【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种电荷检测质谱分析(cdms)装置和相关联的方法。
技术介绍
1、电荷检测质谱分析(cdms)使得能够表征对新一代生物治疗而言日益重要的诸如完整病毒衣壳之类的大型、高电荷和异质分析物。
2、通常在静电离子捕获器中进行cdms分析。离子在两个反射器(有效地充当离子镜)之间来回摆动，重复通过中心电荷检测电极。对于给定捕获器几何结构和已知的离子能量，离子的质量电荷比(m/z)可根据其摆动频率来确定，而测量到的信号幅度可用于确定离子上的电荷(z)。m/z与z的乘积得出离子质量。
3、为了实现可接受的电荷准确度(在一些情况下是单位电荷)，可能要求捕获时间长达例如数百毫秒。这样做的一种结果是，当能量相同的两个或更多个离子同时被捕获时，它们相互作用的概率可能会很高。这些相互作用改变离子的能量，使得解读所得数据变得复杂。使用传统数据分析方法(例如，快速傅里叶变换(fft))可能会导致cdms装置的有效质量分辨率降低。
4、为了设法减轻分辨率降低，cdms装置可在单离子模式下工作。然而，这会增加构建质谱所要求的时间。对于采用单离子模式的一些应用，可能会花费多个小时才能实现所要求的数据质量。即使小心控制进入的离子流，但是许多所尝试的捕获事件可能会导致根本没有捕获到离子，这一事实可能会加剧这个问题；或者捕获多个离子。实际上，即使当优化单离子捕获操作的离子抵达率时，在随机捕获的操作模式下的成功率可能不高于约37％。
5、进入的离子通过检测电极，然后被端部反射器(镜电极)反射。一种提高成功率
6、此外，在这种模式下，从检测电极获得触发信号，该检测电极必需位于前部反射器与端部反射器之间，即位于捕获区域中。因此，可用于对触发信号进行信号处理以及切换电压(到捕获模式)的时间相对较短，包括端部电极中的周转时间和返回渡越穿过检测电极的时间。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种电荷检测质谱分析(cdms)装置，该cdms装置包括：离子捕获器和至少一个初级电荷检测器，该离子捕获器用于接纳离子流并被配置用于选择性地捕获和分析来自离子流的一个或多个感兴趣的离子，该至少一个初级电荷检测器定位在离子流的路径中的离子捕获器的上游，用于分析离子流，其中，该装置被配置为使得由至少一个初级电荷检测器进行的分析用于选择性地发起离子捕获器中的离子捕获事件。
2、在至少一种实施方案中，捕获事件包括将检测到的一个或多个感兴趣的离子捕获在离子捕获器中。
3、在至少一种实施方案中，初级电荷检测器与离子捕获器之间的距离等于或大于离子捕获器的轴向长度。
4、在至少一种实施方案中，离子捕获器包括次级电荷检测器，用于分析捕获在离子捕获器中的一个或多个感兴趣的离子。
5、在至少一种实施方案中，次级电荷检测器可操作为分析离子流，并且其中，由至少一个初级电荷检测器和次级电荷检测器进行的分析用于选择性地发起离子捕获器中的离子捕获事件。
6、在至少一种实施方案中，初级电荷检测器的内径小于次级电荷检测器的内径。
7、在至少一种实施方案中，初级电荷检测器的轴向长度小于次级电荷检测器的轴向长度。
8、在至少一种实施方案中，初级电荷检测器包括多个检测器电极。
9、在至少一种实施方案中，初级电荷检测器的多个检测器电极中的至少一个检测器电极的轴向长度和/或内径不同于初级电荷检测器的多个检测器电极中的该检测器电极或另一个检测器电极的轴向长度和/或内径。
10、在至少一种实施方案中，初级电荷检测器包括至少三个轴向非对称间隔的检测器电极。
11、在至少一种实施方案中，该装置包括位于初级电荷检测器上游的第一静电透镜和位于初级电荷检测器与离子捕获器之间的第二静电透镜。
12、在至少一种实施方案中，电荷检测质谱分析(cdms)装置还包括操作地连接到离子捕获器和初级电荷检测器的控制器，该控制器被配置为检测通过初级电荷检测器的一个或多个感兴趣的离子以及向离子捕获器发送触发信号以发起离子捕获事件。
13、在至少一种实施方案中，离子捕获器包括第一反射器和第二反射器，并且捕获事件包括增加该第一反射器和/或第二反射器的势能以将所述一个或多个感兴趣的离子捕获在离子捕获器中。
14、在至少一种实施方案中，通过第一反射器将离子流接纳在离子捕获器中，第一反射器选择性地可在透射模式下工作，从而使得离子通过第一反射器，并且第一反射器选择性地可在捕获模式下工作，从而基本上阻止离子通过第一反射器，其中，发起捕获事件包括将第一反射器从所述透射模式改变为所述捕获模式。
15、在至少一种实施方案中，电荷检测质谱分析(cdms)装置还包括在第一反射器与第二反射器之间的次级电荷检测器，用于分析捕获在离子捕获器中的一个或多个感兴趣的离子。
