一种高寿命双头测试探针制造技术

本技术公开了一种高寿命双头测试探针，包括针管，所述针管于两端分别螺旋有圆筒，且圆筒的内壁、针管外壁设有相契合的螺纹，所述圆筒于外端分别开设有开口，且针头穿插于开口内。该高寿命双头测试探针的圆筒通过针管与针头构成螺旋滑动结构，且圆筒与针管构成螺旋锁紧结构，从而于针头工作过程中通过可滑动的圆筒对针头后端进行防护，进而避免检测过程中针头整体受外界环境影响，该装置的滑块通过固定板、第二弹性限位块穿插于限位孔内与防护盖构成弹性卡合限位结构，且固定架通过滑块于滑槽内与防护盖构成滑动结构，从而通过可滑动的清洁棉及时对针头进行清洁工作，进而避免杂质于针头上停留过久不便进行清理。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试探针，具体为一种高寿命双头测试探针。

技术介绍

1、测试探针，是应用于电子测试中测试pcba的一种测试仪器，测试探针的质量主要体现在材质、镀层、弹簧、套管的直径精度及制作工艺上。于电子元件使用过程中，为对其电流、信号传送等情况进行检测，于是使用测试探针与其进行连接检测。

2、而测试探针于使用过程中，通过探针接触待测物，从而对其进行信号传导，以便完成各类电子元件的检测，而现有测试探针于使用过程中，针头无法及时进行清洁，且针头于清洁时需要进行拆卸，从而容易导致针头受损，进而降低其使用寿命。为此，提出一种高寿命双头测试探针以解决上述问题。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种高寿命双头测试探针，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的测试探针于使用过程中，针头无法及时进行清洁，且针头于清洁时需要进行拆卸，从而容易导致针头受损，进而降低其使用寿命的问题。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种高寿命双头测试探针，包括针管，所述针管于两端分别设有针头，所述针管于两端分别螺旋有圆筒，且圆筒的内壁、针管外壁设有相契合的螺纹，所述圆筒于外端分别开设有开口，且针头穿插于开口内；

3、所述开口的外圈于圆筒上分别开设有活动槽，且活动槽于内部分别穿插有卡合杆，所述卡合杆于外侧分别设有第一弹性限位块，且圆筒于外壁对应开设有多组限位孔，所述第一弹性限位块穿插于限位孔内，所述卡合杆于另一端设有防护盖，且防护盖于前、后方分别开设有滑槽，所述滑槽内穿插有滑块，且滑块的上、下方于防护盖上分别设有固定板，所述滑块于上、下方外壁分别设有第二弹性限位块，且固定板上对应开设有限位孔，所述滑块的下端于防护盖内设有固定架，且固定架于内部卡合有清洁棉；

4、所述防护盖于上、下方内壁分别设有固定壳，且固定壳于内部设有加热管，所述加热管的一端于防护盖的外端设有接线口，且接线口上连接导线。

5、优选的，所述圆筒通过针管与针头构成螺旋滑动结构，且圆筒与针管构成螺旋锁紧结构。

6、优选的，所述防护盖通过卡合杆于活动槽内与圆筒构成旋转结构，且防护盖通过卡合杆、第一弹性限位块穿插于限位孔内与圆筒构成弹性卡合限位结构。

7、优选的，所述滑块通过固定板、第二弹性限位块穿插于限位孔内与防护盖构成弹性卡合限位结构，且固定架通过滑块于滑槽内与防护盖构成滑动结构。

8、优选的，所述加热管通过接线口于固定壳内与导线形成电性连接结构。

9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：该高寿命双头测试探针的圆筒通过针管与针头构成螺旋滑动结构，且圆筒与针管构成螺旋锁紧结构，从而于针头工作过程中通过可滑动的圆筒对针头后端进行防护，进而避免检测过程中针头整体受外界环境影响，该装置的滑块通过固定板、第二弹性限位块穿插于限位孔内与防护盖构成弹性卡合限位结构，且固定架通过滑块于滑槽内与防护盖构成滑动结构，从而通过可滑动的清洁棉及时对针头进行清洁工作，进而避免杂质于针头上停留过久不便进行清理，该装置的加热管通过接线口于固定壳内与导线形成电性连接结构，从而于针头清洁过程中通过加热管对部分较难清理的杂质进行加热，进而保证该装置对针头的清理效率。

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【技术保护点】

1.一种高寿命双头测试探针，包括针管（1），所述针管（1）于两端分别设有针头（2），其特征在于：所述针管（1）于两端分别螺旋有圆筒（3），且圆筒（3）的内壁、针管（1）外壁设有相契合的螺纹，所述圆筒（3）于外端分别开设有开口，且针头（2）穿插于开口内；

2.根据权利要求1所述的一种高寿命双头测试探针，其特征在于：所述圆筒（3）通过针管（1）与针头（2）构成螺旋滑动结构，且圆筒（3）与针管（1）构成螺旋锁紧结构。

3.根据权利要求1所述的一种高寿命双头测试探针，其特征在于：所述防护盖（7）通过卡合杆（5）于活动槽（4）内与圆筒（3）构成旋转结构，且防护盖（7）通过卡合杆（5）、第一弹性限位块（6）穿插于限位孔内与圆筒（3）构成弹性卡合限位结构。

4.根据权利要求1所述的一种高寿命双头测试探针，其特征在于：所述滑块（10）通过固定板（11）、第二弹性限位块（12）穿插于限位孔内与防护盖（7）构成弹性卡合限位结构，且固定架（8）通过滑块（10）于滑槽内与防护盖（7）构成滑动结构。

5.根据权利要求1所述的一种高寿命双头测试探针，其特征在于：所述加热管（14）通过接线口（15）于固定壳（13）内与导线形成电性连接结构。

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【技术特征摘要】

1.一种高寿命双头测试探针，包括针管（1），所述针管（1）于两端分别设有针头（2），其特征在于：所述针管（1）于两端分别螺旋有圆筒（3），且圆筒（3）的内壁、针管（1）外壁设有相契合的螺纹，所述圆筒（3）于外端分别开设有开口，且针头（2）穿插于开口内；

2.根据权利要求1所述的一种高寿命双头测试探针，其特征在于：所述圆筒（3）通过针管（1）与针头（2）构成螺旋滑动结构，且圆筒（3）与针管（1）构成螺旋锁紧结构。

3.根据权利要求1所述的一种高寿命双头测试探针，其特征在于：所述防护盖（7）通过卡合杆（5）于活动...

【专利技术属性】
技术研发人员：季林霞，
申请(专利权)人：昆山千八子电子有限公司，
类型：新型
国别省市：