【技术实现步骤摘要】
本申请涉及自动化设备，尤其涉及单点标定方法、装置、设备、存储介质及产品。
技术介绍
1、在产品平面度ccd检测项目中，经常会用到3d激光传感器对产品的平面度进行3d线扫测量。
2、为保证测量准确性，在测量产品的平面度前，需要先使用标准检测设备omm（optical measuring machine，光学测量机）对3d激光传感器进行标定，以保证3d激光传感器对产品的测量符合标准。目前，在对3d激光传感器进行标定时，通常是先利用omm与3d激光传感器分别测量产品的平面度，再结合二者测量的平面度，对3d激光传感器进行标定补偿。但是，该补偿方法容易受产品的平面度整体尺寸波动影响，导致对3d激光传感器标定的精准性较低。
3、上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种单点标定方法，旨在解决对3d激光传感器标定的精准性较低的技术问题。
2、为实现上述目的，本申请提出一种单点标定方法，所述的方法包括：
3、获取3d激光传感器对标准件中当前测量点测量的第一点位高度，以及omm对所述当前测量点测量的第二点位高度；
4、基于所述第一点位高度与所述第二点位高度，对所述3d激光传感器进行补偿，获得所述3d激光传感器对所述当前测量点的补偿点位高度；
5、基于所述补偿点位高度，对所述3d激光传感器进行单点标定。
6、在一实施例中，所述基于所述补偿点位
7、基于所述补偿点位高度，对所述3d激光传感器进行单点测试；
8、对标定的所述3d激光传感器进行验证，确定对所述3d激光传感器的标定误差；
9、判断所述标定误差是否满足预设精度要求；
10、若不满足所述预设精度要求，则执行获取3d激光传感器对标准件中当前测量点测量的第一点位高度，以及omm对所述当前测量点测量的第二点位高度的步骤，直至所述标定误差是否满足预设精度要求，完成对所述3d激光传感器进行单点标定。
11、在一实施例中，所述对标定的所述3d激光传感器进行验证，确定对所述3d激光传感器的标定误差的步骤包括：
12、获取标定后所述3d激光传感器对所述标准件进行平面度测量的测量高度；
13、基于所述测量高度与所述第二点位高度，确定对所述3d激光传感器的标定误差。
14、在一实施例中，所述基于所述补偿点位高度，对所述3d激光传感器进行单点标定的步骤之后包括：
15、在获得到所述3d激光传感器对所述标准件中所有测量点的补偿点位高度后，基于各所述补偿点位高度，对所述标准件进行平面拟合，确定所述标准件的拟合平面；
16、基于所述拟合平面，检测对3d激光传感器的整体标定结果。
17、在一实施例中，所述基于所述第一点位高度与所述第二点位高度，对所述3d激光传感器进行补偿，获得所述3d激光传感器对所述当前测量点的补偿点位高度的步骤包括：
18、对所述第一点位高度与所述第二点位高度进行差值计算，获得所述3d激光传感器对所述当前测量点的测量误差；
19、基于所述测量点的测量误差，对所述3d激光传感器进行补偿，获得所述当前测量点的补偿点位高度。
20、在一实施例中，所述获取3d激光传感器对标准件中当前测量点测量的第一点位高度，以及omm对所述当前测量点测量的第二点位高度的步骤之前还包括：
21、从预设标准件集中选择预设数量个标准件，所述标准件包括预设子数量个超出平面度标准波动下限的下限标准件、预设子数量个超出所述平面度标准波动上限的上限标准件、预设子数量个位于所述平面度标准波动中值的中值标准件、预设子数量个位于所述平面度标准波动内最靠近下限的下限靠近标准件，以及预设子数量个位于所述平面度标准波动内最靠近上限的上限靠近标准件。
22、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种单点标定装置，所述单点标定装置包括：
23、获取模块，用于获取3d激光传感器对标准件中当前测量点测量的第一点位高度，以及omm对所述当前测量点测量的第二点位高度；
24、补偿模块，用于基于所述第一点位高度与所述第二点位高度，对所述3d激光传感器进行补偿，获得所述3d激光传感器对所述当前测量点的补偿点位高度；
25、标定模块，用于基于所述补偿点位高度，对所述3d激光传感器进行单点标定。
26、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种单点标定设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序配置为实现如上文所述的单点标定方法的步骤。
27、此外，为实现上述目的，本申请还提出一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述的单点标定方法的步骤。
28、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述的单点标定方法的步骤。
29、本申请提出的一个或多个技术方案，至少具有以下技术效果：
30、通过3d激光传感器与omm分别测量标准件的相同测量点，获得3d激光传感器测量当前测量点的第一点位高度，以及omm测量当前测量点的第二点位高度，以保证omm与3d激光传感器对标准件测量的点位是相同的，减少点位不同带来的标定误差，再根据第一点位高度与第二点位高度，对3d激光传感器进行单点补偿，获得补偿点位高度，以对3d激光传感器针对当前测量点进行标定补偿，由于3d激光传感器与omm测量的测量点是相同，且点不容易受到产品尺寸的影响，因此，提高了对3d激光传感器标定的精准性。
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1.一种单点标定方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述补偿点位高度，对所述3D激光传感器进行单点标定的步骤包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对标定的所述3D激光传感器进行验证，确定对所述3D激光传感器的标定误差的步骤包括：
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述补偿点位高度，对所述3D激光传感器进行单点标定的步骤之后包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一点位高度与所述第二点位高度，对所述3D激光传感器进行补偿，获得所述3D激光传感器对所述当前测量点的补偿点位高度的步骤包括：
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取3D激光传感器对标准件中当前测量点测量的第一点位高度，以及OMM对所述当前测量点测量的第二点位高度的步骤之前还包括：
7.一种单点标定装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种单点标定设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的单点标定方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的单点标定方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种单点标定方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述补偿点位高度，对所述3d激光传感器进行单点标定的步骤包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对标定的所述3d激光传感器进行验证，确定对所述3d激光传感器的标定误差的步骤包括：
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述补偿点位高度，对所述3d激光传感器进行单点标定的步骤之后包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一点位高度与所述第二点位高度，对所述3d激光传感器进行补偿，获得所述3d激光传感器对所述当前测量点的补偿点位高度的步骤包括：
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取3d激光传感器对标准件中...
【专利技术属性】
技术研发人员：乔海涛，孙传路，王新福，郭连超，郝治超，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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