16、本专利技术还提供一种电荷检测质谱分析(cdms)的方法，该方法包括：提供离子捕获器和在该离子捕获器上游的初级电荷检测器；使离子流通过初级电荷检测器和离子捕获器；分析在初级电荷检测器处的离子流以获得一个或多个感兴趣的离子；以及基于对初级电荷检测器处的离子流进行的分析来发起离子捕获器中的离子捕获事件。
17、在至少一种实施方案中，离子捕获器包括第一反射器和第二反射器，并且发起离子捕获事件包括增加该第一反射器和/或第二反射器的势能以将所述一个或多个感兴趣的离子捕获在离子捕获器中。
18、本专利技术还提供一种电荷检测质谱分析(cdms)装置，该cdms装置包括：离子捕获器，该离子捕获器用于接纳离子流并被配置用于选择性地捕获和分析来自离子流的一个或多个离子，该离子捕获器包括第一反射器和第二反射器以及至少一个电荷检测器，该至少一个电荷检测器定位在第一反射器与第二反射器之间，其中，第一反射器和第二反射器中的至少一者被配置为选择性地在第一模式或第二模式下工作，其中，离子在第一模式下从反射器反射的时间比该离子在第二模式下反射的时间更长，其中，该装置被配置为使得电荷检测器的输出用于选择性地改变反射器的模式。
19、在至少一种实施方案中，电荷检测质谱分析(cdms)装置被配置为在电荷检测器检测到至少一个感兴趣的离子时将反射器从第一模式改变为第二模式。
20、在至少一种实施方案中，第一反射器和第二反射器中的至少一者包括第一反射器模块和第二反射器模块，该第一反射器模块布置在电荷检测器与该第二反射器模块之间，
21、第一反射器模块选择性地可在透射模本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电荷检测质谱分析(CDMS)装置，所述电荷检测质谱分析(CDMS)装置包括：
2.根据权利要求1所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述捕获事件包括将检测到的一个或多个感兴趣的离子捕获在所述离子捕获器中。
3.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述初级电荷检测器与所述离子捕获器之间的距离等于或大于所述离子捕获器的轴向长度。
4.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述离子捕获器包括次级电荷检测器，所述次级电荷检测器用于分析捕获在所述离子捕获器中的一个或多个感兴趣的离子。
5.根据权利要求4所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述次级电荷检测器能够操作为分析所述离子流，并且其中，由所述至少一个初级电荷检测器和所述次级电荷检测器进行的所述分析用于选择性地发起所述离子捕获器中的所述离子捕获事件。
6.根据权利要求4或5所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述初级电荷检测器的内径小于所述次级电荷检测器的内径。
7.根据
8.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述初级电荷检测器包括多个检测器电极。
9.根据权利要求8所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述初级电荷检测器的所述多个检测器电极中的至少一个检测器电极的轴向长度和/或内径不同于所述初级电荷检测器的所述多个检测器电极中的所述检测器电极或另一个检测器电极的轴向长度和/或内径。
10.根据权利要求8或9所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述初级电荷检测器包括至少三个轴向非对称间隔的检测器电极。
11.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述装置包括位于所述初级电荷检测器上游的第一静电透镜和位于所述初级电荷检测器与所述离子捕获器之间的第二静电透镜。
12.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，所述电荷检测质谱分析(CDMS)装置还包括操作地连接到所述离子捕获器和所述初级电荷检测器的控制器，所述控制器被配置为检测通过所述初级电荷检测器的一个或多个感兴趣的离子以及向所述离子捕获器发送触发信号以发起所述离子捕获事件。
13.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述离子捕获器包括第一反射器和第二反射器，并且所述捕获事件包括增加所述第一反射器和/或所述第二反射器的势能以将所述一个或多个感兴趣的离子捕获在所述离子捕获器中。
14.根据权利要求13所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，通过所述第一反射器将所述离子流接纳在所述离子捕获器中，所述第一反射器选择性地能够在透射模式下工作，从而使得离子通过所述第一反射器，并且所述第一反射器选择性地能够在捕获模式下工作，从而基本上阻止离子通过所述第一反射器，其中，所述发起所述捕获事件包括将所述第一反射器从所述透射模式改变为所述捕获模式。
