【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体，尤其涉及工程样件开发管理方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在半导体的量产制造过程中，产品的工艺路线图、物料的使用、制程设备、参数等都经过评估验证，并最终满足产品的需求，因此有成熟的mes系统(manufacturingexecution system，制造执行系统)或者其他的生产管理系统，在量产前将产品的基础信息维护进系统，可以在量产的过程中对生产进行放错验证以及生产记录等，以监测生产状态并存储数据以供后续的追溯查询。
2、但是在新产品开发初期阶段，需要以初期的各种评估结果制定项目的工艺路线图以及项目所需使用的材料等，通常需要进行多次评估，摸索不同的工艺流程，增加或减少工序，以及摸索不同的新材料及不同材料间的组合评估、工艺参数的评估、可靠性验证。由于新产品的种类繁多、新产品的工艺路线以及物料等还未最终确定，而新产品通常会需要制作很多不同的工艺路线组合、不同物料组合等的工程样件，传统的方式是手动开具工程评估批次单或者手动记录的方式，以记录新产品阶段产品工程制样的时间、目的、生产作业过程中所使用的物料等信息，一方面手动记录及信息的传递会存在偏差，影响到工程样件评估结果的准确性和项目的进度，另一方面则需要花费较多的时间将工程样件各个工序的记录结果进行汇总，并花费大量的时间和整理前期各个评估批次的工程样件的各相关工序的记录，在记录管理方面效率低下。
技术实现思路
1、本申请实施方式主要解决的技术问题是传统的工程样件在开发阶段评估准确率有待提高，以
2、为解决上述技术问题，本申请实施方式采用的第一个技术方案是：提供一种工程样件开发管理方法，包括：根据开发阶段的项目类别配置工程样件对应的通用成品料号，根据所述通用成品料号配置对应的工艺流程库、物料清单库和设备清单库；根据接收的工程样件制样需求生成对应的工程样件制样基本信息，以及匹配对应的目标通用成品料号；根据所述目标通用成品料号在所述工艺流程库获取目标工艺流程数据，根据所述目标工艺流程数据在所述物料清单库中获取对应的目标物料清单数据，根据所述目标工艺流程数据在所述设备清单库中获取对应的目标设备清单数据；根据所述工程样件制样基本信息、所述目标工艺流程数据、所述目标物料清单数据和所述目标设备清单数据生成制样指令，发送所述制样指令至生产线；实时监测所述制样指令在生产线中的执行记录，并存储所述执行记录。
3、可选地，所述根据所述目标通用成品料号在所述工艺流程库获取目标工艺流程数据的步骤之后，还包括：根据所述目标工艺流程数据筛选所述生产线中的工艺站点，得到对应的目标工艺站点；按照用户对工艺流程数据的选择顺序、和/或已存储的历史工艺数据、和/或所述工程样件制样需求，对所述工艺站点的工艺处理子流程进行图形化排序，得到目标工艺流程图；接收用户对所述目标工艺流程图的人工修改，得到更新后的所述目标工艺流程图。
4、可选地，所述根据所述目标工艺流程数据在所述物料清单库中获取对应的目标物料清单数据的步骤，包括：获取所述目标工艺处理子流程执行时对应需要的工艺物料数据；根据所述工艺物料数据在所述物料清单库中进行筛选，得到对应的目标物料清单数据；根据所述工艺物料数据与所述目标工艺处理子流程的对应关系，建立所述目标物料清单数据与所述目标工艺站点的第一关联关系，添加所述第一关联关系至所述目标工艺流程图。
5、可选地，所述根据所述目标工艺流程数据在所述设备清单库中获取对应的目标设备清单数据的步骤，包括：获取所述目标工艺处理子流程执行时对应需要的工艺设备数据；根据所述工艺设备数据在所述设备清单库中进行筛选，得到对应的目标设备清单数据；根据所述工艺设备数据与所述目标工艺处理子流程的对应关系，建立所述目标设备清单数据与所述目标工艺站点的第二关联关系，添加所述第二关联关系至所述目标工艺流程图。
6、可选地，所述获取所述目标工艺处理子流程执行时对应需要的工艺物料数据的步骤之后，还包括：根据所述工艺物料数据在所述设备清单库中进行筛选，得到对应的物料处理设备数据；添加所述物料处理设备数据至所述目标设备清单数据。
7、可选地，所述根据所述工程样件制样基本信息、所述目标工艺流程数据、所述目标物料清单数据和所述目标设备清单数据生成制样指令的步骤之前，还包括：根据所述目标工艺流程数据、所述目标物料清单数据和所述目标设备清单数据生成所述工程样件制样基本信息对应图形化的制样流程图；接收用户对所述图形化的制样流程图中工艺流程、物料和设备的图形化操作调整，得到更新后的制样流程图；根据所述更新后的制样流程图，更新所述目标工艺流程数据、目标物料清单数据和所述目标设备清单数据。
8、可选地，所述实时监测所述制样指令在生产线中的执行记录，并存储所述执行记录的步骤，包括：监测生产线中的工程样件的制样状态，对每个制样状态对应的物料数据进行防错验证，直至通过防错验证，控制对应的工程样件进入到下一制样状态；存储所述执行记录，并根据预设异常检测规则对所述执行记录进行回溯检验；若所述回溯检验中抛出异常执行记录，根据预设异常处理规则，暂停对应的工程样件的制样流程，或者发送对应的异常执行记录告警。
