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用于薄片类介质厚度测量的装置制造方法及图纸

技术编号:44476812 阅读:2 留言:0更新日期:2025-03-04 17:45
本发明专利技术涉及隔热垫生产设备技术领域,具体涉及用于薄片类介质厚度测量的装置,包括料仓机构、上料机构、运送机构、测厚机构、下料机构和出料机构,测厚机构包括至少两个测厚件,测厚机构可以同时对运送机构上运送的多个工件进行测厚操作,料仓机构包括至少两个仓储室,上料机构包括至少两个上料抓料件,上料机构可以一次将多片工件转移到运送机构上,以适配测厚机构的测厚速度,出料机构设置有至少两个出料分区,各出料分区分别用于放置不同厚度范围的工件,下料机构根据测厚机构对每个工件的测量结果,将工件转移到对应厚度范围的出料分区,实现对工件的区分;本发明专利技术解决了现有的薄片类介质厚度测量装置产能较低且无法根据被测产品的厚度分区出料等问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及隔热垫生产设备,具体涉及用于薄片类介质厚度测量的装置


技术介绍

1、在新能源行业,对隔热垫的芯材、基体以及片材的厚度有严格的要求,要求每片都要进行厚度测量,厚度公差必须控制在±0.1mm范围内。目前市面上自动测量厚度的机型只有单次单头测量,产能有限,且只能检测出产品的厚度是否在限定范围内,无法根据产品的厚度进行区分输出。

2、针对以上问题,本专利技术提出一种具有测厚效率高、能够根据产品厚度将产品定向输出的隔热垫等薄片类介质测厚设备。


技术实现思路

1、本专利技术要解决的技术问题是提供一种用于薄片类介质厚度测量的装置,能够对隔热垫等薄片类工件进行高效地自动上料和测厚操作,且能根据测量的厚度将隔热垫输送到指定的出料分区。

2、为解决上述技术问题,本专利技术所采用的技术方案为:用于薄片类介质厚度测量的装置,包括料仓机构、上料机构、运送机构、测厚机构、下料机构和出料机构,运送机构上沿运送方向依次设置有上料区、测厚区和下料区,上料机构包括上料驱动件和上料抓料件,上料驱动件带动上料抓料件移动并将料仓机构的工件转移到运送机构的上料区,测厚机构包括至少两个测厚件,各测厚件沿运送机构的运送方向设置并测量测厚区的各工件的厚度,出料机构设置有至少两个出料分区,下料机构根据测厚机构测出的厚度将下料区的工件转移到对应的出料分区。测厚机构包括至少两个测厚件,可以同时对运送机构运送的多个工件测厚,出料机构设置有至少两个出料分区,下料机构可以根据测厚机构的测厚结果,将工件分别放置到对应的出料分区,不仅提高了测厚效率也能够对工件根据厚度分区。

3、作为优选的技术方案,料仓机构包括至少两个仓储室,上料机构包括至少两个上料抓料件,上料驱动件带动各上料抓料件移动并将各仓储室的工件转移到运送机构的上料区。料仓机构包括至少两个仓储室,上料机构一次可以将各仓储室最外部的工件转移到运送机构,满足多个测厚件同时测量多个工件的需求。

4、作为优选的技术方案,料仓机构还包括顶升机构,顶升机构包括顶升驱动件和顶升件,各仓储室内设置有顶升件,顶升驱动件的顶升部与各顶升件连接,并且顶升驱动件带动各顶升件将仓储室内的工件顶升到适于上料抓料件抓取的高度;所述上料机构包括两个上料抓料件。顶升机构将各仓储室内的工件抬升至适于被上料抓料件抓取的高度,顶升机构与上料机构配合,可以实现对运送机构上料区的快速上料,利于提高设备整体的测厚效率。

