一种光MOS继电器的自动测试工装制造技术

技术编号：44653979 阅读：4 留言：0更新日期：2025-03-17 18:45

本申请提供一种光MOS继电器的自动测试工装，包括第一继电器测试芯片、输入电路、输出电路和第二继电器测试芯片；所述输入电路的一端与所述第一继电器测试芯片连接，另一端用以与待测试继电器的输入端连接；所述输出电路的一端用以与所述待测试继电器的多个输出端连接，另一端与所述第二继电器测试芯片连接；所述输出电路上设有多个控制开关，每一所述控制开关均与所述第一继电器测试芯片的控制端口连接，所述控制端口用以控制所述控制开关的启闭，以使所述继电器的不同输出端与所述第二继电器测试芯片导通，实现所述第二继电器测试芯片对所述待测试继电器的直流工作模式和交流工作模式的参数测试。本申请能够显著提升测试效率。

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【技术实现步骤摘要】

本申请涉及测试，尤其涉及一种光mos继电器的自动测试工装。

技术介绍

1、光mos继电器是一种新型先进电子元器件，它采用光隔离技术，能够实现高速、高精度的电气隔离和信号转换。

2、光mos继电器的传统测试方法为使用电源、数字多用表、示波器、电阻搭建测试电路配合测试夹进行测试，需分别对光mos继电器的输入参数、输出参数、时阈参数进行测试，测试电路为手工搭建。

3、手工搭建测试电路过程繁琐，不仅需要反复搭建电路，通常还存在一些问题，例如，使用测试夹连接器件时易造成管脚损伤、静电击穿现象。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种光mos继电器的自动测试工装，以解决光mos继电器测试过程中测试电路需要反复搭建的问题。

2、基于上述目的，本申请提供了一种光mos继电器的自动测试工装，包括第一继电器测试芯片、输入电路、输出电路和第二继电器测试芯片；

3、所述输入电路的一端与所述第一继电器测试芯片连接，另一端用以与待测试继电器的输入端连接；

4、所述输出电路的一端用以与所述待测试继电器的多个输出端连接，另一端与所述第二继电器测试芯片连接；

5、所述输出电路上设有多个控制开关，每一所述控制开关均与所述第一继电器测试芯片的控制端口连接，所述控制端口用以控制所述控制开关的启闭，以使所述继电器的不同输出端与所述第二继电器测试芯片导通，实现所述第二继电器测试芯片对所述待测试继电器的直流工作模式和交流工作模式的参数测试。</p>

6、进一步的，所述待测试继电器的输出端包括第一输出端、第二输出端和第三输出端，所述输出电路包括第一连接支路、第二连接支路、第三连接支路和第四连接支路，其上均设有所述控制开关，所述第一连接支路连接所述第一输出端和所述第三输出端，所述第二连接支路连接所述第一输出端和所述第二继电器测试芯片，所述第三连接支路连接所述第二输出端口和所述第二继电器测试芯片，所述第四连接支路连接所述第三输出端口和所述第二继电器测试芯片。

7、进一步的，所述第二连接支路和所述第四连接支路均包括两个子支路，两个子支路分别与所述第二继电器测试芯片的正极端和负极端连接，两个子支路上均设有所述控制开关。

8、进一步的，所述第三连接支路与所述第二继电器测试芯片的负极端连接。

9、进一步的，所述第二连接支路、第三连接支路和第四连接支路上的控制开关均具有并联设置的双开关，所述双开关分别与其连接的第二继电器测试芯片的正极端/负极端的sense端和force端连接，且所述双开关同时与所述第一继电器测试芯片的同一所述控制端口连接。

10、进一步的，所述第一连接支路上的控制开关具有并联设置的双开关，其中一开关位于所述第一连接支路上，另一开关分别与所述第二继电器测试芯片上的两个分流端口连接。

11、进一步的，所述控制开关为常开型电磁继电器，其继电器线圈的输入端与所述第二继电器测试芯片的电压输入端口连接，继电器线圈的输出端与所述第一继电器测试芯片的控制端口连接。

