【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电磁防护领域，具体涉及一种基于电磁易损性的靶向电磁防护方法及计算机装置。
技术介绍
1、信息化趋势下，电磁干扰已成为影响电子信息系统正常发挥效能的重要问题之一。当前，针对电子信息系统的系统级电磁易损点排查和治理还处于主要采用遍历法进行，通过逐个关闭所有可能导致电磁易损现象的设备或模块，查找可能的干扰源设备，当面对具有成千上万的电磁发射设备的复杂系统时，这种逐个遍历的方法需要耗费大量时间、难以实施。
2、导致大量电磁易损问题难以解决的根本原因在于：电磁易损排查和诊断手段缺乏机理支撑、没有标准化定向排查和诊断手段。如何系统性解决电子信息系统电磁易损问题，已成为亟待攻克的难题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种基于电磁易损性的靶向电磁防护方法及计算机装置，解决了电子信息系统电磁易损隐患的排查与治理难题，极大地提高了电磁防护能力。
2、本专利技术采取如下技术方案实现上述目的，第一方面，本专利技术提供一种基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，包括：
3、s1、获取电子信息系统电磁发射特性，从电磁发射特性中分析出电磁干扰物理机制；
4、s2、根据电磁干扰物理机制，设计不同易损性测试波形，获取不同参数下的易损阈值；
5、s3、根据获取的易损阈值设置对应的电磁防护指标。
6、进一步的是，步骤s1具体包括：
7、s101、对被试品构成进行分析，获取电磁发射特性测试点位；p>
8、s102、在各个测试点位依次开展电磁发射特性测试，获取发射特性数据；
9、s103、分析电磁发射特性数据，获取被试品的电磁干扰物理机制。
10、进一步的是，步骤s101具体包括：
11、若被试品存在机箱结构，则对被试品机箱结构特性分析，识别出机箱的孔缝尺寸和物理位置，按照孔缝最大尺寸，从大到小依次标记为第一类测试点位的第一测试点、第二测试点、...、第n测试点，若不同的孔缝在同一平面，则该平面中，选择一个最大尺寸孔缝作为测试点位；
12、对被试品互联线缆特性进行分析，按照非屏蔽与屏蔽类型，并根据信号线、控制线、电源线、射频信号线的重要度程度，先后排序标记为第二类测试点位的第一测试点、第二测试点、...、第n测试点，若在同一线束中，则按照最高优先级标记为一个测试点位；
13、对被试品内部板卡或电路模块特性进行分析，按照数字信号处理板、模拟信号处理板、电源板、射频信号处理板的重要度程度，并在板卡上按照控制与处理芯片管脚、时钟模块管脚、电源转换芯片管脚的重要度程序，先后排序标记为第三类测试点位的第一测试点、第二测试点、...、第n测试点。
14、进一步的是，步骤s102具体包括：
15、对第一类测试点位的第一测试点、第二测试点、...、第n测试点，使用典型天线传感器、低噪声放大器和信号接收装置，依次开展辐射发射测试，获取被试品辐射发射特性数据，且对所获取辐射发射特性数据结合天线传感器特性进行数据修正；
16、对第二类测试点位的第一测试点、第二测试点、...、第n测试点，使用典型卡钳探头传感器、低噪声放大器和信号接收装置，依次开展传导发射测试，获取被试品传导发射特性数据，且对所获取传导发射特性数据结合卡钳探头传感器特性进行数据修正；
17、对第三类测试点位的第一测试点、第二测试点、...、第n测试点，使用典型近场探头传感器、低噪声放大器和信号接收装置，依次开展近场发射测试，获取被试品近场发射特性数据，且对所获取近场发射特性数据结合近场探头传感器特性进行数据修正。
18、进一步的是，步骤s103具体包括：
19、宽带分量与细节分量的分离，对测试获得的辐射发射、传导发射、近场发射特性数据，进行宽带和细节分量的分离；
20、失配类电磁干扰机制识别，提取宽带不匹配参数，使用多个不匹配结构传输特性的组合函数，对宽带分量进行拟合，获取宽带不匹配特性参数；
21、宽带梳状谱干扰机制识别，提取宽带周期激励源参数，使用多个宽带周期激励源的混合组合函数，对窄带分量中幅度值大于阈值的频点序列进行拟合，获取出周期脉冲信号的基频，以及周期梯形波信号的基频，并将获取的基频按照大小顺序排列，给出原始宽带周期激励源基频参数，剔除重复基频以及相近在设置范围内的基频值后，给出最终宽带周期激励源基频参数列表；