5、作为优选的技术方案,料仓机构还包括仓储室调节机构,仓储室调节机构包括正反牙丝杆,正反牙丝杆沿仓储室的分布方向设置,正反牙丝杆上在正牙段和反牙段设置有连接螺母,两个连接螺母分别与两仓储室连接;上料驱动件的动作部连接有调整板,调整板上设置有两个安装调整区,安装调整区设置有调整轨道,各调整轨道与仓储室的分布方向平行,上料抓料件设置在安装调整区并沿调整轨道移动调节。旋转正反牙丝杆可以带动两个仓储室互相靠近或者互相远离,以便于对仓储室进行调整从而适应多种尺寸的工件使用,上料抓料件的间距也可根据仓储室的变动而调整,确保各上料抓料件的抓料效果。

6、作为优选的技术方案,料仓机构为两个并对称分布在上料区的两侧,两料仓机构互为备用料仓机构;上料驱动件带动上料抓料件在上料区与两料仓机构之间移动并将两料仓机构的工件转移到运送机构的上料区。两个料仓机构对称分布在上料区的两侧并互为备用料仓机构,实现上料机构向运送机构的不间断上料。

7、作为优选的技术方案,出料机构包括出料输送件,出料输送件的输送面上设置有至少一个分区挡件,分区挡件沿出料输送件的输送方向设置,且各分区挡件将出料输送件的输送面分为至少两个出料分区。出料输送件的输送面设置有至少一个分区挡件,利于根据工件的厚度将工件分区出料。

8、作为优选的技术方案,出料机构为两个并且对称分布在下料区的两侧,下料机构包括下料驱动件和下料抓料件,下料驱动件带动下料抓料件在下料区与各出料分区之间移动,并将下料区的工件根据测厚机构测量的厚度转移到对应出料机构的对应出料分区。两个出料机构形成更多的出料分区,利于将工件分为多个厚度区间进行出料。

9、作为优选的技术方案,下料抓料件和/或上料抓料件为工件抓取件,工件抓取件包括伸缩件和吸盘,伸缩件竖向设置并且伸缩件的伸缩部设置有吸盘。

10、作为优选的技术方案,伸缩件的伸缩部设置有吸盘安装机构,吸盘安装机构包括第一安装板和第二安装板,第一安装板上设置第一微调腰孔,第二安装板与第一安装板连接并沿第一微调腰孔移动微调;第二安装板上设置有第二微调腰孔,各吸盘设置在第二安装板上并沿第二微调腰孔移动微调。吸盘通过吸盘安装机构安装,各吸盘可以调节位置,从而利于对工件起到更好的抓取效果。

11、作为优选的技术方案,运送机构包括第一运送机和第二运送机,第一运送机的输送面和第二运送机的输送面配合组成运送机构的运送面,第一运送机和第二运送机之间对应各测厚件处设置有测厚基准。两个运送机配合对工件进行支撑运送,两个运送机的形式利于安装放置测厚基准,使测厚件达到更好的测厚效果。

12、作为优选的技术方案,第一运送机和第二运送机为带式输送机,带式输送机的输送带上沿长度方向间隔设置有若干个分隔挡块,带式输送机的输送带上相邻两分隔挡块之间设置为工件放置区,第一运送机的各工件放置区与第二运送机的各工件放置区分别对应。工件由第一运送机和第二运送机配合支撑运送时,工件被多个分隔挡块限定位置,利于在工件在运送机构上定位,且避免工件在运送过程中发生位置偏移。

13、作为优选的技术方案,运送机构还包括调宽机构,调宽机构包括调宽轨、调宽轴和调宽驱动件,调宽轨与运送机构的运送方向垂直,调宽轨上设置有两个连接件,两个连接件分别与第一运送机和第二运送机连接,调宽轴与调宽轨平行并且调宽轴上设置有正反牙,调宽轴的正牙段和反牙段分别与两连接件螺纹配合,调宽驱动件的动作部与调宽轴连接并驱动调宽轴转动。通过调宽机构可以调节第一运送机和第二运送机的间距,使得运送机构能够适配多种尺寸的工件。

