【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及偏光膜，具体涉及偏光膜卷材良率的模拟方法、装置、存储介质和终端。
技术介绍
1、偏光膜作为一种关键的光学材料，广泛应用于液晶显示屏、太阳能电池板等多个领域，其品质直接影响到最终产品的显示效果和性能。在偏光膜的生产制造过程中，连续化生产线的高效运行与产品质量的稳定控制是行业发展的关键，然而，在连续生产作业中，偏光膜会经过多个站点处理，每个站点因环境、设备状态及操作条件的不同，均可能引入不同类型的缺点。
2、传统上，品质保障人员在卷料的卷首和卷末取样并进行人工检查的方式来评估整卷偏光膜的质量，并据此判定其为良品或不良品。这种方法虽然简单直接，但存在显著局限性。由于偏光膜收卷长度超过1000米，且生产过程中制程参数和环境条件可能发生变化，导致卷中偏光膜卷材的质量状况与卷首、卷末存在显著差异。因此，仅凭卷首、卷末的样品检测结果来判定整卷质量，往往难以全面、准确地反映卷料整体质量水平，进而造成后制程裁切时人工检出的实际情况与前期判定结果存在偏差，影响生产效率和产品良率。
3、专利cn113155862b提出了一种偏光膜卷材良率模拟系统，该系统通过模拟裁切方式，对特殊卷料的裁切闪边等功能进行了优化，有效提升了裁切效率和精度。然而，该专利主要在于于裁切过程的模拟与优化，并未深入涉及检反站对于涂布站已喷印的mark章型(用于标识、追踪或区分产品批次的关键信息)的检出与良率计算，该专利技术将将良率数据上传至工业网盘，可能导致数据更新不及时或同步失败，会影响生产状态的实时掌握和快速响应能力，进而影响到生产决策的
4、因此，如何通过有效的偏光膜卷材良率模拟方法解决现有技术的缺失与不足，已成为该领域研究者亟待解决的重要问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是针对上述问题，提供了一种偏光膜卷材良率的模拟方法、装置、存储介质和终端。
2、本专利技术的技术方案为：一种偏光膜卷材良率的模拟方法，包括以下步骤：获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，所述卷材数据至少包括所述偏光膜卷材的管理号、架构和幅宽，所述缺点数据至少包括所述偏光膜卷材缺点的位置、尺寸和缺点类型，所述缺点类型至少包括泡、异物、凹凸、歪点和刮伤；基于所述卷材数据和缺点数据设置分片参数和分片方式，以所述偏光膜卷材的起始点为零点裁切边，根据分片参数和分片方式进行模拟裁切，计算所述偏光膜卷材的模拟良率并汇总成良率数据表，所述良率数据表包括模拟时间、管理号、架构、良率、每平米的第一平均缺点数以及每种缺点类型在每平米的第二平均缺点数；
3、将所述良率数据表上传至云端存储系统。
4、作为本专利技术实施例的一种改进，所述“获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据”具体包括：控制自动光学检测系统对所述偏光膜卷材进行检测，并从所述自动光学检测系统获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，将超出预设卡控参数的缺点数据发送至喷码机；控制所述喷码机会对接收到的缺点数据进行喷码标记。
5、作为本专利技术实施例的一种改进，所述云端存储系统为mes系统。
6、作为本专利技术实施例的一种改进，所述良率数据表传输至mes系统上传接口，mes系统读取所述接口数据进行上传并显示上传结果。
7、为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供了一种偏光膜卷材良率的模拟装置，包括以下模块：信息获取模块，用于获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，所述卷材数据至少包括所述偏光膜卷材的管理号、架构和幅宽，所述缺点数据至少包括所述偏光膜卷材缺点的位置、尺寸和缺点类型，所述缺点类型至少包括泡、异物、凹凸、歪点和刮伤；良率生成模块，用于基于所述卷材数据和缺点数据设置分片参数和分片方式，以所述偏光膜卷材的起始点为零点裁切边，根据分片参数和分片方式进行模拟裁切，计算所述偏光膜卷材的模拟良率并汇总成良率数据表，所述良率数据表包括模拟时间、管理号、架构、良率、每平米的第一平均缺点数以及每种缺点类型在每平米的第二平均缺点数；数据上传模块，用于将所述良率数据表上传至云端存储系统。
8、作为本专利技术实施例的一种改进，所述“获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据”具体包括：控制自动光学检测系统对所述偏光膜卷材进行检测，并从所述自动光学检测系统获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，将超出预设卡控参数的缺点数据发送至喷码机；控制所述喷码机会对接收到的缺点数据进行喷码标记。
