【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种试验装置、试验方法及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、在专利文献1中，记载了“按照以下方式实施太阳电池的特征标注。使用不同波长下的单元响应(利用与带通滤波器组合的白色光卤素灯来测定)来推定外部量子效率(external quantum efficiency：eqe)。”([0121])。
2、[现有技术文献]
3、[专利文献]
4、[专利文献1]日本专利特开2021-9950号公报
技术实现思路
1、在本专利技术的第1形态中，提供一种试验装置。试验装置具备：光源；电测定部，测定成为试验对象的发光元件将从所述光源照射的光进行光电转换所得的光电信号；以及算出部，根据从所述光源照射到所述成为试验对象的发光元件的光的照射强度、与所述成为试验对象的发光元件的发光相关的发光波长、及所述成为试验对象的发光元件的所测得的所述光电信号，算出与所述成为试验对象的发光元件的本来的外部量子效率具有关联伪外部量子效率。
2、在所述试验装置中，所述算出部也可以使用基于针对成为基准的发光元件预先算出的所述伪外部量子效率、及关于所述成为基准的发光元件的由发光试验预先算出的本来的外部量子效率的修正系数，根据所述成为试验对象的发光元件的所述伪外部量子效率，算出所述成为试验对象的发光元件的由发光试验获得的本来的外部量子效率的推定值。
3、在所述任一个试验装置中，所述成为基准的发光元件也可以为依据所述成为试验对象的发光元件的设计值的理想发光元
4、在所述任一个试验装置中，与所述成为试验对象的发光元件的发光相关的所述发光波长也可以为依据所述成为基准的发光元件的设计值的波长、所述成为基准的发光元件的由所述发光试验预先测得的波长、或依据所述成为试验对象的发光元件的设计值的波长。
5、所述任一个试验装置也可以还具备使所述成为基准的发光元件发光的发光控制部。所述任一个试验装置也可以还具备光测定部，该光测定部测定来自所述成为基准的发光元件的光的波长及发光强度。在所述任一个试验装置中，所述算出部也可以根据从所述光源照射到所述成为基准的发光元件的光的所述照射强度、作为与所述成为试验对象的发光元件的发光相关的所述发光波长测定的所述成为基准的发光元件的所述波长、及所述成为基准的发光元件的所测得的所述光电信号，算出所述成为基准的发光元件的所述伪外部量子效率。在所述任一个试验装置中，所述算出部也可以根据所述成为基准的发光元件的所测得的所述波长及所述发光强度、及由所述发光控制部输入到所述成为基准的发光元件的电流，算出所述成为基准的发光元件的所述本来的外部量子效率。在所述任一个试验装置中，所述算出部也可以通过将所述伪外部量子效率除以所述本来的外部量子效率来算出所述修正系数。
6、所述任一个试验装置也可以还具备光学系统，该光学系统将朝向一个方向入射的来自所述光源的光向所述成为基准的发光元件照射，将朝向另一个方向入射的来自所述成为基准的发光元件的光向所述光测定部照射。
7、在所述任一个试验装置中，所述电测定部也可以测定成为试验对象的多个发光元件各者将从所述光源一起照射的光进行光电转换所得的所述光电信号。在所述任一个试验装置中，所述算出部也可以根据从所述光源照射到所述成为试验对象的多个发光元件的光的所述照射强度、与所述成为试验对象的多个发光元件的发光相关的所述发光波长、及关于所述成为试验对象的多个发光元件各者测得的所述光电信号，算出所述成为试验对象的多个发光元件各自的所述伪外部量子效率。
8、在所述任一个试验装置中，所述算出部也可以使用基于针对成为基准的发光元件预先算出的所述伪外部量子效率、及关于所述成为基准的发光元件的由发光试验预先算出的本来的外部量子效率的修正系数，根据所述成为试验对象的多个发光元件各自的所述伪外部量子效率，算出所述成为试验对象的多个发光元件各自的由发光试验获得的本来的外部量子效率的推定值。
9、在所述任一个试验装置中，所述算出部也可以使用根据包含所述成为试验对象的多个发光元件的制造批次而不同的所述修正系数。
10、所述任一个试验装置也可以还具备判定部，该判定部根据所述成为试验对象的多个发光元件各自的所述本来的外部量子效率的推定值，来判定所述成为试验对象的多个发光元件各者是否良好。
11、所述任一个试验装置也可以还具备使所述成为试验对象的多个发光元件一起发光的发光控制部。所述任一个试验装置也可以还具备光测定部，该光测定部测定将来自所述成为试验对象的多个发光元件各者的光合成而成的合成光的波长作为与所述成为试验对象的多个发光元件的发光相关的所述发光波长。所述任一个试验装置也可以还具备光学系统，该光学系统将朝向一个方向入射的来自所述光源的光向所述成为试验对象的多个发光元件照射，将朝向另一个方向入射的来自所述成为试验对象的多个发光元件各者的光合成而成的合成光向所述光测定部照射。
12、在本专利技术的第2形态中，提供一种试验方法。试验方法在所述任一个试验装置中具备：将来自光源的光照射到成为试验对象的发光元件；测定所述成为试验对象的发光元件将所照射的光进行光电转换所得的光电信号；以及根据从所述光源照射到所述成为试验对象的发光元件的光的照射强度、与所述成为试验对象的发光元件的发光相关的发光波长、及所述成为试验对象的发光元件的所测得的所述光电信号，算出与所述成为试验对象的发光元件的本来的外部量子效率具有关联的伪外部量子效率。
13、在本专利技术的第2形态中，提供一种程式。程式使对发光元件进行试验的试验装置执行以下顺序：将来自光源的光照射到成为试验对象的发光元件；测定所述成为试验对象的发光元件将所照射的光进行光电转换所得的光电信号；以及根据从所述光源照射到所述成为试验对象的发光元件的光的照射强度、与所述成为试验对象的发光元件的发光相关的发光波长、及所述成为试验对象的发光元件的所测得的所述光电信号，算出与所述成为试验对象的发光元件的本来的外部量子效率具有关联的伪外部量子效率。
14、此外，所述专利技术的概要并非列举本专利技术的所有特征。另外，这些特征群的次组合也可成为专利技术。
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1.一种试验装置，具备：
2.根据权利要求1所述的试验装置，其中
3.根据权利要求2所述的试验装置，其中
4.根据权利要求2所述的试验装置，其中
5.根据权利要求2所述的试验装置，还具备：
6.根据权利要求5所述的试验装置，还具备：
7.根据权利要求1至6中任一项所述的试验装置，其中
8.根据权利要求7所述的试验装置，其中
9.根据权利要求8所述的试验装置，其中
10.根据权利要求8所述的试验装置，还具备：
11.根据权利要求7所述的试验装置，还具备：
12.一种试验方法，具备：
13.一种计算机可读存储介质，存储有程序，该程序使对发光元件进行试验的试验装置执行以下顺序：
【技术特征摘要】
1.一种试验装置，具备：
2.根据权利要求1所述的试验装置，其中
3.根据权利要求2所述的试验装置，其中
4.根据权利要求2所述的试验装置，其中
5.根据权利要求2所述的试验装置，还具备：
6.根据权利要求5所述的试验装置，还具备：
7.根据权利要求1至6中任一项所述的试验装置，其中
【专利技术属性】
技术研发人员：宫内康司，长谷川宏太郎，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：
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