System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种应用于TDLAS设备的自校准方法及系统技术方案_技高网

一种应用于TDLAS设备的自校准方法及系统技术方案

技术编号:44452036 阅读:0 留言:0更新日期:2025-02-28 18:56
本发明专利技术公开了一种基于光源扫描技术的TDLAS激光测量设备自校准方法,旨在提高设备在复杂工业环境中的测量稳定性。TDLAS(调制激光吸收光谱)技术因其高灵敏度和选择性被广泛应用于气体检测。然而,设备在安装过程中容易受到位置偏差和振动的影响,导致测量精度下降。为此,本发明专利技术设计了一种自校准系统,包括激光发射模块、多组可调自校准光线发射器和靶接收器,所有组件均固定在模块基座上。通过控制系统对自校准光线发射器的角度进行快速扫描,从而精确定位接收器。自校准过程分为初步和精细两步,利用面光源和点光源分别进行大范围和小范围的扫描,以达到高效精准校正的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于tdlas测量,尤其涉及一种基于光源扫描技术的tdlas激光测量设备自校准方法。


技术介绍

1、tdlas(调制激光吸收光谱)技术以其高灵敏度和选择性,在气体检测领域得到了广泛应用。吸收光谱技术布置包括激光发射模块和信号接收模块,测量过程为激光发射模块发出激光,经过待测区域的目标介质吸收后,激光束到达信号接收器得到吸收信号。随着在工业现场中场景的复杂化,对于大空间的原位布置,tdlas设备的性能高度依赖于其安装位置的精确度。若安装位置偏差,可能导致激光束与待测气体之间的接触效率下降,从而影响测量精度。

2、在实际应用中,tdlas设备常常面临振动问题,可能来自于附近的机械设备,也可能设备本身运行过程中存在振动,或安装基座及其连接部分产生形变等情况的设备,导致其光学部件的位置发生微小变化,进而影响激光的发射角度和接收能力,原本稳定的测量系统可能会因位置变化而产生误差,而运行过程中造成的位置变化难以及时矫正。

3、对于封闭环境内的设备布置,设备受环境因素产生的位置变化,人为矫正变得更加困难。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种能使tdlas设备的自校准方法,实现激光设备发射模块和接收模块自动校正位置,保证测量系统稳定性,其特征在于:

2、所述的自校准系统由安装万向节的激光发射模块,模块基座上多组可万向调节的自校准光线发射器,以及相应的位于激光接收模块的靶接收器构成。激光发射器和激光信号接收器以及靶接收器都固定在模块基座上,即与基座形成一个整体。通过控制系统控制各个自校准光线发射器的角度对靶接收器位置进行快速扫描,从而实现对接收器位置的寻找。自校准光线发射器共有四个,其中一个为面光源,另外三个为点光源。自校准过程包括,通过面光源作为第一步自校准激光器,对接收模块进行第一步扫描,通过靶接收器的信号接收情况,初步对激光发射模块角度进行调节,得到激光接收模块目标位置,控制激光发射模块万向节进行初步调节,搜索范围较直接使用点光源大面积扫描的工作量大幅减小。进一步的,使用一个点光源进行小范围扫描,初步得到精确位置,为了防止激光器发射模块存在立体旋转角,通过第二三束激光进行进一步扫描校准,通过三组自校准光线发射器及相应的位于激光接收模块的靶接收器组成,通过三组自校准点实现基座平行,即实现固定相对位置的激光发射器和信号接收器的校准。

3、本专利技术与现有技术相比具有如下优点:

4、1、利用tdlas自校准系统,可以降低安装难度,对设备布置精度要求降低,优化tdlas激光测量设备布置过程,适用于工业现场的快速安装与调试。

5、2、系统可以发现并自动处理处理在tdlas设备使用过程中安装位置受环境变化影响的问题,减少了运行过程中的调试工作,提高设备运行效率可以实现封闭空间具有良好的工程应用发展前景。对于封闭工业环境安装的原位在线监测tdlas测量设备,自校准系统使设备调试无需停机拆修设备,极大减少了该环境下的维修调试工作量,降低使用成本。

6、3、本专利技术所述的tdlas自校准系统结构灵活小巧,易于在原有tdlas设备基础上进行加装改进,具有优异的经济性、适应性和市场潜力。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种应用于TDLAS设备的自校准方法及系统,其特征在于,激光信号接收器(9)、靶接收器(10)和面光源靶接收器(11)固定布置在激光接收模块基座(12)正面,面向激光发射模块(13);固定在激光发射模块安装基座(6)上的自校准光线发射器共有四个,其中一个为面光源光发射器(5),其为方形光斑面光源,落于激光接收模块(14)所在平面时,光斑边长长度与激光接收模块(14)边长相同,另外三个为点光源光线发射器(1);自校准过程包括万向调节支架(2)对面光源光发射器(5)对激光接收模块(14)进行第一步扫描,对面光源靶接收器(11)可能位置区域进行逐行扫描,通过面光源靶接收器(11)的信号接收情况,寻找到激光信号接收器(9)空间位置;第二步使用一个光线发射器(1)通过万向调节支架(2)对第一步得到的目标位置区域进行逐行扫描,扫描至其位于基座上对应位置的靶接收器(10)收到信号,保持该光线发射器(1)方向不动,调节万向节激光发射模块(13)至该光线发射器(1)方向,初步得到精确位置;第三步通过第二、三个光线发射器(1)进行与第一个光线发射器(1)相同的扫描过程对目标位置区域进一步扫描,实现三组光线发射器(1)和与之位置对应的靶接收器(10)相匹配,实现精准校准。

2.根据权利要求1所述的应用于TDLAS设备的自校准方法及系统,其第一步校准得到的目标位置区域特征在于,大小设定为相对面光源照射到激光接收模块(14)所在平面的方形区域,保持方形区域中心位置不变,边长变为原来边长的三倍的扩大后的方形区域即为目标位置区域。

3.根据权利要求1所述的应用于TDLAS设备的自校准方法及系统,其第三步扫描过程为了防止激光器发射模块存在立体旋转角,通过第二、三个光线发射器(1)对目标位置区域进一步扫描。

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【技术特征摘要】

1.一种应用于tdlas设备的自校准方法及系统,其特征在于,激光信号接收器(9)、靶接收器(10)和面光源靶接收器(11)固定布置在激光接收模块基座(12)正面,面向激光发射模块(13);固定在激光发射模块安装基座(6)上的自校准光线发射器共有四个,其中一个为面光源光发射器(5),其为方形光斑面光源,落于激光接收模块(14)所在平面时,光斑边长长度与激光接收模块(14)边长相同,另外三个为点光源光线发射器(1);自校准过程包括万向调节支架(2)对面光源光发射器(5)对激光接收模块(14)进行第一步扫描,对面光源靶接收器(11)可能位置区域进行逐行扫描,通过面光源靶接收器(11)的信号接收情况,寻找到激光信号接收器(9)空间位置;第二步使用一个光线发射器(1)通过万向调节支架(2)对第一步得到的目标位置区域进行逐行扫描,扫描至其位于基座上对应位置的靶接收器...

【专利技术属性】
技术研发人员:程传亮刘慧鑫孙岑王春波
申请(专利权)人:华北电力大学保定
类型:发明
国别省市:

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