15.根据权利要求13或14所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，所述电荷检测质谱分析(CDMS)装置还包括在所述第一反射器与所述第二反射器之间的次级电荷检测器，用于分析捕获在所述离子捕获器中的一个或多个感兴趣的离子。
16.一种电荷检测质谱分析(CDMS)的方法，所述电荷检测质谱分析(CDMS)的方法包括：
17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述离子捕获器包括第一反射器和第二反射器，并且发起离子捕获事件包括增加所述第一反射器和/或所述第二反射器的势能以将所述一个或多个感兴趣的离子捕获在所述离子捕获器中。
18.一种电荷检测质谱分析(CDMS)装置，所述电荷检测质谱分析(CDMS)装置包括：
19.根据权利要求18所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，所述电荷检测质谱分析(CDMS)装置被配置为在所述电荷检测器检测到至少一个感兴趣的离子时将所述反射器从所述第一模式改变为所述第二模式。
20.根据权利要求18或19所述的电荷检测质谱分析(CDMS)装置，其中，所述第一反射器和所述第二反射器中的至少一者包括第一反射器模块和第二反射器模块，所述第一反射器模块布置在所述电荷检测器与所述第二反射器模块之间，
21.一种电荷检测质谱分析(CDMS)的方法，所述电荷检测质谱分析(CDMS)的方法包括：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种电荷检测质谱分析(cdms)装置，所述电荷检测质谱分析(cdms)装置包括：
2.根据权利要求1所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述捕获事件包括将检测到的一个或多个感兴趣的离子捕获在所述离子捕获器中。
3.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述初级电荷检测器与所述离子捕获器之间的距离等于或大于所述离子捕获器的轴向长度。
4.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述离子捕获器包括次级电荷检测器，所述次级电荷检测器用于分析捕获在所述离子捕获器中的一个或多个感兴趣的离子。
5.根据权利要求4所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述次级电荷检测器能够操作为分析所述离子流，并且其中，由所述至少一个初级电荷检测器和所述次级电荷检测器进行的所述分析用于选择性地发起所述离子捕获器中的所述离子捕获事件。
6.根据权利要求4或5所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述初级电荷检测器的内径小于所述次级电荷检测器的内径。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述初级电荷检测器的轴向长度小于所述次级电荷检测器的轴向长度。
8.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述初级电荷检测器包括多个检测器电极。
9.根据权利要求8所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述初级电荷检测器的所述多个检测器电极中的至少一个检测器电极的轴向长度和/或内径不同于所述初级电荷检测器的所述多个检测器电极中的所述检测器电极或另一个检测器电极的轴向长度和/或内径。
10.根据权利要求8或9所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述初级电荷检测器包括至少三个轴向非对称间隔的检测器电极。
11.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，其中，所述装置包括位于所述初级电荷检测器上游的第一静电透镜和位于所述初级电荷检测器与所述离子捕获器之间的第二静电透镜。
12.根据任一前述权利要求所述的电荷检测质谱分析(cdms)装置，所述电荷检测质谱分析(cdms)装置还包括操作地连接到所述离...
【专利技术属性】
技术研发人员：大卫·J·兰格里奇，基思·理查森，
申请(专利权)人：英国质谱公司，
类型：发明
国别省市：
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