System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种存储器装置的操作方法、存储器装置及存储器系统制造方法及图纸_技高网

一种存储器装置的操作方法、存储器装置及存储器系统制造方法及图纸

技术编号:44493629 阅读:0 留言:0更新日期:2025-03-04 17:59
本申请实施例提供一种存储器装置的操作方法、存储器装置及存储器系统。其中,所述存储器装置包括属于同一存储器串且相邻的第一存储单元和第二存储单元;所述方法包括:执行第一编程操作,使得所述第一存储单元被编程到第一数据态;执行第二编程操作;所述第二编程操作包括:对所述第二存储单元进行编程;且根据所述第一数据态确定的第一参考验证信息对所述第二存储单元进行验证。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及存储器,尤其涉及一种存储器装置的操作方法、存储器装置及存储器系统


技术介绍

1、随着存储器装置的存储密度的提升,每个存储单元的存储位数逐渐增加。为了实现每个存储单元的多位存储,且一个页被分出多个数据态。为了能够正确的读取存储单元内存储的数据,需压缩每一个数据态的阈值电压的分布宽度,以提高读取窗口裕度(rwm,read window margin)。然而,通常最高数据态对应的阈值电压vt比较高,这就导致快速的电荷损失,使得存储器装置的保持性比较差。


技术实现思路

1、本申请实施例提供一种存储器装置的操作方法、存储器装置及存储器系统。

2、一方面,本申请实施例提供一种存储器装置的操作方法,所述存储器装置包括属于同一存储器串且相邻的第一存储单元和第二存储单元;所述方法包括:

3、执行第一编程操作,使得所述第一存储单元被编程到第一数据态;

4、执行第二编程操作;所述第二编程操作包括:对所述第二存储单元进行编程;且根据所述第一数据态确定的第一参考验证信息对所述第二存储单元进行验证。

5、在上述方案中,所述存储器装置的存储单元能够被编程到包含所述第一数据态的多个数据态中的任一个;所述方法还包括:

6、获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系;

7、根据所述第一数据态和所述第一映射关系确定所述第一参考验证信息。

8、在上述方案中,所述参考验证信息包括参考验证电压或参考感测时间;所述获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系,包括:

9、对所述多个数据态进行划分,形成多个数据组;

10、获得所述多个数据组与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;或,获得所述多个数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;

11、其中,所述第一映射关系包括:第一子映射关系和/或所述第二子映射关系。

12、在上述方案中,所述对所述多个数据态进行划分,形成多个数据组,包括:

13、对所述多个数据态进行划分,形成第一数据组和第二数据组,其中,所述第一数据组中的数据态对应的阈值电压小于所述第二数据组中的数据态对应的阈值电压。

14、在上述方案中,所述第一映射关系,包括:所述第一数据组、所述第二数据与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;和/或,所述第一数据组、所述第二数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;

15、其中,所述第一子映射关系包括:所述第一数据组与第一参考验证电压之间的对应关系、所述第二数据组与第二参考验证电压之间的对应关系;所述第一参考验证电压大于所述第二参考验证电压;所述第二子映射关系包括:所述第一数据组与第一参考感测时间之间的对应关系、所述第二数据组与第二参考感测时间,其中,所述第一参考感测时间大于所述第二参考感测时间。

16、在上述方案中,所述存储器串还包括与所述第二存储单元相邻的第三存储单元;所述方法还包括:

17、执行第三编程操作,使得所述第一存储单元被编程至第一目标编程态;

18、执行第四编程操作,使得所述第三存储单元被编程至第二数据态;

19、其中,在所述第二编程操作下,所述第二存储单元未被编程至第二目标数据态;所述第二数据态不是目标数据态。

20、在上述方案中,所述存储器串还包括:与所述第一存储单元相邻的第四存储单元;在执行所述第一编程操作前,所述方法还包括:

21、执行第五编程操作,使得所述第四存储单元编程至第三数据态;

22、执行第六编程操作,使得所述第二存储单元编程至第四数据态;

23、执行第七编程操作,使得所述第四存储单元编程至第三目标数据态;

