【技术实现步骤摘要】
本公开涉及测试和测量系统，并且更具体地涉及用于调谐被测设备(dut)(例如光学收发器设备)的参数的系统和方法。
技术介绍
1、机器学习技术可以改善被测设备(dut)参数调谐的测试时间。美国专利申请第17/701186号和美国专利申请第17/701411号(均于2022年3月22日提交，它们的全部内容特此通过引用并入本公开)两者都公开了用于调谐dut(例如光学收发器)的参数的系统和方法。那些系统和方法可以改善例如在制造环境中调谐光学收发器或其他dut的测试时间。对于最佳调谐参数集预测和验证，那些系统和方法可以将光学收发器调谐参数测试时间从每个dut两小时的最坏情况示例减少到每个dut每个温度约12秒。与最坏情况下的传统调谐过程相比，这表示非常显著的速度提高。
2、然而，dut调谐过程可以包括在不同温度下调谐。将dut升高或降低到每个所期望调谐温度所需的时间会造成显著的延迟。例如，在某些调谐过程中，每个温度上升时间为180秒。此外，将dut加载入和移出用于测试的温度室可能花费额外的时间。因此，需要的是一种整体系统设计和方法，其可以将烤箱中温度循环时间和切换出设备的时间减少到几乎为零的时间。
技术实现思路
【技术保护点】
1.一种测试系统，包括：
2.如权利要求1所述的测试系统，其中DUT开关的数量对应于烤箱的数量。
3.如权利要求1所述的测试系统，其中仪器开关具有与DUT开关的数量对应的维度。
4.如权利要求1所述的测试系统，其中使得一个或多个处理器控制仪器开关以选择DUT开关之一的代码包括用于以下操作的代码：控制仪器开关以选择DUT开关之一并将每个所选的DUT开关连接到测试仪器的专用通道。
5.如权利要求1所述的测试系统，其中一个或多个处理器进一步配置为控制烤箱，以使烤箱循环通过多个温度，并且一个或多个处理器针对每个温度重复仪器开关和DUT开关的控制。
6.如权利要求1所述的测试系统，其中一个或多个处理器进一步配置为控制机器人为烤箱卸载和重新加载DUT。
7.如权利要求1所述的测试控制系统，其中DUT包括电子设备或光学设备之一。
8.如权利要求1所述的测试控制系统，其中使得一个或多个处理器使用机器学习的代码包括使一个或多个处理器进行以下操作的代码：
9.一种测试被测设备的方法，包括：
1
11.如权利要求10所述的方法，进一步包括在仪器的所选通道和仪器上的时钟输入之间分路来自所选DUT开关的信号，并从所分路的信号中恢复仪器的时钟信号。
12.如权利要求9所述的方法，其中将所选DUT开关连接到仪器的所选通道包括将每个烤箱的DUT开关连接到仪器的不同通道。
13.如权利要求9所述的方法，进一步包括：
14.如权利要求9所述的方法，其中DUT包括光学设备或电子设备之一。
15.如权利要求9所述的方法，其中使用机器学习系统包括：从每个DUT接收波形；以及
...【技术特征摘要】
1.一种测试系统，包括：
2.如权利要求1所述的测试系统，其中dut开关的数量对应于烤箱的数量。
3.如权利要求1所述的测试系统，其中仪器开关具有与dut开关的数量对应的维度。
4.如权利要求1所述的测试系统，其中使得一个或多个处理器控制仪器开关以选择dut开关之一的代码包括用于以下操作的代码：控制仪器开关以选择dut开关之一并将每个所选的dut开关连接到测试仪器的专用通道。
5.如权利要求1所述的测试系统，其中一个或多个处理器进一步配置为控制烤箱，以使烤箱循环通过多个温度，并且一个或多个处理器针对每个温度重复仪器开关和dut开关的控制。
6.如权利要求1所述的测试系统，其中一个或多个处理器进一步配置为控制机器人为烤箱卸载和重新加载dut。
7.如权利要求1所述的测试控制系统，其中dut包括电子设备或光学设备之一。
8.如权利要求1所述的测试控制...
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