14、作为优选的技术方案,测厚件包括测厚机架、上下驱动模组和测厚传感器,上下驱动模组设置在测厚机架上,测厚传感器设置在测厚基准的上方并且测厚基准与上方的各测厚传感器之间形成测厚通道,运送机构带动各工件依次经过测厚通道,上下驱动模组的动作部与测厚传感器连接,上下驱动模组带动各测厚传感器与测厚基准配合并测量穿过测厚通道的工件的厚度。上下驱动模组带动测厚传感器与测厚基准配合,能够实现对工件的精准测厚。

15、作为优选的技术方案,上下驱动模组的动作部与测厚安装件连接,测厚安装件上设置有调位腰孔,各测厚传感器设置在测厚安装件上并沿调位腰孔移动调节。各测厚传感器安装在测厚安装件上并能调节位置,多个测厚传感器分散安装以便于实现对工件的精准测厚。

16、作为优选的技术方案,运送机构上在测厚区处或者测厚安装件上设置有工件感应器。

17、与现有技术相比本专利技术具有的有益效果为:1、利用本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:包括料仓机构(1)、上料机构(2)、运送机构(3)、测厚机构(4)、下料机构(5)和出料机构(6),运送机构(3)上沿运送方向依次设置有上料区、测厚区和下料区,上料机构(2)包括上料驱动件(21)和上料抓料件(22),上料驱动件(21)带动上料抓料件(22)移动并将料仓机构(1)的工件转移到运送机构(3)的上料区,测厚机构(4)包括至少两个测厚件,各测厚件沿运送机构(3)的运送方向设置并测量测厚区的各工件的厚度,出料机构(6)设置有至少两个出料分区,下料机构(5)根据测厚机构(4)测出的厚度将下料区的工件转移到对应的出料分区。

2.根据权利要求1所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)包括至少两个仓储室,上料机构(2)包括至少两个上料抓料件(22),上料驱动件(21)带动各上料抓料件(22)移动并将各仓储室的工件转移到运送机构(3)的上料区。

3.根据权利要求2所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)还包括顶升机构,顶升机构包括顶升驱动件(11)和顶升件(12),各仓储室内设置有顶升件(12),顶升驱动件(11)的顶升部与各顶升件(12)连接,并且顶升驱动件(11)带动各顶升件(12)将仓储室内的工件顶升到适于上料抓料件(22)抓取的高度;所述上料机构(2)包括两个上料抓料件(22)。

4.根据权利要求3所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)还包括仓储室调节机构(13),仓储室调节机构(13)包括正反牙丝杆,正反牙丝杆沿仓储室的分布方向设置,正反牙丝杆上在正牙段和反牙段设置有连接螺母,两个连接螺母分别与两仓储室连接;

5.根据权利要求4所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)为两个并对称分布在上料区的两侧,两料仓机构(1)互为备用料仓机构(1);上料驱动件(21)带动上料抓料件(22)在上料区与两料仓机构(1)之间移动并将两料仓机构(1)的工件转移到运送机构(3)的上料区。

6.根据权利要求5所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:出料机构(6)包括出料输送件(61),出料输送件(61)的输送面上设置有至少一个分区挡件(62),分区挡件(62)沿出料输送件(61)的输送方向设置,且各分区挡件(62)将出料输送件(61)的输送面分为至少两个出料分区。

7.根据权利要求6所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:出料机构(6)为两个并且对称分布在下料区的两侧,下料机构(5)包括下料驱动件(51)和下料抓料件(52),下料驱动件(51)带动下料抓料件(52)在下料区与各出料分区之间移动,并将下料区的工件根据测厚机构(4)测量的厚度转移到对应出料机构(6)的对应出料分区。

8.根据权利要求7所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:下料抓料件(52)和/或上料抓料件(22)为工件抓取件(7),工件抓取件(7)包括伸缩件(71)和吸盘(72),伸缩件(71)竖向设置并且伸缩件(71)的伸缩部设置有吸盘(72)。

9.根据权利要求8所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:伸缩件(71)的伸缩部设置有吸盘安装机构(73),吸盘安装机构(73)包括第一安装板和第二安装板,第一安装板上设置第一微调腰孔,第二安装板与第一安装板连接并沿第一微调腰孔移动微调;第二安装板上设置有第二微调腰孔,各吸盘(72)设置在第二安装板上并沿第二微调腰孔移动微调。

