【技术实现步骤摘要】
本申请涉及渲染处理，具体而言，涉及全局光照加速方法、程序产品、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、全局光照技术是计算机图形学中用于提升渲染效率和图像质量的关键技术，它通过模拟光线在场景中的传播、反射和折射等物理过程，以产生更加逼真的光影效果，生成更加真实和自然的图像。
2、然而，现有的全局光照技术只是简单地根据距离来进行全局光照方案的选取，这会导致光照效果达不到预期，无法满足更加多样化的实际应用场景对渲染精度的更高需求。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种全局光照加速方法、程序产品、电子设备及存储介质，用以解决基于现有的全局光照技术所达到的光照和反射效果无法满足预期的渲染精度需求的技术问题。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种全局光照加速方法，该方法包括：
3、基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度；
4、基于所述光照剖分密度和预设密度阈值，从多个精度等级不同的预设全局光照方法中，确定出与所述目标点所对应的目标全局光照方法。
5、在上述的实现过程中，该全局光照加速方法基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度；并基于所述光照剖分密度和预设密度阈值，从多个精度等级不同的预设全局光照方法中，确定出与所述目标点所对应的目标全局光照方法。相较于现有的全局光照技术，本申请所提供的全局光照加速方法在确定目标全局光照方法的过程中
6、此外，本申请所提供的全局光照加速方法可以通过调整几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离对光照剖分密度的影响程度，以适应于多种不同的应用场景，提高了全局光照加速方法的灵活性和可扩展性。
7、可选地，在本申请实施例中，所述预设全局光照方法包括网格体距离场、全局距离场和天空光；所述预设密度阈值包括第一密度阈值和第二密度阈值；所述基于所述光照剖分密度和预设密度阈值，从多个精度等级不同的预设全局光照方法中，确定出与所述目标点所对应的目标全局光照方法，包括：在所述光照剖分密度大于或者等于所述第一密度阈值的情况下，将所述网格体距离场确定为所述目标全局光照方法；在所述光照剖分密度小于所述第一密度阈值且大于所述第二密度阈值的情况下，将所述全局距离场确定为所述目标全局光照方法；在所述光照剖分密度小于或者等于所述第二密度阈值的情况下，将所述天空光确定为所述目标全局光照方法。
8、在上述的实现过程中，预设全局光照方法包括网格体距离场、全局距离场和天空光等多个精度等级不同的光照处理方法，基于光照剖分密度与预设密度阈值之间的大小关系，可以准确地从预设全局光照方法中，确定出与目标点更加匹配的目标全局光照方法。
9、可选地，在本申请实施例中，在所述基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度之前，所述方法还包括：基于所述目标点的所属区域的面数、顶点密度、曲面曲率和/或体素体积，确定所述目标点的几何复杂度参数；基于所述目标点的材质反射率和/或材质粗糙度，确定所述目标点的材质反射参数；基于所述目标点与视点之间的几何距离，确定所述目标点的视点距离。
10、在上述的实现过程中，根据目标点所属区域的面数、顶点密度、曲面曲率和/或体素体积等几何特征参数，可以准确地确定出目标点附近的几何复杂度参数。根据目标点的材质反射率和/或材质粗糙度等材质相关参数，可以准确地确定出目标点的材质反射参数。根据目标点与视点之间的几何距离，可以确定出目标点的视点距离。进而根据几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，准确地确定出能够表征目标点的光照精度等级的光照剖分密度。
11、可选地，在本申请实施例中，所述几何复杂度参数包括几何复杂度和复杂度权重；所述材质反射参数包括材质反射率、材质粗糙度和反射权重；所述基于所述目标点的所属区域的面数、顶点密度、曲面曲率和/或体素体积，确定所述目标点的几何复杂度参数，包括：基于所述目标点的所属区域的面数、顶点密度、曲面曲率和/或体素体积，确定所述目标点的几何复杂度；所述基于所述目标点的材质反射率和/或材质粗糙度，确定所述目标点的材质反射参数，包括：基于所述目标点的材质反射率和/或材质粗糙度，确定所述目标点的反射权重。
12、在上述的实现过程中，几何复杂度参数包括几何复杂度和复杂度权重，几何复杂度可以反映出与目标点所对应的光照剖分密度，而复杂度权重可以用来平衡几何复杂度对光照剖分密度的影响，以提高本申请所提供的全局光照加速方法对不用应用场景的适用性。材质反射参数包括材质反射率、材质粗糙度和反射权重，材质反射率和材质粗糙度可以反映出与目标点所对应的光照剖分密度，而反射权重可以用来平衡材质反射特性对光照剖分密度的影响，以提高本申请所提供的全局光照加速方法对不用应用场景的适用性。
