【技术实现步骤摘要】
本描述一般涉及处理器，并且更特别地涉及识别处理器中的故障的方法和设备。
技术介绍
1、处理器用于跨多种行业执行各种功能。在一些行业中，处理器可能被要求满足严格的质量要求。质量要求可用于确保处理器可用于具有特定安全标准的车辆。例如，在汽车工业，一些处理器可能被要求达到或接近百万分之0的缺陷零件(dppm)。
技术实现思路
1、对于识别处理器中的故障的方法和设备，示例装置包括内置的测试观察控制器电路系统，其被配置为：获得测试；向处理器发送第一指令，以通过修改存储在多个存储器电路中的值开始执行测试；向处理器发送第二指令，以在第一模拟时间停止执行测试，其中在测试执行的第二模拟时间期间不可观察的一个或多个存储器值在第一模拟时间期间可观察；以及增强型芯片访问跟踪扫描电路系统，其被配置为在测试停止时从多个存储器电路选择值的子集；以及签名电路系统，其被配置为：基于该值的子集确定逻辑签名；并提供逻辑签名以用于与预期签名进行比较，其中逻辑签名与预期签名之间的差异对应于处理器中的故障。
【技术保护点】
1.一种用于检测处理器中的故障的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中为了从所述多个存储器电路选择所述值的所述子集，所述扫描电路系统进一步被配置为：
3.根据权利要求1所述的装置，其中：
4.根据权利要求1所述的装置，其中：
5.根据权利要求4所述的装置，其中：
6.根据权利要求1所述的装置，进一步包括诊断的自动测试装备电路系统，其被配置为将所述逻辑签名与所述预期签名进行比较。
7.根据权利要求1所述的装置，其中：
8.根据权利要求1所述的装置，其中：
9.一种用于检测处理器中的故障的方法，所述方法包括：
10.根据权利要求9所述的方法，其中从所述多个存储器电路选择所述值的所述子集进一步包括：
11.根据权利要求9所述的方法，其中：
12.根据权利要求9所述的方法，其中：
13.根据权利要求12所述的方法，其中：
14.根据权利要求12所述的方法，进一步包括基于在所述完整测试执行期间所述存储器电路的所述值的变
15.一种包括指令的非暂时性机器可读介质，所述指令在执行时使至少一个处理器：
16.根据权利要求15所述的非暂时性机器可读介质，其中为了从所述多个存储器电路选择所述值的所述子集，所述指令在执行时使所述至少一个处理器至少：
17.根据权利要求15所述的非暂时性机器可读介质，其中：
18.根据权利要求15所述的非暂时性机器可读介质，其中：
19.根据权利要求18所述的非暂时性机器可读介质，其中所述指令在执行时使所述至少一个处理器基于在所述完整测试执行期间所述存储器电路的所述值的变化历史，确定何时停止所述部分测试执行。
20.根据权利要求18所述的非暂时性机器可读介质，其中：
...【技术特征摘要】
1.一种用于检测处理器中的故障的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中为了从所述多个存储器电路选择所述值的所述子集，所述扫描电路系统进一步被配置为：
3.根据权利要求1所述的装置，其中：
4.根据权利要求1所述的装置，其中：
5.根据权利要求4所述的装置，其中：
6.根据权利要求1所述的装置，进一步包括诊断的自动测试装备电路系统，其被配置为将所述逻辑签名与所述预期签名进行比较。
7.根据权利要求1所述的装置，其中：
8.根据权利要求1所述的装置，其中：
9.一种用于检测处理器中的故障的方法，所述方法包括：
10.根据权利要求9所述的方法，其中从所述多个存储器电路选择所述值的所述子集进一步包括：
11.根据权利要求9所述的方法，其中：
12.根据权利要求9所述的方法，其中：
【专利技术属性】
技术研发人员：D·瓦拉达拉简，B·聂文辉斯，
申请(专利权)人：德克萨斯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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