【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光模块测试领域，具体涉及一种光模块单体辐射的测试方法及装置。
技术介绍
1、由于光电行业发展迅速，对光模块的电磁兼容性能越来越重视，为了保证光模块的电磁兼容性能满足标准要求，需要对光模块的电磁辐射按照emc的协议要求进行测试与管控，目前对光模块的电磁辐射评估主要以光模块在交换机的整机测试为主，光模块在交换机上的满配整机数量一般有24/32/48/56/128等规格，而为了更好的管控光模块的电磁辐射情况，需要提前对光模块的单体进行电磁辐射测试，确保光模块的单体辐射在符合协议标准的限值内，便于评估光模块在交换机整机工作时的电磁辐射情况。
技术实现思路
1、鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端，本专利技术实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种光模块单体辐射的测试方法，具体方案如下：
2、作为本专利技术的第一方面，提供一种光模块单体辐射的测试方法，所述方法包括：
3、步骤1，将待测光模块单体插入emc测试工装中，将emc测试工装和用于接收辐射信号的接收天线位于设置有吸波材料的暗室中；
4、步骤2，通过误码仪测量待测光模块工作时的误码率，并通过接收天线接收误码率在预设范围时的待测光模块单体的辐射信号；
5、步骤3，通过所述辐射信号判断光模块单体辐射性能。
6、进一步地，通过如下方法测量待测光模块工作时的误码率：
7、步骤1.1，通过误码仪发出电信号，通过光源模块将误码仪发出的电信号转化成光
8、步骤1.2，待测试光模块接收到光信号后，将接收的光信号转化为电信号并经过电信号自环后转化为光信号发送给光源模块；
9、步骤1.3，光源模块接收待测试光模块发出的光信号后，将光信号转化成电信号并传输给误码仪；
10、步骤1.4，误码仪通过发出电信号和接收电信号，计算光模块工作时的误码率。
11、进一步地，光源模块与待测光模块之间设置有光衰减器，步骤1.1中，光源模块发送给待测光模块的光信号为通过光衰减器衰减后的光信号；步骤1.2中，待测试光模块发送给光源模块的光信号也是通过光衰减器衰减后的光信号。
12、进一步地，所述emc测试工装的外壳为电磁屏蔽罩，所述emc测试工装内部设计为电信号自环的测试板。
13、进一步地，所述方法还包括，将emc测试工装放置于转台上，测试过程中，通过转台带动emc测试工装进行360°旋转。
14、进一步地，所述emc测试工装离地高度为0.8m，所述接收天线的高度为1m-1.5m之间，所述待测光模块中心到接收天线的水平距离为3m。
15、作为本专利技术的第二方面，提供一种光模块单体辐射的测试装置，所述装置包括：emc测试工装、误码仪、emi接收机、设置有吸波材料的暗室和用于接收辐射信号的接收天线，待测光模块单体插入于所述emc测试工装中，所述emc测试工装和接收天线位于设置有吸波材料的暗室中；
16、所述用于测量待测光模块工作时的误码率，所述接收天线用于接收误码率在预设范围时的待测光模块单体的辐射信号；所述emi接收机用于通过所述辐射信号判断光模块单体辐射性能。
17、进一步地，所述误码仪与待测光模块之间设置有光源模块，所述通过如下方法测量待测光模块工作时的误码率；
18、通过误码仪发出电信号，通过光源模块将误码仪发出的电信号转化成光信号后发送给待测光模块；
19、待测试光模块接收到光信号后，将接收的光信号转化为电信号并经过电信号自环后转化为光信号发送给光源模块；
20、光源模块接收待测试光模块发出的光信号后，将光信号转化成电信号并传输给误码仪；
21、误码仪通过发出电信号和接收电信号，计算光模块工作时的误码率；
22、其中，光源模块与待测光模块之间设置有光衰减器，光源模块发送给待测光模块的光信号为通过光衰减器衰减后的光信号；待测试光模块发送给光源模块的光信号也是通过光衰减器衰减后的光信号。
23、进一步地，述emc测试工装的外壳为电磁屏蔽罩，所述emc测试工装内部设计为电信号自环的测试板，所述emc测试工装离地高度为0.8m，所述接收天线的高度为1m-1.5m之间，所述待测光模块中心到接收天线的水平距离为3m。
24、进一步地，所述装置还包括转台，所述emc测试工装放置于转台上，测试过程中，通过转台带动emc测试工装进行360°旋转。
25、本专利技术具有以下有益效果：
26、1、本测试方法操作简单，可复用性强，便于环境搭建。
27、2、本测试方法测试所需时间更少，便于工程师快速了解产品的单体辐射性能。
28、3、本测试方法可更换不同封装的测试工装，可适配多种产品的光模块单体测试。
29、4、本测试方法通过暗室环境屏蔽与测试工装屏蔽来排除外界环境干扰，提高了测试结果的准确性与一致性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，通过如下方法测量待测光模块工作时的误码率：
3.根据权利要求2所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，光源模块与待测光模块之间设置有光衰减器，步骤1.1中，光源模块发送给待测光模块的光信号为通过光衰减器衰减后的光信号；步骤1.2中，待测试光模块发送给光源模块的光信号也是通过光衰减器衰减后的光信号。
4.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述EMC测试工装的外壳为电磁屏蔽罩，所述EMC测试工装内部设计为电信号自环的测试板。
5.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述方法还包括，将EMC测试工装放置于转台上，测试过程中，通过转台带动EMC测试工装进行360°旋转。
6.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述EMC测试工装离地高度为0.8m，所述接收天线的高度为1m-1.5m之间，所述待测光模块中心到接收天线的水平距离为3m。p>
7.一种光模块单体辐射的测试装置，其特征在于，所述装置包括：EMC测试工装、误码仪、EMI接收机、设置有吸波材料的暗室和用于接收辐射信号的接收天线，待测光模块单体插入于所述EMC测试工装中，所述EMC测试工装和接收天线位于设置有吸波材料的暗室中；
8.根据权利要求7所述的光模块单体辐射的测试装置，其特征在于，所述误码仪与待测光模块之间设置有光源模块，所述通过如下方法测量待测光模块工作时的误码率；
9.根据权利要求7所述的光模块单体辐射的测试装置，其特征在于，述EMC测试工装的外壳为电磁屏蔽罩，所述EMC测试工装内部设计为电信号自环的测试板，所述EMC测试工装离地高度为0.8m，所述接收天线的高度为1m-1.5m之间，所述待测光模块中心到接收天线的水平距离为3m。
10.根据权利要求7所述的光模块单体辐射的测试装置，其特征在于，所述装置还包括转台，所述EMC测试工装放置于转台上，测试过程中，通过转台带动EMC测试工装进行360°旋转。
...【技术特征摘要】
1.一种光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，通过如下方法测量待测光模块工作时的误码率：
3.根据权利要求2所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，光源模块与待测光模块之间设置有光衰减器，步骤1.1中，光源模块发送给待测光模块的光信号为通过光衰减器衰减后的光信号；步骤1.2中，待测试光模块发送给光源模块的光信号也是通过光衰减器衰减后的光信号。
4.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述emc测试工装的外壳为电磁屏蔽罩，所述emc测试工装内部设计为电信号自环的测试板。
5.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述方法还包括，将emc测试工装放置于转台上，测试过程中，通过转台带动emc测试工装进行360°旋转。
6.根据权利要求1所述的光模块单体辐射的测试方法，其特征在于，所述emc测试工装离地高度为0.8m，所述接收天线的高度为1m-1.5m之间...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷耘知，熊文，夏天宇，张卓颖，
申请(专利权)人：武汉华工正源光子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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