【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光通信，具体而言，涉及一种lcos芯片的衍射效率测量装置。
技术介绍
1、液晶硅基器件（liquid crystal on silicon，简称lcos），是一种基于反射式液晶显示技术的光学器件，广泛应用于投影显示、空间光调制器（slm）和光学通信等领域。其中，衍射效率是评价lcos器件光学性能的关键指标之一，表示入射光通过lcos器件后有效衍射到指定方向的光强占入射光总强度的比例。衍射效率越高，意味着更多的光被有效利用，成像亮度和光学系统的整体效率越高。
2、相关技术中，测量衍射效率的方式是通过在lcos芯片上加载闪耀光栅，测量由闪耀光栅衍射的衍射光的功率实现的。但是，由于不同周期的闪耀光栅对应不同的衍射角，测量时需要不断更换/调整探测器的位置，或者是配合昂贵的光纤耦合准直器阵列使用，衍射角的角度难以控制，并且整数的光栅周期也导致衍射角呈现出很明显的离散分布，从而不能全面的反应lcos器件的性能。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种lcos芯片的衍射效率测量装置，以便解决现有技术中存在的技术问题。
2、为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：
3、第一方面，本申请实施例提供了一种lcos芯片的衍射效率测量装置，所述装置包括：衍射光路模块、探测模块及处理模块；
4、所述探测模块的输出端与所述处理模块的输入端连接，所述处理模块的输出端与所述衍射光路模块中待测的目标lcos芯片
5、所述处理模块，用于控制所述目标lcos芯片显示不同周期的闪耀光栅；
6、所述衍射光路模块，用于按照预设的衍射光路，将输入的光源信号反射至所述目标lcos芯片，并由所述目标lcos芯片上显示的不同周期的闪耀光栅对接收到的光源信号进行衍射，以产生不同周期的闪耀光栅对应的衍射光；
7、所述探测模块，用于测量各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度，并将各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度发送至所述处理模块；
8、所述处理模块，还用于根据各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度，确定所述目标lcos芯片的衍射效率。
9、可选地，所述衍射光路模块包括：环形单元、准直单元、偏振单元及安装底座；
10、所述安装底座，用于固定安装所述目标lcos芯片；
11、所述环形单元，用于按照预设的第一指定路径，将输入的光源信号反射至所述准直单元；
12、所述准直单元，用于将所述环形单元发出的光束准直为平行光束，并将所述平行光束发送至所述偏振单元；
13、所述偏振单元，用于将所述平行光束转换为线偏振光，并将所述线偏振光发射至所述目标lcos芯片，由所述目标lcos芯片上显示的不同周期的闪耀光栅对所述线偏振光进行衍射，以产生不同周期的闪耀光栅对应的衍射光，并将不同周期的闪耀光栅对应的衍射光反射至所述环形单元；
14、所述环形单元，还用于按照预设的第二指定路径，将不同周期的闪耀光栅对应的衍射光反射至所述探测模块。
15、可选地，所述环形单元包括：三端口光学环形器，所述三端口光学环形器包括：第一端口、第二端口及第三端口；
16、所述第一指定路径用于指示从所述第一端口至所述第二端口的传输路径；所述第二指定路径用于指示从所述第二端口至所述第三端口的传输路径。
17、可选地，所述探测模块包括：光照强度传感器。
18、可选地，所述控制目标lcos芯片显示不同周期的闪耀光栅，包括：
19、获取预先构建的闪耀光栅中波长与闪耀角的关系式；
20、根据所述闪耀光栅中波长与闪耀角的关系式，确定最小相位变化量、不同衍射级次对应的可变系数及衍射角；其中，所述相位变化量与所述不同衍射级次对应的可变系数的乘积为相邻像素之间相位差；
21、根据不同衍射级次对应的可变系数，确定所述衍射角对应的各周期的闪耀光栅；
22、在所述衍射效率测量装置中的准直单元相对于所述目标lcos芯片的偏振角为所述衍射角时，将各所述周期的闪耀光栅发送至所述目标lcos芯片，控制所述目标lcos芯片显示各所述周期的闪耀光栅。
23、可选地，所述根据不同衍射级次对应的可变系数，确定所述衍射角对应的各周期的闪耀光栅，包括：
24、获取预先构建的所述闪耀光栅中每行像素对应的相位值的表达式；
25、分别将各所述衍射级次对应的可变系数输入至所述表达式，得到各所述周期的闪耀光栅的相位图；
26、根据预先构建的所述目标lcos芯片的灰阶-相位关系式与各所述周期的闪耀光栅的相位图，得到各所述周期的闪耀光栅的灰阶图。
27、可选地，所述根据各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度，确定所述目标lcos芯片的衍射效率，包括：
28、获取所述目标lcos芯片的初始光信号强度；
29、分别确定各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度与所述初始光信号强度的比值；