10.根据权利要求7所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:运送机构(3)包括第一运送机(31)和第二运送机(32),第一运送机(31)的输送面和第二运送机(32)的输送面配合组成运送机构(3)的运送面,第一运送机(31)和第二运送机(32)之间对应各测厚件处设置有测厚基准(45)。

11.根据权利要求10所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:第一运送机(31)和第二运送机(32)为带式输送机,带式输送机的输送带上沿长度方向间隔设置有若干个分隔挡块(33),带式输送机的输送带上相邻两分隔挡块(33)之间设置为工件放置区,第一运送机(31)的各工件放置区与第二运送机(32)的各工件放置区分别对应。

12.根据权利要求10所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:运送机构(3)还包括调宽机构,调宽机构包括调宽轨(34)、调宽轴(35)和调宽驱动件(36),调宽轨(34)与运送机构(3)的运送方向垂直,调宽轨(34)上设置有两个连接件(37),两个连接件(37)分别与第一运送机(31)和第二...

【技术特征摘要】

1.用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:包括料仓机构(1)、上料机构(2)、运送机构(3)、测厚机构(4)、下料机构(5)和出料机构(6),运送机构(3)上沿运送方向依次设置有上料区、测厚区和下料区,上料机构(2)包括上料驱动件(21)和上料抓料件(22),上料驱动件(21)带动上料抓料件(22)移动并将料仓机构(1)的工件转移到运送机构(3)的上料区,测厚机构(4)包括至少两个测厚件,各测厚件沿运送机构(3)的运送方向设置并测量测厚区的各工件的厚度,出料机构(6)设置有至少两个出料分区,下料机构(5)根据测厚机构(4)测出的厚度将下料区的工件转移到对应的出料分区。

2.根据权利要求1所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)包括至少两个仓储室,上料机构(2)包括至少两个上料抓料件(22),上料驱动件(21)带动各上料抓料件(22)移动并将各仓储室的工件转移到运送机构(3)的上料区。

3.根据权利要求2所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)还包括顶升机构,顶升机构包括顶升驱动件(11)和顶升件(12),各仓储室内设置有顶升件(12),顶升驱动件(11)的顶升部与各顶升件(12)连接,并且顶升驱动件(11)带动各顶升件(12)将仓储室内的工件顶升到适于上料抓料件(22)抓取的高度;所述上料机构(2)包括两个上料抓料件(22)。

4.根据权利要求3所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)还包括仓储室调节机构(13),仓储室调节机构(13)包括正反牙丝杆,正反牙丝杆沿仓储室的分布方向设置,正反牙丝杆上在正牙段和反牙段设置有连接螺母,两个连接螺母分别与两仓储室连接;

5.根据权利要求4所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:料仓机构(1)为两个并对称分布在上料区的两侧,两料仓机构(1)互为备用料仓机构(1);上料驱动件(21)带动上料抓料件(22)在上料区与两料仓机构(1)之间移动并将两料仓机构(1)的工件转移到运送机构(3)的上料区。

6.根据权利要求5所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:出料机构(6)包括出料输送件(61),出料输送件(61)的输送面上设置有至少一个分区挡件(62),分区挡件(62)沿出料输送件(61)的输送方向设置,且各分区挡件(62)将出料输送件(61)的输送面分为至少两个出料分区。

7.根据权利要求6所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:出料机构(6)为两个并且对称分布在下料区的两侧,下料机构(5)包括下料驱动件(51)和下料抓料件(52),下料驱动件(51)带动下料抓料件(52)在下料区与各出料分区之间移动,并将下料区的工件根据测厚机构(4)测量的厚度转移到对应出料机构(6)的对应出料分区。

8.根据权利要求7所述的用于薄片类介质厚度测量的装置,其特征在于:下料抓料件(52)和/或上料抓料件(22)为工件抓取件...

【专利技术属性】
技术研发人员:王栋梁岳文林高齐韩涛
申请(专利权)人:河南爱彼爱和新材料有限公司
类型:发明
国别省市:

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