24、其中,所述第一数据态、所述第三数据态、所述第四数据态不是目标数据态;在所述第二编程操作下,所述存储单元被编程到第二目标数据态。

25、在上述方案中,所述多个数据组中的第一数据组和第二数据组包含的数据态的数量相同。

26、在上述方案中,所述多个数据态包括l0至l15共16个数据态;所述第一数据组包括数据态l0至l7;所述第二数据组包括数据态l8至l15。

27、在上述方案中,所述根据所述第一数据态和所述第一映射关系确定所述第一参考验证信息,包括:

28、根据预置的第二映射关系确定所述第一数据态所属数据组,其中,所述第二映射关系包括所述多个数据组与所述多个数据态之间的对应关系;

29、根据所述所属数据组和所述第一子映射关系确定所述第一参考验证信息,或,根据所属数据组和所述第二子映射关系确定所述第一参考验证信息;

30、其中,在所述第一子映射关系且所述第一数据态所属数据组为所述第一数据组的情况下,确定所述第一参考验证信息为所述第一参考验证电压;在所述第一子映射关系且所述第一数据态所属数据组为所述第二数据组的情况下,确定所述第一参考验证信息为所述第二参考验证电压;在所述第二子映射关系且所述第一数据态所属数据组为所述第一数据组的情况下,确定所述第一参考验证信息为所述第一参考感测时间;在所述第二子映射关系且所述第一数据态所属数据组为所述第二数据组的情况下,确定所述第一参考验证信息为所述第二参考感测时间。

31、另一方面,本申请实施例还提供一种存储器装置,包括:

32、存储器阵列,包括:属于同一存储器串且相邻的第一存储单元和第二存储单元;

33、外围电路,与所述存储器阵列耦接,被配置为:

34、执行第一编程操作,使得所述第一存储单元被编程到第一数据态;

35、执行第二编程操作;所述第二编程操作包括:对所述第二存储单元进行编程;且根据所述第一数据态确定的第一参考验证信息对所述第二存储单元进行验证。

36、在上述方案中,所述存储器装置的存储单元能够被编程到包含所述第一数据态的多个数据态中的任一个;所述外围电路,还被配置为:获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系;根据所述第一数据态和所述第一映射关系确定所述第一参考验证信息。

37、在上述方案中,所述参考验证信息包括参考验证电压或参考感测时间;所述外围电路,还被配置为:对所述多个数据态进行划分,形成多个数据组;获得所述多个数据组与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;或,获得所述多个数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;其中,所述第一映射关系包括:第一子映射关系和/或所述第二子映射关系。

38、在上述方案中,所述外围电路,还被配置为:对所述多个数据态进行划分,形成第一数据组和第二数据组,其中,所述第一数据组中的数据态对应的阈值电压小于所述第二数据组中的数据态对应的阈值电压。

39、在上述方案中,所述第一映射关系,包括:所述第一数据组、所述第二数据与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储器装置的操作方法,其特征在于,所述存储器装置包括属于同一存储器串且相邻的第一存储单元和第二存储单元;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的操作方法,其特征在于,所述存储器装置的存储单元能够被编程到包含所述第一数据态的多个数据态中的任一个;所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的操作方法,其特征在于,所述参考验证信息包括参考验证电压或参考感测时间;所述获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系,包括:

4.根据权利要求3所述的操作方法,其特征在于,所述对所述多个数据态进行划分,形成多个数据组,包括:

5.根据权利要求4所述的操作方法,其特征在于,所述第一映射关系,包括:所述第一数据组、所述第二数据与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;和/或,所述第一数据组、所述第二数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;

6.根据权利要求1所述的操作方法,其特征在于,所述存储器串还包括与所述第二存储单元相邻的第三存储单元;所述方法还包括:

7.根据权利要求1所述的操作方法,其特征在于,所述存储器串还包括:与所述第一存储单元相邻的第四存储单元;在执行所述第一编程操作前,所述方法还包括:

8.根据权利要求3所述的操作方法,其特征在于,所述多个数据组中的第一数据组和第二数据组包含的数据态的数量相同。

9.根据权利要求8所述的操作方法,其特征在于,所述多个数据态包括L0至L15共16个数据态;所述第一数据组包括数据态L0至L7;所述第二数据组包括数据态L8至L15。

10.根据权利要求5所述的操作方法,其特征在于,所述根据所述第一数据态和所述第一映射关系确定所述第一参考验证信息,包括:

11.一种存储器装置,其特征在于,包括:

12.根据权利要求11所述的存储器装置,其特征在于,所述存储器装置的存储单元能够被编程到包含所述第一数据态的多个数据态中的任一个;所述外围电路,还被配置为:获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系;根据所述第一数据态和所述第一映射关系确定所述第一参考验证信息。

13.根据权利要求12所述的存储器装置,其特征在于,所述参考验证信息包括参考验证电压或参考感测时间;所述外围电路,还被配置为:对所述多个数据态进行划分,形成多个数据组;获得所述多个数据组与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;或,获得所述多个数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;其中,所述第一映射关系包括:第一子映射关系和/或所述第二子映射关系。

14.根据权利要求13所述的存储器装置,其特征在于,所述外围电路,还被配置为:对所述多个数据态进行划分,形成第一数据组和第二数据组,其中,所述第一数据组中的数据态对应的阈值电压小于所述第二数据组中的数据态对应的阈值电压。

15.根据权利要求14所述的存储器装置,其特征在于,所述第一映射关系,包括:所述第一数据组、所述第二数据与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;和/或,所述第一数据组、所述第二数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;

16.根据权利要求11所述的存储器装置,其特征在于,所述存储器串还包括与所述第二存储单元相邻的第三存储单元;所述外围电路,还被配置为:执行第三编程操作,使得所述第一存储单元被编程至第一目标编程态;执行第四编程操作,使得所述第三存储单元被编程至第二数据态;其中,在所述第二编程操作下,所述第二存储单元未被编程至第二目标数据态;所述第二数据态不是目标数据态。

17.根据权利要求11所述的存储器装置,其特征在于,所述存储器串还包括:与所述第一存储单元相邻的第四存储单元;所述外围电路,还被配置为:在执行所述第一编程操作前,

18.根据权利要求14所述的存储器装置,其特征在于,所述外围电路,还被配置为:根据预置的第二映射关系确定所述第一数据态所属数据组,其中,所述第二映射关系包括所述多个数据组与所述多个数据态之间的对应关系;

19.一种存储器系统,其特征在于,包括:一个或多个权利要求11至18任一项所述的存储器装置。

20.根据权利要求19所述的存储器系统,其特征在于,所述存储器系统包含在固态硬盘SSD或存储器卡。

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【技术特征摘要】

1.一种存储器装置的操作方法,其特征在于,所述存储器装置包括属于同一存储器串且相邻的第一存储单元和第二存储单元;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的操作方法,其特征在于,所述存储器装置的存储单元能够被编程到包含所述第一数据态的多个数据态中的任一个;所述方法还包括:

3.根据权利要求2所述的操作方法,其特征在于,所述参考验证信息包括参考验证电压或参考感测时间;所述获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系,包括:

4.根据权利要求3所述的操作方法,其特征在于,所述对所述多个数据态进行划分,形成多个数据组,包括:

5.根据权利要求4所述的操作方法,其特征在于,所述第一映射关系,包括:所述第一数据组、所述第二数据与所述参考验证电压之间的第一子映射关系;和/或,所述第一数据组、所述第二数据组与所述参考感测时间之间的第二子映射关系;

6.根据权利要求1所述的操作方法,其特征在于,所述存储器串还包括与所述第二存储单元相邻的第三存储单元;所述方法还包括:

7.根据权利要求1所述的操作方法,其特征在于,所述存储器串还包括:与所述第一存储单元相邻的第四存储单元;在执行所述第一编程操作前,所述方法还包括:

8.根据权利要求3所述的操作方法,其特征在于,所述多个数据组中的第一数据组和第二数据组包含的数据态的数量相同。

9.根据权利要求8所述的操作方法,其特征在于,所述多个数据态包括l0至l15共16个数据态;所述第一数据组包括数据态l0至l7;所述第二数据组包括数据态l8至l15。

10.根据权利要求5所述的操作方法,其特征在于,所述根据所述第一数据态和所述第一映射关系确定所述第一参考验证信息,包括:

11.一种存储器装置,其特征在于,包括:

12.根据权利要求11所述的存储器装置,其特征在于,所述存储器装置的存储单元能够被编程到包含所述第一数据态的多个数据态中的任一个;所述外围电路,还被配置为:获得所述多个数据态与用于验证存储单元的编程结果的参考验证信息之间的第一映射关系;根据所述第一数...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄莹刘红涛赵向南王砚
申请(专利权)人:长江存储科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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