22、窄带点频干扰机制识别，提取窄带激励源参数，在细节分量中，剔除原始宽带周期激励源基频参数对于的频率及其各次谐波频点幅度值，寻找剩余频率点中幅度大于阈值的频点，按照幅度大小的顺序排列各频率点，给出最终窄带激励源参数列表。
23、进一步的是，步骤s2具体包括：
24、s201、针对失配类电磁干扰的电磁易损阈值获取；
25、以获取的宽带不匹配特性参数为基础，利用任意波形发生器，按照中心频率从低到高排序，产生周期阻尼信号，以该周期阻尼信号作为激励信号，对第一类测试点位、第二类测试点位以及第三类测试点位开展易损性测试，获取失配类信号激励下被试品在不同耦合通道处的易损阈值；
26、s202、针对宽带梳状谱干扰的易损阈值获取；
27、以获取的宽带周期激励源参数为基础，利用任意波形发生器生成相应的宽带脉冲信号，以该宽带脉冲信号为激励信号，对第一类测试点位、第二类测试点位以及第三类测试点位开展易损性测试，获取宽带梳状谱干扰信号激励下被试品在不同耦合通道处的易损阈值；
28、s203、针对窄带点频干扰的易损阈值获取；
29、以获取的窄带激励源参数为基础，利用任意波形发生器生成相应的连续波信号，以该连续波信号作为激励信号，对第一类测试点位、第二类测试点位以及第三类测试点位开展易损性测试，获取窄带点频信号激励下被试品在不同耦合通道处的易损阈值。
30、第二方面，本专利技术提供一种计算机装置，包括存储器，所述存储器存储有程序指令，所述程序指令运行时，执行上述所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法。
31、本专利技术的有益效果为：
32、本专利技术首先获取电子信息系统电磁发射特性，从电磁发射结果中分析电磁干扰物理机制，再根据电子信息系统电磁干扰物理机理，设计不同易损性测试波形，获取不同参数下的易损阈值，最后根据易损参数与易损阈值提出电磁防护指标。本专利技术充分利用电子信息系统电磁发射频谱中的有效信息，通过频谱特征分析得到被试品的干扰机制，并以此为依据设计了不同的易损性测试激励信号进行靶向测试。相比于传统靠试错法逐个排查的方式，本专利技术提供的基于物理机理的判断方式可大幅提升电磁易损性判断效率和准确率。
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1.一种基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤S1具体包括：
3.根据权利要求2所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤S101具体包括：
4.根据权利要求3所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤S102具体包括：
5.根据权利要求4所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤S103具体包括：
6.根据权利要求5所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤S2具体包括：
7.一种计算机装置，包括存储器，所述存储器存储有程序指令，其特征在于，所述程序指令运行时，执行如权利要求1-6任意一项所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法。
【技术特征摘要】
1.一种基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤s1具体包括：
3.根据权利要求2所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤s101具体包括：
4.根据权利要求3所述的基于电磁易损性的靶向电磁防护方法，其特征在于，步骤s102具体包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：王建东，戴飞，苏东林，李丽林，吴琦，徐辉，贾云峰，
申请(专利权)人：中国人民解放军总医院第一医学中心，
类型：发明
国别省市：
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