【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及计算机，具体涉及一种测试设备及内存测试方法。
技术介绍
1、随着计算机设备算力的提升，ddr(double data rate)内存技术广泛应用于服务器、工作站以及消费电子的产品系统设计中。为了保证计算机设备运行过程中ddr内存的正常使用，如何提升内存信号测试准确性成为了本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例提供一种测试设备及内存测试方法，以提升内存信号测试准确性。
2、为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：
3、本申请实施例提供一种测试设备，用于测试内存通路；所述测试设备包括：
4、模拟电路，所述模拟电路用于模拟内存颗粒的电气特性；
5、连接通路，与第一内存通路连接，用于通过第一内存通路接收发内存测试信号，并将所述内存测试信号传递至所述模拟电路以及信号测量接口；
6、信号测量接口，用于所述内存测试信号发送至信号测量工具，以便所述信号测量工具确定所述内存测试信号的信号状态，所述信号状态用于表示所述第一内存通路是否正常；其中，所述内存测试信号扇出至所述信号测量接口。
7、可选的，所述模拟电路包括：
8、至少一个终端电阻，用于模拟内存颗粒的电气特性；
9、至少一个终端电阻开关，与所述终端电阻一一对应，用于控制接通所述终端电阻。
10、可选的，所述信号状态通过眼图体现；
11、接通的所述终端电阻的数量影响所述
12、可选的，所述信号测量工具接口包括：sma射频连接器。
13、可选的，还包括：
14、限流电阻，设置于所述连接通路与所述信号测量接口之间；
15、所述内存测试信号包括：伪随机二进制序列信号、第零值信号、第一值信号或第零值第一值交替信号。
16、本申请实施例还提供一种测试系统，包括：
17、处理器，所述处理器用于控制内存；
18、内存通路，所述内存通路包括第一内存通路，用于连接所述处理器和测试设备，以及第二内存通路，用于连接所述处理器和内存；
19、如上所述的测试设备，与所述处理器连接，通过第一内存通路接收所述处理器的内存测试信号，用于测试所述第一内存通路；
20、内存，与所述处理器连接，通过第二内存通路接收并处理所述处理器的内存工作信号。
21、可选的，还包括：
22、基板；所述基板包括：处理器插槽，用于设置处理器；
23、多个内存插槽，用于设置内存及测试设备；所述多个内存插槽包括：设置测试设备的内存插槽，设置内存的内存插槽；
24、其中，内存插槽与处理器插槽之间通过内存通路连接，所述内存通路设置于所述基板。
25、本申请实施例还提供一种内存测试方法运行于处理器，包括：
26、响应于内存测试指令，通过第一内存通路向测试设备发送内存测试信号，以便确定所述内存测试信号的信号状态，所述信号状态用于表示所述第一内存通路是否正常；其中，所述测试设备为如上项所述的测试设备；
27、响应于内存工作指令，通过第二内存通路向内存发送内存工作信号，以便内存基于内存工作信号进行内存工作。
28、可选的，所述响应于内存测试指令，通过第一内存通路向测试设备发送内存测试信号的步骤包括：
29、响应于内存测试指令，从内存通路中选择第一内存通路，并通过第一内存通路向测试设备发送内存测试信号；其中，第一内存通路设置于基板。
30、可选的，所述响应于内存工作指令，通过第二内存通路向内存发送内存工作信号，以便内存基于内存工作信号进行内存工作的步骤包括：
31、响应于内存工作指令，从内存通路中选择第二内存通路，并通过第二内存通路向测试设备发送内存测试信号；其中，第二内存通路设置于基板。
32、可选的，所述信号状态通过眼图体现；
33、所述眼图的参数包括获取眼图的眼高大小和眼宽大小。
34、可选的，所述测试设备还包括至少一个终端电阻，和至少一个终端电阻开关；
35、接通的所述终端电阻的数量影响所述内存测试信号的信号状态。可选的，还包括：
36、控制所述终端电阻开关是否接通，调整接通的所述终端电阻的数量以调整终端电阻值的大小，直至所述眼图质量达到预设要求本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质存储芯片的设计程序，所述设计程序被执行时实现如上所述的内存测试方法。
37、本申请实施例提供的测试设备，用于测试内存通路；所述测试设备包括：模拟电路，所述模拟电路用于模拟内存颗粒的电气特性；连接通路，与第一内存通路连接，用于通过第一内存通路接收来自处理器发送的内存测试信号，并传递至所述模拟电路以及信号测量接口；信号测量接口，用于将来自于第一内存通路的内存测试信号发送至信号测量工具，以便所述信号测量工具确定所述内存测试信号的信号状态，所述信号状态用于表示所述第一内存通路是否正常；其中，所述内存测试信号扇出至所述信号测量接口。
38、可见，通过使用与内存运行设备的电路相似的电路结构设计测试设备，可以使得在内存测试过程中，测试设备接收的内存测试信号，使用内存运行设备运行时的内存信号，可以保证所述内存测试信号与所述内存信号相似，提高测试准确性。进而通过扇出的所述内存电路的示波器接口向所述测试用的示波器发送内存测试信号，可以避免为向示波器输出内存测试信号导致的信号反射，从而避免由于测试设备导致的电路内信号质量变差，从而增强了输出至信号测量工具的内存测试信号的稳定，提高了内存信号测试的准确性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种测试设备，其特征在于，用于测试内存通路；所述测试设备包括：
2.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述模拟电路包括：
3.如权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述信号状态通过眼图体现；
4.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述信号测量工具接口包括：SMA射频连接器。
5.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：
6.一种测试系统，其特征在于，包括：
7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：
8.一种内存测试方法，其特征在于，运行于处理器，包括：
9.如权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于，所述响应于内存测试指令，通过第一内存通路向测试设备发送内存测试信号的步骤包括：
10.如权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于，所述响应于内存工作指令，通过第二内存通路向内存发送内存工作信号，以便内存基于内存工作信号进行内存工作的步骤包括：
11.如权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于，所述信号状态通过眼图体现；
<...【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，用于测试内存通路；所述测试设备包括：
2.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述模拟电路包括：
3.如权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述信号状态通过眼图体现；
4.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述信号测量工具接口包括：sma射频连接器。
5.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：
6.一种测试系统，其特征在于，包括：
7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：
8.一种内存测试方法，其特征在于，运行于处理器，包括：
9.如权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于，所述响应于内存测试指令，...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡涛，杨晓君，程鹏，范铎，孙浩，
申请(专利权)人：成都海光集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：
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