【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片检测,具体为一种芯片检测用模具。
技术介绍
1、在芯片检测时,需要利用模具对芯片进行固定,方便进行检测。但是现有的芯片检测模具大多只对固定数量的芯片(如10片、20片等)固定,当芯片较多时需要分开进行检测,较为浪费时间。
2、基于此,提出本技术。
技术实现思路
1、本部分的目的在于概述本技术的实施方式的一些方面以及简要介绍一些较佳实施方式。在本部分以及本申请的说明书摘要和技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和技术名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本技术的范围。
2、鉴于上述和/或现有一种芯片检测用模具中存在的问题,提出了本技术。
3、因此,本技术的目的是提供一种芯片检测用模具,通过在模板侧壁开设t型槽,模板另一侧壁与该t型槽对应位置安装有t型板,在模板顶部开设有芯片槽,在模板顶部设置有限位组件,当需要将多个模板连接时,通过滑动模板使其中一个模板的t型板在另一个模板的t型槽内部滑动,直至两个模板侧壁齐平,此时利用限位组件将两个模板连接固定,根据需要检测的芯片数量依次将多个模板连接固定,方便对不同数量的芯片进行同时固定送检。
4、为解决上述技术问题,根据本技术的一个方面,本技术提供了如下技术方案:
5、一种芯片检测用模具,其包括:
6、模板,所述模板侧壁开设有t型槽,所述模板另一侧壁与所述t型槽对应位置安装有t型板,所述模板顶部开设有芯片槽;
7、限位组件,包
8、作为本技术所述的一种芯片检测用模具的一种优选方案,其中,所述模板顶部与所述壳体对称位置安装有固定板,所述固定板侧壁开设有限位孔。
9、作为本技术所述的一种芯片检测用模具的一种优选方案,其中,所述模板顶部以所述芯片槽为中心对称开设有两个滑槽,所述滑槽对称侧壁开设有导向槽。
10、作为本技术所述的一种芯片检测用模具的一种优选方案,其中,还包括推板,所述推板滑动连接在所述芯片槽内部,所述推板底部安装有第二弹簧,所述第二弹簧底端与所述芯片槽底部连接。
11、作为本技术所述的一种芯片检测用模具的一种优选方案,其中,所述推板顶部安装有防滑垫。
12、作为本技术所述的一种芯片检测用模具的一种优选方案,其中,还包括限位板,所述限位板位于所述滑槽内部,所述限位板侧壁安装有第三弹簧,所述第三弹簧另一端连接在所述滑槽内壁,所述限位板对称侧壁安装有导向板,所述导向板位于所述导向槽内部,所述限位板顶端具有弧形面。
13、与现有技术相比:通过在模板侧壁开设t型槽,模板另一侧壁与该t型槽对应位置安装有t型板,在模板顶部开设有芯片槽,在模板顶部设置有限位组件,当需要将多个模板连接时,通过滑动模板使其中一个模板的t型板在另一个模板的t型槽内部滑动,直至两个模板侧壁齐平,此时利用限位组件将两个模板连接固定,根据需要检测的芯片数量依次将多个模板连接固定,方便对不同数量的芯片进行同时固定送检。
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1.一种芯片检测用模具,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,所述模板(100)顶部与所述壳体(210)对称位置安装有固定板(140),所述固定板(140)侧壁开设有限位孔(150)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,所述模板(100)顶部以所述芯片槽(130)为中心对称开设有两个滑槽(160),所述滑槽(160)对称侧壁开设有导向槽(170)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,还包括推板(300),所述推板(300)滑动连接在所述芯片槽(130)内部,所述推板(300)底部安装有第二弹簧(310),所述第二弹簧(310)底端与所述芯片槽(130)底部连接。
5.根据权利要求4所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,所述推板(300)顶部安装有防滑垫(320)。
6.根据权利要求5所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,还包括限位板(400),所述限位板(400)位于所述滑槽(160)内部,所述限位板(400)侧壁安装有第三弹簧(410),
...【技术特征摘要】
1.一种芯片检测用模具,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,所述模板(100)顶部与所述壳体(210)对称位置安装有固定板(140),所述固定板(140)侧壁开设有限位孔(150)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,所述模板(100)顶部以所述芯片槽(130)为中心对称开设有两个滑槽(160),所述滑槽(160)对称侧壁开设有导向槽(170)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片检测用模具,其特征在于,还包括推板(300),所述推板(300)滑动连接在所述芯片槽(130)内部,所述推板(300...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘强,赵帅,
申请(专利权)人:北京芯准检测技术研究院有限公司,
类型:新型
国别省市:
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