13、可选地，在本申请实施例中，所述几何复杂度与所述目标点的所属区域的面数、顶点密度、曲面曲率和/或体素体积之间呈正比例关系；所述反射权重与所述目标点的材质反射率之间呈正比例关系，与所述目标点的材质粗糙度之间呈反比例关系。
14、在上述的实现过程中，通过设置反射权重与目标点的材质反射率之间呈正比例关系，与目标点的材质粗糙度之间呈反比例关系，能够基于目标点的材质反射率和/或材质粗糙度，准确确定出目标点的反射权重。
15、可选地，在本申请实施例中，所述光照剖分密度与所述目标点的几何复杂度参数以及材质反射参数之间呈正比例关系，与所述目标点的视点距离之间呈反比例关系。
16、在上述的实现过程中，通过设置光照剖分密度与目标点的几何复杂度参数以及材质反射参数之间呈正比例关系，与目标点的视点距离之间呈反比例关系，可以准确地确定出能够表征目标点的光照计算需求高低的光照剖分密度。
17、可选地，在本申请实施例中，所述基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度，包括：基于所述目标点的几何复杂度参数、材质反射参数、视点距离以及确定所述目标点的光照剖分密度d(x)；其中，d0表示基准密度，α表示所述目标点的复杂度权重，cv表示所述目标点的几何复杂度，β表示所述目标点的反射权重，ρ表示所述目标点的材质反射率，r表示所述目标点的材质粗糙度，d(x,c)表示所述目标点与视点之间的几何距离，∈表示防除零常数。
18、在上述的实现过程中，通过设置基准密度作为场景的默认光照剖分密度，即使在几何复杂度参数或者材质反射参数等参数缺失的情况下，也可以基于默认光照剖分本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种全局光照加速方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述预设全局光照方法包括网格体距离场、全局距离场和天空光；所述预设密度阈值包括第一密度阈值和第二密度阈值；所述基于所述光照剖分密度和预设密度阈值，从多个精度等级不同的预设全局光照方法中，确定出与所述目标点所对应的目标全局光照方法，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度之前，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，其中，所述几何复杂度参数包括几何复杂度和复杂度权重；所述材质反射参数包括材质反射率、材质粗糙度和反射权重；
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，其中，所述几何复杂度与所述目标点的所属区域的面数、顶点密度、曲面曲率和/或体素体积之间呈正比例关系；
6.根据权利要求1-5任一所述的方法，其特征在于，其中，所述光照剖分密度与所述目标点的几何复杂度参数以及材质反射参数之间呈正比例关系，与所述目标点
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度，包括：
8.一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其特征在于，该计算机程序/指令被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的方法。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器运行时，执行权利要求1-7任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种全局光照加速方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述预设全局光照方法包括网格体距离场、全局距离场和天空光；所述预设密度阈值包括第一密度阈值和第二密度阈值；所述基于所述光照剖分密度和预设密度阈值，从多个精度等级不同的预设全局光照方法中，确定出与所述目标点所对应的目标全局光照方法，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于目标点的几何复杂度参数、材质反射参数以及视点距离，确定所述目标点的光照剖分密度之前，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，其中，所述几何复杂度参数包括几何复杂度和复杂度权重；所述材质反射参数包括材质反射率、材质粗糙度和反射权重；
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，其中，所述几何复杂度与所述目标点的所属区域...
【专利技术属性】
技术研发人员：寇勇，刘路，魏子文，聂宇，彭林春，高旻，陶李，段强，李仲智，
申请(专利权)人：四川见山科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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