9、为解决上述技术问题，本申请实施方式采用的第二个技术方案是：提供一种工程样件开发管理装置，包括：数据配置模块，用于根据开发阶段的项目类别配置工程样件对应的通用成品料号，根据所述通用成品料号配置对应的工艺流程库、物料清单库和设备清单库；制样信息模块，用于根据接收的工程样件制样需求生成对应的工程样件制样基本信息，以及匹配对应的目标通用成品料号；数据获取模块，用于根据所述目标通用成品料号在所述工艺流程库获取目标工艺流程数据，根据所述目标工艺流程数据在所述物料清单库中获取对应的目标物料清单数据，根据所述目标工艺流程数据在所述设备清单库中获取对应的目标设备清单数据；制样指令模块，用于根据所述工程样件制样基本信息、所述目标工艺流程数据、所述目标物料清单数据和所述目标设备清单数据生成制样指令，发送所述制样指令至生产线；执行记录模块，用于实时监测所述制样指令在生产线中的执行记录，并存储所述执行记录。
10、为解决上述技术问题，本申请实施方式采用的第三个技术方案是：提供一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的工程样件开发管理方法。
11、为解决上述技术问题，本申请实施方式采用的第四个技术方案是：提供一种非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，所述非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被电子设备执行时，使所述电子设备执行如上所述的工程样件开发管理方法。
12、区别于相关技术的情况，本申请实现了工程样件在研发阶段的系统化管理，不仅提高了工程样件在研发阶段的信息管理效率，而且降低了由于信息管本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种工程样件开发管理方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述目标通用成品料号在所述工艺流程库获取目标工艺流程数据的步骤之后，还包括：
3.根据权利要求2所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述目标工艺流程数据在所述物料清单库中获取对应的目标物料清单数据的步骤，包括：
4.根据权利要求2所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述目标工艺流程数据在所述设备清单库中获取对应的目标设备清单数据的步骤，包括：
5.根据权利要求3所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述获取所述目标工艺处理子流程执行时对应需要的工艺物料数据的步骤之后，还包括：
6.根据权利要求1所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述工程样件制样基本信息、所述目标工艺流程数据、所述目标物料清单数据和所述目标设备清单数据生成制样指令的步骤之前，还包括：
7.根据权利要求1所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述实时监测所述制样指令在生产线中的执行记录，并存
8.一种工程样件开发管理装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，所述非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被电子设备执行时，使所述电子设备执行权利要求1-7任一项所述的工程样件开发管理方法。
...【技术特征摘要】
1.一种工程样件开发管理方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述目标通用成品料号在所述工艺流程库获取目标工艺流程数据的步骤之后，还包括：
3.根据权利要求2所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述目标工艺流程数据在所述物料清单库中获取对应的目标物料清单数据的步骤，包括：
4.根据权利要求2所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述根据所述目标工艺流程数据在所述设备清单库中获取对应的目标设备清单数据的步骤，包括：
5.根据权利要求3所述的工程样件开发管理方法，其特征在于，所述获取所述目标工艺处理子流程执行时对应需要的工艺物料数据的步骤之后，还包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：曾云兰，蒋卫娟，朱佳伟，孙炎权，
申请(专利权)人：基本半导体无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：
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