【技术实现步骤摘要】
本公开的实施例涉及一种时序余量检测装置、时序余量检测方法、电子设备、芯片及存储介质。
技术介绍
1、随着计算芯片的性能越来越高，功耗已成为芯片性能提升的新的瓶颈。由于芯片的尺寸很小，功耗密度很高，芯片在工作过程中产生的热量无法充分散发，会导致芯片温度升高，在温度超过阈值时，芯片可能会失效甚至烧毁。因此，目前的处理方式是严格控制功耗密度，从而控制芯片的温度。限制功耗密度通常是通过限制芯片的最高工作频率和工作电压来实现的，这又会影响芯片的最高性能。
2、芯片的功耗近似于与工作电压的平方成正比，降低工作电压可以显著降低芯片的功耗。但是低电压会导致芯片无法正常工作，因此找到芯片的最低可靠工作电压是降低芯片功耗且提高芯片的性能的一个重要手段。
技术实现思路
1、本公开的一个或多个实施例提供了一种时序余量检测装置、时序余量检测方法、电子设备、芯片及存储介质，用于解决定制ip电路的成本高、通用性差等技术问题。
2、第一方面，本公开至少一实施例提供了一种时序余量检测装置，包括：参考信号获取模块，被配置为根据被检测路径的传输信号，获取参考信号，其中，被检测路径与时序余量检测装置连接，参考信号指示传输信号是否发生跳变；检测信号获取模块，被配置为响应于传输信号发生跳变，获取传输信号对应的检测信号，其中，检测信号为对传输信号进行延迟处理后得到的，其中，参考信号和检测信号用于确定被检测路径的时序余量是否充足。
3、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，
4、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，参考信号获取模块包括：第一触发单元，被配置为根据传输信号和时钟信号的上升沿输出参考信号。
5、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，参考信号获取模块还包括：第一异或单元，与被检测路径连接，被配置为对传输信号和传输信号的采样结果进行异或操作，得到第一异或结果，并将第一异或结果输入第一触发单元，以获取参考信号。
6、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，参考信号获取模块还包括：第二触发单元，被配置为根据传输信号的采样结果和时钟信号的上升沿输出触发信号；和第二异或单元，与被检测路径和第二触发单元连接，被配置为对传输信号的采样结果和触发信号进行异或操作，得到第二异或结果，并将第二异或结果输入第一触发单元，以获取参考信号。
7、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，检测信号获取模块，包括：延迟单元，与被检测路径连接，被配置为接收传输信号，对传输信号进行延迟处理，获取延迟信号；第三异或单元，与延迟单元连接，被配置为对传输信号的采样结果和延迟信号进行异或操作，得到第三异或结果；和第三触发单元，与第三异或单元连接，被配置为根据第三异或结果和时钟信号的上升沿输出检测信号。
8、可选地，根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置，还包括：采样单元，与被检测路径连接，被配置为接收传输信号，对传输信号进行采样，获取传输信号的采样结果。
9、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，第一触发单元、第二触发单元和第三触发单元中的至少一项由触发器实现。
10、可选地，根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置，还包括：检测模块，与参考信号获取模块和检测信号获取模块连接，被配置为根据参考信号和检测信号，确定被检测路径的时序余量。
11、可选地，根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置，还包括：调整模块，与检测模块连接，被配置为根据被检测路径的时序余量，对被检测路径的工作电压进行调整。
12、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，检测模块被配置为对参考信号和检测信号进行时序分析，确定参考信号和检测信号是否发生跳变，其中，在参考信号发生跳变以及检测信号发生跳变时，确定被检测路径的时序余量充足；在参考信号发生跳变且检测信号未发生跳变时，确定被检测路径的时序余量不充足。
13、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测装置中，调整模块被配置为：响应于被检测路径的时序余量不充足，增大工作电压；以及响应于被检测路径的时序余量充足，降低工作电压或保持工作电压。
14、第二方面，本公开至少一实施例提供了一种时序余量检测方法，所述时序余量检测方法包括：根据被检测路径的传输信号，获取参考信号，其中，被检测路径与时序余量检测装置连接，参考信号指示传输信号是否发生跳变；响应于传输信号发生跳变，获取传输信号对应的检测信号，其中，检测信号为对传输信号进行延迟处理后得到的，其中，参考信号和检测信号用于确定被检测路径的时序余量是否充足。
15、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的时序余量检测方法中，被检测路径为芯片中的关键路径，关键路径为芯片的一个时钟域的多个被检测路径中时延最大的被检测路径。
