【技术实现步骤摘要】
本公开涉及计算机，尤其涉及一种质量确定方法、装置。
技术介绍
1、随着科学技术的发展，闪存技术被应用于电子领域。其中，为了保证存储芯片的质量，可以对存储芯片进行质量测试，并将质量测试结果存储与整机的普通分区内。当普通分区内的数据被擦除时，存储芯片的不良记录也会被清除，使得不良存储芯片无法确定。
技术实现思路
1、本公开提供一种质量确定方法、装置，以提高通用闪存存储器的质量确定的可执行性和准确性，减少不良通用闪存存储器流出的概率。本公开的技术方案如下：
2、根据本公开实施例的第一方面，提供一种质量确定方法，包括：
3、发送查询请求至所述通用闪存存储器；
4、接收所述通用闪存存储器针对所述查询请求发送的原始设备制造商标识，其中，所述原始设备制造商标识包括信息集合；
5、在所述信息集合包括所述通用闪存存储器对应的失败记录信息的情况下，确定所述通用闪存存储器的质量不满足质量要求，其中，所述失败记录信息用于指示所述通用闪存存储器未通过质量测试。
6、根据一些实施例，所述方法还包括：
7、在所述通用闪存存储器所属电子设备处于整机测试阶段的情况下，对所述通用闪存存储器进行验收测试，获取验收测试结果；
8、在所述验收测试结果指示所述通用闪存存储器验收测试失败的情况下，将所述验收测试结果对应的第一结果标识和第一存储标识存储至所述电子设备的预设分区，其中，所述第一存储标识用于指示未对所述验收测试结果进行测试检验。>
9、根据一些实施例，所述方法还包括：
10、在所述电子设备处于测试检验阶段的情况下，获取所述预设分区中的所述验收测试结果和所述第一存储标识；
11、在所述第一结果标识为验收失败标识，且所述第一存储标识为预设存储标识的情况下，获取所述通用闪存存储器对应的原始设备制造商标识的读写信息；
12、在所述读写信息指示所述通用闪存存储器支持写操作的情况下，将失败记录信息写入所述通用闪存存储器的原始设备制造商标识内，其中，所述失败记录信息包括所述验收测试结果。
13、根据一些实施例，在所述将所述验收测试结果写入所述通用闪存存储器的原始设备制造商标识内之后，还包括：
14、将所述第一存储标识设置为第二存储标识，其中，所述第二存储标识用于指示完成针对所述验收测试结果的测试检验，且所述失败记录信息存储至所述通用闪存存储器的原始设备制造商标识内。
15、根据一些实施例，在所述获取所述通用闪存存储器对应的原始设备制造商标识的读写信息之后，还包括：
16、在所述读写信息指示所述通用闪存存储器不支持写操作的情况下，将所述第一存储标识设置为第三存储标识，其中，所述第三存储标识用于指示完成针对所述验收测试结果的测试检验，且所述失败记录信息未存储至所述通用闪存存储器的原始设备制造商标识内。
17、根据一些实施例，所述发送查询请求至所述通用闪存存储器，包括：
18、在通用闪存存储器中预设分区的数据清除的情况下，发送第一查询请求至所述通用闪存存储器；
19、和/或
20、在所述通用闪存存储器所述电子设备处于开机阶段的情况下，发送第二查询请求至所述通用闪存存储器。
21、根据一些实施例，在所述确定所述通用闪存存储器的质量不满足质量要求之后，还包括：
22、发出警告信息，其中，所述警告信息用于指示所述通用闪存存储器的质量不满足质量要求。
23、根据本公开实施例的第二方面，提供一种质量确定装置，包括：
24、请求发送单元，用于发送查询请求至所述通用闪存存储器；
25、标识接收单元，用于接收所述通用闪存存储器针对所述查询请求发送的原始设备制造商标识，其中，所述原始设备制造商标识包括信息集合；
26、质量确定单元，用于在所述信息集合包括所述通用闪存存储器对应的失败记录信息的情况下，确定所述通用闪存存储器的质量不满足质量要求，其中，所述失败记录信息用于指示所述通用闪存存储器未通过质量测试。
27、根据本公开实施例的第三方面，提供一种电子设备，包括：
28、处理器；
29、用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
30、其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现前述一方面中任一项所述的质量确定方法。
31、根据本申请的第四方面，提供了一种存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行前述一方面中任一项所述的质量确定方法。
32、根据本申请的第五方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现前述一方面中任一项所述的方法。
33、本公开的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果：
34、在一些或者相关实施例中，通过发送查询请求至所述通用闪存存储器；接收所述通用闪存存储器针对所述查询请求发送的原始设备制造商标识，其中，所述原始设备制造商标识包括信息集合；在所述信息集合包括所述通用闪存存储器对应的失败记录信息的情况下，确定所述通用闪存存储器的质量不满足质量要求，其中，所述失败记录信息用于指示所述通用闪存存储器未通过质量测试。原始设备制造商标识中的数据不会由于整机分区中数据的擦除而清除，因此根据原始设备制造商标识中信息集合确定通用闪存存储器的质量是否满足质量要求，可以减少分区数据擦除无法确定通用闪存存储器的质量的情况，可以提高通用闪存存储器的质量确定的可执行性和准确性，减少不良通用闪存存储器流出的概率，提高设备使用的安全性。
35、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
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1.一种质量确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述将所述验收测试结果写入所述通用闪存存储器的原始设备制造商标识内之后，还包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述获取所述通用闪存存储器对应的原始设备制造商标识的读写信息之后，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述发送查询请求至所述通用闪存存储器，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述通用闪存存储器的质量不满足质量要求之后，还包括：
8.一种质量确定装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行如权利要求1至7中任一项所述的质量确定方法。
【技术特征摘要】
1.一种质量确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述将所述验收测试结果写入所述通用闪存存储器的原始设备制造商标识内之后，还包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述获取所述通用闪存存储器对应的原始设备制造商标识的读写信息之后，还包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：高山，郭慧，胡廷贤，张颖美，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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