30、根据各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度与所述初始光信号强度的比值，确定所述目标lcos芯片的衍射效率。
31、可选地，所述获取所述目标lcos芯片的初始光信号强度，包括：
32、在所述衍射效率测量装置中的准直单元相对于所述目标lcos芯片的偏振角为零时，控制所述目标lcos芯片显示第一灰阶测试图像，所述第一灰阶测试图像的灰阶值为0；
33、控制所述目标lcos芯片显示多个第二测试灰阶图，所述第二测试灰阶图的灰阶至为目标值，所述目标值为0-255中的任一数值；
34、获取由探测模块探测到的各所述第二测试灰阶图对应的光信号强度，并根据各所述第二测试灰阶图对应的光信号强度，确定所述目标lcos芯片的初始光信号强度。
35、可选地，所述根据各所述第二测试灰阶图对应的光信号强度，确定所述目标lcos芯片的初始光信号强度，包括：
36、确定各所述第二测试灰阶图对应的光信号强度的均值，将所述均值作为所述目标lcos芯片的初始光信号强度。
37、本申请的有益效果是：
38、本申请提供lcos芯片的衍射效率测量装置，该装置包括：衍射光路模块、探测模块及处理模块；探测模块的输出端与处理模块的输入端连接，处理模块的输出端与衍射光路模块中待测的目标lcos芯片的控制端连接；处理模块，用于控制目标lcos芯片显示不同周期的闪耀光栅；衍射光路模块，用于按照预设的衍射光路，将输入的光源信号反射至目标lcos芯片，并由目标lcos芯片上显示的不同周期的闪耀光栅对接收到的光源信号进行衍射，以产生不同周期的闪耀光栅对应的衍射光；探测模块，用于测量各周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度，并将各周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度发送至处理模块；处理模块，还用于根据各周期本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种LCoS芯片的衍射效率测量装置，其特征在于，所述装置包括：衍射光路模块、探测模块及处理模块；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述衍射光路模块包括：环形单元、准直单元、偏振单元及安装底座；
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述环形单元包括：三端口光学环形器，所述三端口光学环形器包括：第一端口、第二端口及第三端口；
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探测模块包括：光照强度传感器。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制所述目标LCoS芯片显示不同周期的闪耀光栅，包括：
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述根据不同衍射级次对应的可变系数，确定所述衍射角对应的各周期的闪耀光栅，包括：
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述根据各所述周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度，确定所述目标LCoS芯片的衍射效率，包括：
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述目标LCoS芯片的衍射效率包括：不同衍射级次的衍射效率。
9.根
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述根据各所述第二测试灰阶图对应的光信号强度，确定所述目标LCoS芯片的初始光信号强度，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种lcos芯片的衍射效率测量装置，其特征在于，所述装置包括：衍射光路模块、探测模块及处理模块；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述衍射光路模块包括：环形单元、准直单元、偏振单元及安装底座；
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述环形单元包括：三端口光学环形器，所述三端口光学环形器包括：第一端口、第二端口及第三端口；
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述探测模块包括：光照强度传感器。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制所述目标lcos芯片显示不同周期的闪耀光栅，包括：
6.根据权利要求5所述的装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡健，陈弈星，张浩军，
申请(专利权)人：南京芯视元电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。