9、作为本专利技术实施例的一种改进，所述云端存储系统为mes系统。
10、作为本专利技术实施例的一种改进，所述良率数据表传输至mes系统上传接口，mes系统读取所述接口数据进行上传并显示上传结果。
11、为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供了一种存储介质，存储有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实现如上任一项所述的模拟方法。
12、为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供了一种终端，包括处理器和存储器，所述存储器存储有程序指令，所述处理器运行程序指令实现如上任一项所述的模拟方法。
13、本专利技术实施例所提供的偏光膜卷材良率的模拟方法、装置、存储介质和终端具有以下优点：通过综合考虑卷料整体的质量数据，包括mark章型的检出情况，能够生成更加真实、可靠的良率评估结果，有助于减少因单一取样点检测带来的偏差，提高良率评估的准确性和可信度，并将实时生成的良率数据上传至mes系统，实现了生产数据的即时共享和集中管理，促进生产智能化与自动化。
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1.一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的模拟方法，其特征在于，所述“获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据”具体包括：控制自动光学检测系统对所述偏光膜卷材进行检测，并从所述自动光学检测系统获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，将超出预设卡控参数的缺点数据发送至喷码机；控制所述喷码机会对接收到的缺点数据进行喷码标记。
3.根据权利要求1所述模拟方法，其特征在于，所述云端存储系统为MES系统。
4.根据权利要求1所述模拟方法，其特征在于，所述良率数据表传输至MES系统上传接口，MES系统读取所述接口数据进行上传并显示上传结果。
5.一种偏光膜卷材良率的模拟装置，其特征在于，包括以下模块：
6.根据权利要求5所述模拟装置，其特征在于，所述“获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据”具体包括：控制自动光学检测系统对所述偏光膜卷材进行检测，并从所述自动光学检测系统获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，将超出预设卡控参数的缺点数据发送至喷码机；控制所述喷码机会对接收到的缺点数据进行喷码
7.根据权利要求5所述模拟装置，其特征在于，所述云端存储系统为MES系统。
8.根据权利要求5所述模拟装置，其特征在于，所述良率数据表传输至MES系统上传接口，MES系统读取所述接口数据进行上传并显示上传结果。
9.一种存储介质，存储有程序指令，其特征在于，所述程序指令被处理器执行时实现如权利要求1至权利要求4任一项所述的模拟方法。
10.一种终端，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器存储有程序指令，所述处理器运行程序指令实现如权利要求1至权利要求4任一项所述的模拟方法。
...【技术特征摘要】
1.一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的模拟方法，其特征在于，所述“获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据”具体包括：控制自动光学检测系统对所述偏光膜卷材进行检测，并从所述自动光学检测系统获取所述偏光膜卷材的卷材数据和缺点数据，将超出预设卡控参数的缺点数据发送至喷码机；控制所述喷码机会对接收到的缺点数据进行喷码标记。
3.根据权利要求1所述模拟方法，其特征在于，所述云端存储系统为mes系统。
4.根据权利要求1所述模拟方法，其特征在于，所述良率数据表传输至mes系统上传接口，mes系统读取所述接口数据进行上传并显示上传结果。
5.一种偏光膜卷材良率的模拟装置，其特征在于，包括以下模块：
6.根据权利要求5所述模拟装置，其特征在于，所述“获取所述偏光膜卷...
【专利技术属性】
技术研发人员：兰龙梦，严兵华，吕同昕，李陵杰，李曜任，
申请(专利权)人：福州恒美光电材料有限公司，
类型：发明
国别省市：
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