【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及有机发光，尤其涉及一种发光大屏。
技术介绍
1、发光屏，被动矩阵有机电激发光二极管(passive matrix oled，pmoled)发光屏因具有结构简单、制造成本低、响应速度快以及节能等优势被广泛使用。
2、pmoled发光屏在制造过程中，因为发光层采用蒸镀工艺制作，蒸镀过程中不可避免的会引入一些细小的缺陷，导致pmoled发光屏生产良率较低。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种发光大屏，以提高生产良率。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种发光大屏，包括：
3、基板以及设置于基板同一侧的至少两个阵列排布的发光屏；每一发光屏包括发光区和环绕所述发光区的非发光区，所述发光区包括依次层叠设置的第一电极层、发光层和第二电极层，所述第一电极层设置于所述发光层邻近所述基板的一侧；所述第一电极层包括多个沿第一方向依次排列的第一电极，所述第一电极沿第二方向延伸；所述第二电极层包括多个沿第二方向依次排列的第二电极，所述第二电极沿第一方向延伸；其中，所述第一方向和所述第二方向相互交叉；
4、每一所述发光屏的非发光区设置有第一测试引脚和第二测试引脚，所述第一测试引脚和与所述发光屏相邻的发光屏的第一电极电连接，所述第二测试引脚和与所述发光屏相邻的发光屏的第二电极电连接。
5、可选的，所述非发光区包括第一非发光区和第二非发光区，所述第一非发光区和所述第二非发光区沿第二方向位于所述发光区的两侧；所述第二非发光区包括邦定区；
6、所述第一测试引脚位于所述第一非发光区和/或所述第二非发光区；
7、所述第二测试引脚位于所述第一非发光区和/或所述第二非发光区。
8、可选的，所述第一测试引脚位于所述第二非发光区，所述第二测试引脚位于所述第一非发光区，或者，所述第一测试引脚位于所述第二非发光区，部分所述第二测试引脚位于所述第一非发光区，部分所述第二测试引脚位于所述第二非发光区。
9、可选的，所述发光屏的第一非发光区包括多个第一测试引线，每一第一测试引线的一端与一个第一电极电连接，每一第一测试引线由第一非发光区延伸至相邻的发光屏的第二非发光区，与位于相邻的发光屏的第二非发光区的第一测试引脚电连接；
10、所述邦定区包括多个第二邦定引脚，多个所述第二电极与所述第二邦定引脚一一对应电连接；
11、所述第二非发光区还包括多个第二测试引线，每一所述第二测试引线的一端与一个第二邦定引脚电连接，每一所述第二测试引线由所述第二非发光区延伸至相邻的发光屏的第一非发光区，与位于相邻的发光屏的第一非发光区中的第二测试引脚电连接。
12、可选的，部分所述第二测试引脚位于所述第一非发光区，部分所述第二测试引脚位于所述第二非发光区时：
13、所述发光屏还包括第三非发光区和第四非发光区，所述第三非发光区和所述第四非发光区沿所述第一方向位于所述发光区的两侧；
14、沿所述第二方向，所述发光区包括第一区和第二区，所述第二区位于所述第一区邻近所述第二非发光区的一侧；所述第一区中的所述第二电极通过设置于第三非发光区的第二电极引线与所述第二邦定引脚电连接，所述第二区中的所述第二电极通过设置于所述第四非发光区中的第二电极引线与所述第二邦定引脚电连接；
15、所述第四非发光区中还包括第三测试引线，所述第一区中的所述第二电极与位于第四发光区中的第三测试引线一一对应电连接，每一第三测试引线由第四非发光区延伸至相邻发光屏的第二非发光区，与位于相邻发光屏的第二非发光区中的第二测试引脚电连接。
16、可选的，第一测试引线的线宽为0.5um-7.5um，相邻的第一测试引线的间距为0.5um-7.5um；
17、第二测试引线的线宽为0.5um-4.5um，相邻的第一测试引线的间距为0.5um-4.5um；
18、第三测试引线的线宽为0.5um-7.5um，相邻的第一测试引线的间距为0.5um-7.5um。
