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基于角度传感器的波长精确调节方法、装置及激光器制造方法及图纸

技术编号:44623449 阅读:5 留言:0更新日期:2025-03-17 18:21
本发明专利技术涉及波长调节技术领域,公开了一种基于角度传感器的波长精确调节方法、装置及激光器,其中,该方法包括:基于初始检测参数组合对激光器进行初始化,并获取角度传感器与检测光束的空间位置映射数据;计算得到角度偏差矩阵并建立角度‑反射强度关系映射表;生成激光器的补偿检测参数组合;基于补偿检测参数组合进行螺旋扫描检测,得到初始特征表示,并进行特征增强,得到增强特征表示;对增强特征表示进行多维度指标分析和融合,得到质量检测结果;根据质量检测结果求解激光器的全局最优检测参数组合并生成激光器调节控制序列,该方法提高了波长相关器件的质量检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及波长调节,尤其涉及一种基于角度传感器的波长精确调节方法、装置及激光器


技术介绍

1、传统的检测方法依赖于固定波长激光器和单一角度的检测方式,无法适应不同类型波长相关器件的检测需求,导致检测结果的准确性和可靠性较低。由于波长相关器件的结构复杂、检测区域大等特点,传统的检测方法难以获取完整和准确的质量信息。

2、目前的检测系统普遍存在检测参数优化困难、检测过程不稳定、检测结果一致性差等问题。这主要是由于缺乏有效的波长精确调节机制,无法根据不同特性动态调整检测参数,同时也缺乏对检测光束的空间位置和能量密度的精确控制,导致检测过程中的光强波动和角度偏差影响检测精度。现有技术中虽然采用了一些参数补偿和校正方法,但大多是基于经验设置或简单的反馈调节,缺乏系统的理论基础和智能化的控制策略。这种情况下,检测系统难以应对复杂多变的检测环境,也无法保证检测结果的可重复性和可靠性。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种基于角度传感器的波长精确调节方法、装置及激光器,用于提高波长相关器件的质量检测的准确率。

2、第一方面,本专利技术提供了一种基于角度传感器的波长精确调节方法,所述基于角度传感器的波长精确调节方法包括:

3、基于初始检测参数组合对激光器进行初始化,并获取角度传感器与检测光束的空间位置映射数据;

4、根据所述空间位置映射数据,计算得到角度偏差矩阵并建立角度-反射强度关系映射表;

5、基于所述角度偏差矩阵和所述角度-反射强度关系映射表生成所述激光器的补偿检测参数组合;

6、基于所述补偿检测参数组合进行螺旋扫描检测,得到初始特征表示,并进行特征增强,得到增强特征表示;

7、对所述增强特征表示进行多维度指标分析和融合,得到质量检测结果;

8、根据所述质量检测结果求解所述激光器的全局最优检测参数组合并生成激光器调节控制序列。

9、第二方面,本专利技术提供了一种基于角度传感器的波长精确调节装置,所述基于角度传感器的波长精确调节装置包括:

10、初始化模块,用于基于初始检测参数组合对激光器进行初始化,并获取角度传感器与检测光束的空间位置映射数据;

11、计算模块,用于根据所述空间位置映射数据,计算得到角度偏差矩阵并建立角度-反射强度关系映射表;

12、生成模块,用于基于所述角度偏差矩阵和所述角度-反射强度关系映射表生成所述激光器的补偿检测参数组合;

13、检测模块,用于基于所述补偿检测参数组合进行螺旋扫描检测,得到初始特征表示,并进行特征增强,得到增强特征表示;

14、分析模块,用于对所述增强特征表示进行多维度指标分析和融合,得到质量检测结果;

15、求解模块,用于根据所述质量检测结果求解所述激光器的全局最优检测参数组合并生成激光器调节控制序列。

16、本专利技术第三方面提供了一种激光器,所述激光器用于执行上述的基于角度传感器的波长精确调节方法。

17、本专利技术的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述的基于角度传感器的波长精确调节方法。

18、本专利技术提供的技术方案中,通过建立角度传感器与检测光束的空间位置映射关系,结合自动功率控制电路实现检测光束的精确定位和能量控制,提高了检测系统的稳定性和可靠性;采用角度偏差矩阵和角度-反射强度关系映射表的双重反馈机制,实现了波长补偿和能量密度阈值的动态调节,确保检测参数的最优配置;利用螺旋扫描和多维特征增强的检测策略,获取了更加全面和准确的特征信息,提升了检测的空间分辨率和特征提取能力;通过局部特征子空间划分和多维度指标分析方法,实现了质量的精确评估和分级,增强了检测结果的可信度;基于全局最优检测参数组合的求解和控制序列生成机制,建立了完整的参数优化和控制策略,保证了检测过程的智能化和自动化水平。

19、本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

20、为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述基于初始检测参数组合对激光器进行初始化,并获取角度传感器与检测光束的空间位置映射数据,包括:

3.根据权利要求2所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述根据所述空间位置映射数据,计算得到角度偏差矩阵并建立角度-反射强度关系映射表,包括:

4.根据权利要求3所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述基于所述角度偏差矩阵和所述角度-反射强度关系映射表生成所述激光器的补偿检测参数组合,包括:

5.根据权利要求4所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述基于所述补偿检测参数组合进行螺旋扫描检测,得到初始特征表示,并进行特征增强,得到增强特征表示,包括:

6.根据权利要求5所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述对所述增强特征表示进行多维度指标分析和融合,得到质量检测结果,包括:

7.根据权利要求6所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述根据所述质量检测结果求解所述激光器的全局最优检测参数组合并生成激光器调节控制序列,包括:

8.一种基于角度传感器的波长精确调节装置,其特征在于,用于执行如权利要求1-7中任一项所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,所述装置包括:

9.一种激光器,其特征在于,所述激光器用于执行如权利要求1-7中任一项所述的基于角度传感器的波长精确调节方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有指令,其特征在于,所述指令被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的基于角度传感器的波长精确调节方法。

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【技术特征摘要】

1.一种基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述基于初始检测参数组合对激光器进行初始化,并获取角度传感器与检测光束的空间位置映射数据,包括:

3.根据权利要求2所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述根据所述空间位置映射数据,计算得到角度偏差矩阵并建立角度-反射强度关系映射表,包括:

4.根据权利要求3所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述基于所述角度偏差矩阵和所述角度-反射强度关系映射表生成所述激光器的补偿检测参数组合,包括:

5.根据权利要求4所述的基于角度传感器的波长精确调节方法,其特征在于,所述基于所述补偿检测参数组合进行螺旋扫描检测,得到初始特征表示,并进行特征增强,得到增强特征表示,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:周其安少飞李铭杰陈永翔
申请(专利权)人:深圳市维度科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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