【技术实现步骤摘要】
本揭露涉及一种电子装置的制造方法，尤其涉及一种包括检测步骤的制造方法以制造电子装置。
技术介绍
1、制造设备可利用制造元件来对产品进行加工以制造电子装置。制造元件的状态直接或间接影响产品的质量。一般来说，检测人员会对制造元件的状态进行判断。举例来说，检测人员可控制制造元件施压于检测元件(例如是感压纸(pressure sensing paper，或称压敏纸))以产生压痕图案，并利用视觉来辨识压痕图案的分布情况来判断制造元件的水平度是否发生偏移。然而，上述的判断通常较为主观而没有固定的标准。因此，针对制造元件，如何提供一种具有固定和/或有效的检测标准的检测步骤以及检测方法，是本领域技术人员的研究重点之一。
技术实现思路
1、本揭露是针对一种具有检测步骤的电子装置的制造方法，检测步骤能够提供固定和/或有效的检测标准。
2、根据本揭露的实施例，电子装置的制造方法包括检测步骤。检测步骤用以检测制造元件的压力分布。检测步骤包括：提供检测元件；将制造元件施压于检测元件上以产生多个压痕图案；将所述多个压痕图案转换成多个图像数据；利用所述多个图像数据计算图像特征值；以及比对图像特征值与阈值的关系并产生比对结果。
3、根据本揭露的实施例，电子装置的制造方法包括用于检测制造元件的检测步骤。检测步骤包括：将制造元件施压于检测元件上以产生多个压痕图案并将所述多个压痕图案转换成多个图像数据以计算制造元件对应于第一工作次数的第一图像特征值；依据对应于第一工作次数的第一图像特征值与小于第
4、根据本揭露的实施例，电子装置的制造方法包括用于检测制造机构的检测步骤。检测步骤包括：提供多个制造机构，其中所述多个制造机构各具有多个历史特征值趋势，并利用各所述多个制造机构的所述多个历史特征值趋势中对应于相同评估工作次数的多个特征值来产生所述多个制造机构的多个变化趋势；利用所述多个变化趋势来产生阈值；以及比对所述多个变化趋势与阈值并产生比对结果。
5、基于上述，检测步骤将制造元件的压力分布转换为图像特征值。检测步骤比对图像特征值与阈值的关系并产生比对结果。因此，检测步骤提供了固定和/或有效的检测标准来判断制造元件的压力分布，而不需要依赖检测人员的视觉来主观判断制造元件的压力分布。此外，电子装置的制造方法中的检测步骤还用于检测制造机构以及制造元件的状态并提供预警。
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1.一种电子装置的制造方法，其特征在于，所述制造方法包括：
2.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，将所述多个压痕图案转换成所述多个图像数据的步骤包括：
3.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，将所述多个压痕图案转换成所述多个图像数据的步骤包括：
4.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述多个图像数据分别为灰阶值。
5.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述图像特征值为斜率值。
6.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述图像特征值为标准偏差值。
7.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述图像特征值为平均绝对偏差值。
8.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述检测步骤还包括：
9.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述检测步骤还包括：
10.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述制造方法还包括：
11.一种电子装置的制造方法，其特征在于，所述制造方法包括用于检测制造元件的检测步骤，其中所述检测步骤
12.根据权利要求11所述的制造方法，其特征在于，所述多个历史特征值趋势的至少一者所对应的最大工作次数大于所述第一工作次数。
13.根据权利要求11所述的制造方法，其特征在于，所述检测步骤还包括：
14.根据权利要求11所述的制造方法，其特征在于，从所述多个历史特征值趋势中比对出与所述特征值趋势最相近的所述参考历史特征值趋势的步骤包括：
15.根据权利要求11所述的制造方法，其特征在于，从所述多个历史特征值趋势中比对出与所述特征值趋势最相近的所述参考历史特征值趋势的步骤包括：
16.一种电子装置的制造方法，其特征在于，所述制造方法包括用于检测制造机构的检测步骤，其中所述检测步骤包括：
17.根据权利要求16所述的制造方法，其特征在于，所述检测步骤还包括：
18.根据权利要求16所述的制造方法，其特征在于，产生所述阈值的步骤包括：
...【技术特征摘要】
1.一种电子装置的制造方法，其特征在于，所述制造方法包括：
2.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，将所述多个压痕图案转换成所述多个图像数据的步骤包括：
3.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，将所述多个压痕图案转换成所述多个图像数据的步骤包括：
4.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述多个图像数据分别为灰阶值。
5.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述图像特征值为斜率值。
6.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述图像特征值为标准偏差值。
7.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述图像特征值为平均绝对偏差值。
8.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述检测步骤还包括：
9.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述检测步骤还包括：
10.根据权利要求1所述的制造方法，其特征在于，所述制造方法还包括：
11.一种电子装置的...
【专利技术属性】
技术研发人员：卢怡君，董秉庭，林紫筠，洪翠华，
申请(专利权)人：群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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