【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及根据权利要求1的具有用于asic的诊断功能的电路装置以及根据权利要求8的用于诊断asic的方法。本专利技术还涉及根据权利要求15的位置测量设备。
技术介绍
1、随着工业4.0要求的自动化技术中的数字化程度不断推进，自动化技术的测量设备、例如旋转编码器和长度测量设备的复杂性也随之增加。为了最小化由此产生的大量电子电路的空间需求，存在将这些电子电路的越来越多的功能组集成到专用集成模块(asic)中的趋势。
2、de 102008051083 a1就是这样描述了一种基于传动装置的多匝旋转编码器(multiturn-drehgeber)，其具有单匝级和多个多匝级，所述单匝级具有用于测量轴的角位置的单匝扫描单元，所述多匝级各具有一个用于确定轴转过的转数的多匝扫描单元。单匝扫描单元和每个多匝扫描单元都可以包括asic。
3、工业4.0的另一个要求是测量设备有能力独立确定出功能准备状态。出于此原因，asic通常配备有自诊断功能。这些自诊断功能基于：测量集成电子电路的功能参数并评估测量结果。然后，评估结果由电路的各个asic分别输出到中央点，然后在那里确定整个电路的功能准备状态。然而，为了实现asic的自诊断功能，还需要另外的巨大电路耗费，其导致这些模块的复杂度更高。
技术实现思路
1、本专利技术的一个任务是创建一种改进的电路装置，用于确定出具有多个asic的电路的功能准备状态(funktionsbereitschaft)。
2、该任务通过根据权利
3、该电路装置包括：具有用于执行按规定的功能的电子电路的上级的(übergeordnet)的asic；以及具有用于执行按规定的功能的电子电路的至少一个下级的(untergeordnet)asic，其中所述至少一个下级的asic包括参数测量单元并且所述上级的asic包括诊断单元，所述参数测量单元和诊断单元经由数据传输通道彼此连接，并且其中参数测量单元被设计用于确定下级的asic的电子电路的多个功能参数并经由数据传输通道传输至诊断单元，并且诊断单元被设计用于，通过评估功能参数来确定出相应的下级的asic的电子电路的功能准备状态。
4、此外，本专利技术的任务是创建一种用于确定出具有多个asic的电路的功能准备状态的经改进的方法。
5、该任务通过根据权利要求8的用于运行特别是用在位置测量设备中的具有诊断功能的电路装置的方法来解决。
6、所述方法所基于的电路装置包括：具有用于执行按规定的功能的电子电路的上级的asic；以及具有用于执行按规定的功能的电子电路的至少一个下级的asic，其中所述至少一个下级的asic包括参数测量单元并且所述上级的asic包括诊断单元，所述参数测量单元和诊断单元经由数据传输通道彼此连接。根据所提出的方法，由参数测量单元确定下级的asic的电子电路的多个功能参数并经由数据传输通道传输至诊断单元，并且由诊断单元通过评估功能参数来确定出相应的下级的asic的电子电路的功能准备状态。
7、本专利技术的另一任务是：创建一种具有用于确定功能准备状态的经改进的可能性的位置测量设备。
8、该任务通过根据权利要求15所述的位置测量设备来解决。
9、本专利技术的进一步优点从独立权利要求1和8的从属权利要求以及从实施例的以下描述中得出。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种特别是用在位置测量设备中的具有诊断功能的电路装置，包括：
2.根据权利要求1所述的电路装置，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括流程控制器(280)、测量装置(281)和接口单元(283)，其中所述流程控制器用于控制自测试功能的流程，所述测量装置用于通过测量而在所述电子电路(24、34、44、224、324)的至少一个测量点(MPx)处确定所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)，所述接口单元用于经由所述数据传输通道(50)与所述上级的ASIC(15)进行通信。
3.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括存储器(282)，在所述存储器中能够存储所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)。
4.根据权利要求3所述的电路装置，其中所述存储器(282)是能够通过所述诊断单元(15)写入和/或删除的。
5.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)具有至少一个信号发生器
6.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述诊断单元(16)包括：诊断控制器(160)、接口单元(162)以及设备接口(163)，其中，所述诊断控制器用于控制所述自测试功能的流程，所述接口单元用于经由所述数据传输通道(50)与相应的参数测量单元(28、38、48、228、328)通信，所述设备接口用于经由外部数据传输通道(52)与后续电子器件(80)通信。
7.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述诊断单元(16)包括存储器(161)，在所述存储器中能够存储所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)和/或用于评估所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)的极限值和/或用于评估所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)的其他规则。
8.一种用于运行特别是用在位置测量设备中的具有诊断功能的电路装置的方法，所述电路装置包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括流程控制器(280)、测量装置(281)和接口单元(283)，其中
10.根据权利要求8或9中任一项所述的方法，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括存储器(282)，在所述存储器(282)中存储所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)。
11.根据权利要求10所述的方法，其中所述存储器(282)被所述诊断单元(15)写入和/或删除。
12.根据权利要求8至11中任一项所述的方法，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括至少一个信号发生器(284)，由所述信号发生器生成至少一个电信号并将其馈送到所述电子电路(24、34、44、224、324)的至少一个馈送点(EPx)中。
13.根据权利要求8至12中任一项所述的方法，其中所述诊断单元(16)包括诊断控制器(160)、接口单元(162)以及设备接口(163)，其中
14.根据权利要求8至13中任一项所述的方法，其中，所述诊断单元(16)包括存储器(161)，在所述存储器(161)中存储所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)和/或用于评估所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)的极限值和/或用于评估所述功能参数(Fn1、Fn2、Fn3、Fn4、Fn5)的其他规则。
15.一种位置测量设备，所述位置测量设备包括根据权利要求1至7中任一项所述的电路装置。
...【技术特征摘要】
1.一种特别是用在位置测量设备中的具有诊断功能的电路装置，包括：
2.根据权利要求1所述的电路装置，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括流程控制器(280)、测量装置(281)和接口单元(283)，其中所述流程控制器用于控制自测试功能的流程，所述测量装置用于通过测量而在所述电子电路(24、34、44、224、324)的至少一个测量点(mpx)处确定所述功能参数(fn1、fn2、fn3、fn4、fn5)，所述接口单元用于经由所述数据传输通道(50)与所述上级的asic(15)进行通信。
3.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)包括存储器(282)，在所述存储器中能够存储所述功能参数(fn1、fn2、fn3、fn4、fn5)。
4.根据权利要求3所述的电路装置，其中所述存储器(282)是能够通过所述诊断单元(15)写入和/或删除的。
5.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述参数测量单元(28、38、48、228、328)具有至少一个信号发生器(284)，用于生成至少一个电信号并将其馈送到所述电子电路(24、34、44、224、324)的至少一个馈送点(epx)中。
6.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述诊断单元(16)包括：诊断控制器(160)、接口单元(162)以及设备接口(163)，其中，所述诊断控制器用于控制所述自测试功能的流程，所述接口单元用于经由所述数据传输通道(50)与相应的参数测量单元(28、38、48、228、328)通信，所述设备接口用于经由外部数据传输通道(52)与后续电子器件(80)通信。
7.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置，其中所述诊断单元(16)包括存储器(161)，在所述存储器中能够存储所述功能参数(fn1、fn2、fn...
【专利技术属性】
技术研发人员：E·迈尔，M·贝，M·冯贝格，J·奥伯豪瑟，R·奥克森布吕歇尔，
申请(专利权)人：约翰内斯·海德汉博士有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。