19、可选的，多个所述第二测试引线分布在至少两个不同的膜层。
20、可选的，所述发光屏还包括第一金属层，所述第一金属层设置于所述基板和所述第一电极层之间，所述第二电极引线设置于所述第一金属层；
21、所述第一测试引脚和所述第二测试引脚与所述第一电极层同层设置，且采用相同的材料；或者，第一测试引脚和所述第二测试引脚设置于所述第一金属层，或者，所述第一测试引脚和所述第二测试引脚均包括层叠设置的两个子层，一个子层设置于所述第一金属层，一个子层与所述第一电极层同层设置且采用相同的材料；
22、所述第一测试引线、所述第二测试引线和所述第三测试引线均与所述第一测试引脚和所述第二测试引脚同层设置，且采用相同的材料。
23、可选的，所述发光屏包括第一切割边缘，所述第一切割边缘沿第二方向位于相邻的两个发光屏之间，所述第一测试引脚与所述第一切割边缘的距离大于0，且小于或等于0.5mm，所述第二测试引脚与所述第一切割边缘的距离大于0，且小于或等于0.5mm。
24、可选的，所述基板上还设置有第一电源线和第二电源线，所述第一电源线与所有所述第一测试引脚电连接，所述第二电源线与所有所述第二测试引脚电连接；
25、所述第一电源线和所述第二电源线沿所述第二方向延伸，且沿一方向位于相邻两个发光屏的发光区之间；
26、所述第一电源线、所述第二电源线、所述第一测试引脚和所述第二测试引脚同层设置，且采用相同的材料。
27、本专利技术实施例的发光大屏中，每一发光屏的非发光区设置有第一测试引脚和第二测试引脚，第一测试引脚和与发光屏相邻的发光屏的第一电极电连接，第二测试引脚和与发光屏相邻的发光屏的第二电极电连接，第一电源线与所有第一测试引脚电连接，第二电源线与所有第二测试引脚电连接，通过第一电源线和第二电源线可以向各个发光屏的第一电极和第二电极传输驱动信号，对所有发光屏进行点亮测试或老化训练，从而筛选出有缺陷的发光屏，提高生产良率。并且通过设置第一测试引脚和与发光屏相邻的发光屏的第一电极电连接，第二测试引脚和与发光屏相邻的发光屏的第二电极电连接，使得对发光大屏进行切割，分离多个发光屏后，第一测试引脚和第二测试引脚与电极之间的连接线同时被切割断开，使得分离后每一发光屏的第一电极和第二电极不会短接，每一发光屏可以正常工作，无需增加其他工艺切断第一电极与第一测试引脚之间的连接，以及第二电极与第二测试引脚之间的连接，可以降低工艺成本。
28、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种发光大屏，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的发光大屏，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的发光大屏，其特征在于：
4.根据权利要求2所述的发光大屏，其特征在于：
5.根据权利要求4所述的发光大屏，其特征在于：
6.根据权利要求4或5所述的发光大屏，其特征在于：
7.根据权利要求4所述的发光大屏，其特征在于：
8.根据权利要求5所述的发光大屏，其特征在于：
9.根据权利要求1所述的发光大屏，其特征在于：
10.根据权利要求1所述的发光大屏，其特征在于：
【技术特征摘要】
1.一种发光大屏，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的发光大屏，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的发光大屏，其特征在于：
4.根据权利要求2所述的发光大屏，其特征在于：
5.根据权利要求4所述的发光大屏，其特征在于：
6...
【专利技术属性】
技术研发人员：鲁天星，张国辉，朱映光，许显斌，董艳波，高亚东，徐佳豪，胡永岚，
申请(专利权)人：固安翌光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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