16、第三方面，本公开至少一实施例提供了一种时序余量检测装置，所述时序余量检测装置包括：至少一个处理装置和存储器；其中，存储器上存储有计算机程序，计算机程序被至少一个处理装置执行时，实现如上述第二方面中任一项的时序余量检测方法。
17、第四方面，本公开至少一实施例提供了一种芯片，所述芯片包括：如上述第一方面或第三方面中任一项的时序余量检测装置或第三方面的时序余量检测装置。
18、可选地，在根据本公开至少一实施例提供的芯片中，芯片包括多个时钟域，被检测路径为对象时钟域的关键路径，其中关键路径为对象时钟域中的多个路径中时延最大的路径。
19、第五方面，本公开至少一实施例提供了一种电子设备，包括根据第四方面中任一项的芯片。
20、第六方面，本公开至少一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，其中，指令被处理器执行时，实现第二方面中任一项的方法。
21、本公开的至少一实施例所提供的时序余量检测装置、时序余量检测方法、时序余量检测装置、芯片及存储介质，通过获得参考信号和检测信号，可以精准的确定被检测路径的时序余量是否充足，并进一步进行工作电压的精确调整。时序余量检测装置功能及结构简单，成本低，且不依赖于芯片的工艺或设计，从而通用性高。
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1.一种时序余量检测装置，包括：
2.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，其中，所述被检测路径为芯片中的关键路径，所述关键路径为所述芯片的一个时钟域的多个被检测路径中时延最大的被检测路径。
3.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，其中，所述参考信号获取模块包括：
4.根据权利要求3所述的时序余量检测装置，其中，所述参考信号获取模块还包括：
5.根据权利要求3所述的时序余量检测装置，其中，所述参考信号获取模块还包括：
6.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，其中，所述检测信号获取模块，包括：
7.根据权利要求1-6中任一项所述的时序余量检测装置，还包括：
8.根据权利要求3-6中任一项所述的时序余量检测装置，其中，第一触发单元、第二触发单元和第三触发单元中的至少一项由触发器实现。
9.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，还包括：
10.根据权利要求9所述的时序余量检测装置，还包括：
11.根据权利要求9所述的时序余量检测装置，其中，所述检测模块被配置为对所
12.根据权利要求10所述的时序余量检测装置，其中，所述调整模块被配置为：
13.一种时序余量检测方法，包括：
14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述被检测路径为芯片中的关键路径，所述关键路径为所述芯片的一个时钟域的多个被检测路径中时延最大的被检测路径。
15.一种时序余量检测装置，包括：
16.一种芯片，包括：
17.根据权利要求16所述的芯片，其中，所述芯片包括多个时钟域，所述被检测路径为对象时钟域的关键路径，其中所述关键路径为所述对象时钟域中的多个路径中时延最大的路径。
18.一种电子设备，包括根据权利要求16或17所述的芯片。
19.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可执行指令，其中，所述指令被处理器执行时，实现权利要求13或14所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种时序余量检测装置，包括：
2.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，其中，所述被检测路径为芯片中的关键路径，所述关键路径为所述芯片的一个时钟域的多个被检测路径中时延最大的被检测路径。
3.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，其中，所述参考信号获取模块包括：
4.根据权利要求3所述的时序余量检测装置，其中，所述参考信号获取模块还包括：
5.根据权利要求3所述的时序余量检测装置，其中，所述参考信号获取模块还包括：
6.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，其中，所述检测信号获取模块，包括：
7.根据权利要求1-6中任一项所述的时序余量检测装置，还包括：
8.根据权利要求3-6中任一项所述的时序余量检测装置，其中，第一触发单元、第二触发单元和第三触发单元中的至少一项由触发器实现。
9.根据权利要求1所述的时序余量检测装置，还包括：
10.根据权利要求9所述的时序余量检测装置，还包括：
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【专利技术属性】
技术研发人员：高明星，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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