板卡功能硬件电路的自测试、自诊断软件开发自动化，从而提高系统板卡功能硬件中自测试、自诊断的软件的开发效率，缩短设计周期，降低开发成本。
2、为了实现上述目的，其公开的技术方案如下：
3、本申请第一方面公开了一种基于嵌入式芯片的自动化设计方法，所述方法包括：
4、获取电路信号流；
5、通过所述电路信号流，对系统板卡功能硬件电路进行分析，得到自测试诊断电路；
6、根据所述自测试诊断电路，生成嵌入式芯片的控制功能硬件测试程序和嵌入式芯片的诊断程序；所述嵌入式芯片的诊断程序用于对待测器件进行诊断。
7、优选的，通过所述电路信号流对系统板卡功能
8、确定所述电路信号流对应的电路分析起点的类型；
9、若所述电路分析起点的类型为以嵌入式芯片作为电路分析起点的类型，通过嵌入式芯片作为电路分析起点的类型的电路信号流，对系统板卡功能硬件电路进行分析；
10、若所述电路分析起点的类型为以待测器件的管脚作为电路分析起点的类型，通过待测器件的管脚作为电路分析起点的类型的电路信号流，对所述系统板卡功能硬件电路进行分析。
11、优选的，待测器件的确定过程，包括：
12、若所述电路分析起点的类型为以嵌入式芯片作为电路分析起点的类型，根据嵌入式芯片的输出端口，确定与所述输出端口连接的状态控制寄存器；
13、根据所述状态控制寄存器，确定所述状态控制寄存器控制的模拟多路选择器；
14、根据所述模拟多路选择器，确定与模拟多路选择器的输入端所连接的模拟信号节点；
15、确定与所述模拟信号节点连接的器件，并判断该器件是否为待测器件；
16、若该器件为待测器件，将所述待测器件确定为系统板卡功能硬件电路的待测器件。
17、优选的，待测器件的确定过程，包括：
18、若所述电路分析起点的类型为以嵌入式芯片作为电路分析起点的类型，根据嵌入式的输出端口，确定与所述输出端口连接的状态控制寄存器；
19、根据所述状态控制寄存器，确定所述状态控制寄存器控制的数字多路选择器；
20、根据所述数字多路选择器，确定与数字多路选择器的输入端所连接的数字信号节点；
21、确定与所述数字信号节点连接的器件，并判断该器件是否为待测器件；
22、若该器件为待测器件，将所述待测器件确定为系统板卡功能硬件电路的待测器件。
23、优选的，所述通过所述电路信号流，对系统板卡功能硬件电路进行分析，得到自测试诊断电路，包括：
24、通过模拟信号节点连接的待测器件，获取模拟信号待测节点电平的自测试诊断电路以及模拟信号待测节点电平的取样量化的自测试诊断电路；
25、通过数字信号节点连接的待测器件，获取数字信号待测节点的逻辑电平自测试诊断电路和数字信号待测节点的逻辑电平取样的自测试诊断电路。
26、优选的，还包括：
27、根据模拟多路选择器的输出端，确定与模拟多路选择器的输出端连接的模拟-数字转换器；
28、确定模拟-数字转换器的输出端所连接的嵌入式芯片的输入端；
29、根据数字多路选择器的输出端，确定与所述数字多路选择器的输出端连接的嵌入式芯片的输入端。
30、优选的，还包括：
31、根据所述数字多路选择器的输入端，确定与数字多路选择器的输出端连接的电平位移电路。
32、优选的，还包括：
33、确定与模拟多路选择器的输入端连接的放大器的输出端和程控增益放大器。
34、优选的，还包括：
35、获取待测器件的管脚所对应的模拟信号待测节点量化值；
36、通过预先构建的诊断模型，对所述模拟信号待测节点量化值进行计算，得到计算结果；
37、根据所述计算结果判断待测器件是否正常。
38、本申请第二方面公开了一种基于嵌入式芯片的自动化设计装置，所述装置包括：
39、第一获取单元，用于获取电路信号流；
40、分析单元，用于通过所述电路信号流，对系统板卡功能硬件电路进行分析，得到自测试诊断电路；
41、生成单元，用于根据所述自测试诊断电路，生成嵌入式芯片的控制功能硬件测试程序和嵌入式芯片的诊断程序；所述嵌入式芯片的诊断程序用于对待测器件进行诊断。
42、经由上述技术方案可知，本申请公开了一种基于嵌入式芯片的自动化设计方法及装置，获取电路信号流，通过电路信号流，对系统板卡功能硬件电路进行分析，得到自测试诊断电路，根据自测试诊断电路，生成嵌入式芯片的控制功能硬件测试程序和嵌入式芯片的诊断程序，嵌入式芯片的诊断程序用于对待测器件进行诊断。通过上述方案，无需依赖开发人员的经验，只需对系统板卡功能硬件电路进行分析，提取出其中的自测试诊断电路，根据自测试诊断电路自动生成嵌入式芯片的控制功能硬件测试程序和嵌入式芯片的诊断程序，以实现系统板卡功能硬件电路的自测试、自诊断软件开发自动化，从而提高系统板卡功能硬件中自测试、自诊断的软件的开发效率，缩短设计周期，降低开发成本。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种基于嵌入式芯片的自动化设计方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述电路信号流对系统板卡功能硬件电路进行分析的过程，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，待测器件的确定过程，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，待测器件的确定过程，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述电路信号流，对系统板卡功能硬件电路进行分析，得到自测试诊断电路，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：
7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，还包括：
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
10.一种基于嵌入式芯片的自动化设计装置，其特征在于，所述装置包括：
【技术特征摘要】
1.一种基于嵌入式芯片的自动化设计方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述电路信号流对系统板卡功能硬件电路进行分析的过程，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，待测器件的确定过程，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，待测器件的确定过程，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴玉平，李志强，孙旭，游涌，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。