【技术实现步骤摘要】
本技术涉及固态硬盘测试领域,尤其是涉及一种用于ssd存储装置的测试座。
技术介绍
1、在现有功能测试座使用过程中,在对ssd固态硬盘(solid state disk或solidstate drive,简称ssd以下均称ssd)进行功能测试家部件就时会用到测试座,目前市场较多的测试厂家使用的测试座是工业品测试座,虽然功能可以满足测试要求,但是在测试寿命方面有很大缺陷,同时在大批量测试时使用不方便。
2、在进行测试座组装过程中,测试座上配置有若干弹性探针,但是在组装过程中,由于弹性探针数量较大,人工插设弹性探针过程容易出现弹性探针歪斜、位置偏差等现象,影响测试效果的,且由于测试座内部空间较小,很难对弹性探针进行多种调整,导致整体组装效率较慢。
技术实现思路
1、为解决上述问题,本技术提出了一种结构简单,有效提高组装效率的用于ssd存储装置的测试座。
2、本技术的主要内容包括:基座、底座和若干弹性探针,
3、所述基座包括一体设置的基座本体和分隔板,所述分隔板对应设置于所述基座本体的中部且沿所述基座本体的长度方向水平延伸,所述基座本体的上端面中部开设有向下贯通至所述分隔板的上端面的第一插槽,所述基座本体的下端面中部开设有向上贯通至所述分隔板的下端面的第二插槽,所述第一插槽的两侧开设有两排容置槽,单个所述容置槽沿所述基座本体的厚度方向延伸并贯穿至所述第二插槽的两侧,所述容置槽分别与所述第一插槽和第二插槽相连通,所述隔板两侧对应所述容置槽位置处开设有两排挤
4、单个所述弹性探针包括探针安装部,所述探针安装部过盈安装于所述容置槽内;
5、所述底座包括底板和配置于所述底板的上端面两侧的两排插板,所述底板插设于所述第二插槽内时,所述插板对应插设于所述挤压槽中且与所述探针安装部相互抵接。
6、优选地,所述探针安装部包括直立设置的安装本体,所述安装本体的下端配置有至少一组倒刺结构,所述容置槽对应所述挤压槽位置处开设有容置腔,所述倒刺结构可对应过盈配合于所述容置腔内。
7、优选地,所述探针安装部沿长度方向的一端配置有第一测试部和第二测试部,所述第一测试部包括弯折形成的第一测试尖端,用于与ssd的金手指电接触,所述第一测试尖端延伸至所述第一插槽内,所述第二测试部包括弯折形成的第二测试尖端,用于与pcb板的焊盘电接触,所述第二测试尖端延伸至所述基座本体的下方。
8、优选地,所述基座本体的下端面对应所述第二插槽的两侧开设有两排接纳槽,单个所述接纳槽沿所述基座本体的宽度方向延伸且与所述容置槽相连通,所述第二测试部延伸设置在所述接纳槽内。
9、优选地,所述基座本体的上端面对应所述第一插槽的两侧开设有两排避让槽,单个所述避让槽沿所述基座本体的宽度方向延伸且未贯穿所述基座本体,所述避让槽与所述容置槽相连通。
10、优选地,所述插板上端对应设置有倒角结构。
11、优选地,单个所述弹性探针由一体成型且厚度均匀的板体经折弯后形成。
12、优选地,所述基座上还设置有定位体,所述定位体沿所述基座的宽度方向横向设置且贯穿所述第一插槽。
13、优选地,所述基座的底部两端设置有定位销和固定螺栓孔,所述定位销与pcb板上端的定位销孔相适配,通过固定螺栓将所述基座锁紧于pcb板上。
14、本技术的有益效果在于:利用底座插板与弹性探针的安装本体相抵接,将弹性探针限制于容置槽与插板之间,限制弹性探针水平方向上的移动,再利用弹性探针上的倒刺结构,辅助引导弹性探针的移动轨迹,确保弹性探针在装配过程中不会产生位置的偏差,有效提高测试座的组装效率。
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1.一种用于SSD存储装置的测试座,其特征在于,主要包括:
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【技术特征摘要】
1.一种用于ssd存储装置的测试座,其特征在于,主要包括:
2.根据权利要求1所述的一种用于ssd存储装置的测试座,其特征在于,
3.根据权利要求1所述的一种用于ssd存储装置的测试座,其特征在于,
4.根据权利要求3所述的一种用于ssd存储装置的测试座,其特征在于,
5.根据权利要求3所述的一种用于ssd存...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨晓华,石光普,史先映,
申请(专利权)人:苏州英世米半导体技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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