12、进一步的，所述第一继电器测试芯片和所述第二继电器测试芯片均位于继电器综合参数测试系统上。

13、进一步的，所述第一连接支路上的控制开关与所述分流端口的连接支路上设有分流电阻。

14、进一步的，所述继电器综合参数测试系统包括控制器，所述第一继电器测试芯片和所述第二继电器测试芯片均与所述控制器连接。

15、从上面所述可以看出，本申请提供的一种光mos继电器的自动测试工装，通过设置第一继电器测试芯片和输入电路与待测试继电器的输入端连接，以对待测试继电器的输入端进行导通及测试，设置第二继电器测试芯片和输出电路与待测试继电器的多个输出端连接，并在所述输出电路上设置多个控制开关，以通过控制开关的通断对待测试继电器的多个输出端进行直流工作模式和交流工作模式下的导通及测试，使得待测试继电器能够在一次连接的基础上完成直流工作模式和交流工作模式的参数测试，避免在对待测试继电器进行测试时的多次搭建和连接，进而避免测试过程的繁琐，避免使用测试夹连接器件，进而避免管脚损伤、静电击穿现象，有利于提升测试效率的同时，有利于测试器件和待测试继电器的使用寿命。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，包括第一继电器测试芯片、输入电路、输出电路和第二继电器测试芯片；

2.根据权利要求1所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述待测试继电器的输出端包括第一输出端、第二输出端和第三输出端，所述输出电路包括第一连接支路、第二连接支路、第三连接支路和第四连接支路，其上均设有所述控制开关，所述第一连接支路连接所述第一输出端和所述第三输出端，所述第二连接支路连接所述第一输出端和所述第二继电器测试芯片，所述第三连接支路连接所述第二输出端口和所述第二继电器测试芯片，所述第四连接支路连接所述第三输出端口和所述第二继电器测试芯片。

3.根据权利要求2所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第二连接支路和所述第四连接支路均包括两个子支路，两个子支路分别与所述第二继电器测试芯片的正极端和负极端连接，两个子支路上均设有所述控制开关。

4.根据权利要求2所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第三连接支路与所述第二继电器测试芯片的负极端连接。

5.根据权利要求4所述的光MOS

6.根据权利要求4所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第一连接支路上的控制开关具有并联设置的双开关，其中一开关位于所述第一连接支路上，另一开关分别与所述第二继电器测试芯片上的两个分流端口连接。

7.根据权利要求5或6所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述控制开关为常开型电磁继电器，其继电器线圈的输入端与所述第二继电器测试芯片的电压输入端口连接，继电器线圈的输出端与所述第一继电器测试芯片的控制端口连接。

8.根据权利要求1所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第一继电器测试芯片和所述第二继电器测试芯片均位于继电器综合参数测试系统上。

9.根据权利要求6所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第一连接支路上的控制开关与所述分流端口的连接支路上设有分流电阻。

10.根据权利要求8所述的光MOS继电器的自动测试工装，其特征在于，所述继电器综合参数测试系统包括控制器，所述第一继电器测试芯片和所述第二继电器测试芯片均与所述控制器连接。

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【技术特征摘要】

1.一种光mos继电器的自动测试工装，其特征在于，包括第一继电器测试芯片、输入电路、输出电路和第二继电器测试芯片；

2.根据权利要求1所述的光mos继电器的自动测试工装，其特征在于，所述待测试继电器的输出端包括第一输出端、第二输出端和第三输出端，所述输出电路包括第一连接支路、第二连接支路、第三连接支路和第四连接支路，其上均设有所述控制开关，所述第一连接支路连接所述第一输出端和所述第三输出端，所述第二连接支路连接所述第一输出端和所述第二继电器测试芯片，所述第三连接支路连接所述第二输出端口和所述第二继电器测试芯片，所述第四连接支路连接所述第三输出端口和所述第二继电器测试芯片。

3.根据权利要求2所述的光mos继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第二连接支路和所述第四连接支路均包括两个子支路，两个子支路分别与所述第二继电器测试芯片的正极端和负极端连接，两个子支路上均设有所述控制开关。

4.根据权利要求2所述的光mos继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第三连接支路与所述第二继电器测试芯片的负极端连接。

5.根据权利要求4所述的光mos继电器的自动测试工装，其特征在于，所述第二连接支路、第三连接支路和第四连接支路上的控制开关均具有并联设置的双开关，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘博，孙逸展，李锟，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：

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