System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种半导体激光器件及其制备方法技术_技高网

一种半导体激光器件及其制备方法技术

技术编号:44408699 阅读:0 留言:0更新日期:2025-02-25 10:21
本申请提供的一种半导体激光器件及其制备方法涉及半导体激光器技术领域。该半导体激光器件由下至上依次包括衬底层、缓冲层、下限制层、下复合波导层、量子阱、上复合波导层、上限制层、过渡层和帽层。所述的下复合波导层从下往上依次包括(Al<subgt;x2</subgt;Ga<subgt;1‑x2</subgt;)<subgt;y2</subgt;In<subgt;1‑y2</subgt;P第一下波导层、(Al<subgt;x3</subgt;Ga<subgt;1‑x3</subgt;)<subgt;y3</subgt;In<subgt;1‑y3</subgt;P第二下波导层和(Al<subgt;x4</subgt;Ga<subgt;1‑x4</subgt;)<subgt;y4</subgt;In<subgt;1‑y4</subgt;P第三下波导层。所述的上复合波导层从下往上依次包括(Al<subgt;x6</subgt;Ga<subgt;1‑x6</subgt;)<subgt;y5</subgt;In<subgt;1‑y5</subgt;P第一上波导层、(Al<subgt;x7</subgt;Ga<subgt;1‑x7</subgt;)<subgt;y6</subgt;In<subgt;1‑y6</subgt;P第二上波导层和(Al<subgt;x8</subgt;Ga<subgt;1‑x8</subgt;)<subgt;y7</subgt;In<subgt;1‑y7</subgt;P第三上波导层。所述的下限制层为(Al<subgt;x1</subgt;Ga<subgt;1‑x1</subgt;)<subgt;y1</subgt;In<subgt;1‑y1</subgt;P,所述的上限制层为(Al<subgt;x9</subgt;Ga<subgt;1‑x9</subgt;)<subgt;y8</subgt;In<subgt;1‑y8</subgt;P。其中,x3>x1>x2=x4,x7>x9>x6=x8。该半导体激光器件采用宽条型结构有效保证了光束质量,避免光斑杂乱。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体激光器,具体地说是一种半导体激光器件及其制备方法


技术介绍

1、640nm半导体激光器作为红光光源广泛应用于激光显示、激光投影等领域,带来色彩更真实、沉浸感更强的护眼感官体验,随消费者对大尺寸、多场景应用方面需求增加,激光投影进入发展关键期,在消费人群、场景应用等层面具有巨大的发展空间。

2、短波长高功率可以提高人眼辨识度,色彩敏感度增加,为提高输出功率通常需要采用宽条型结构,提高电流注入面积,增大发光尺寸,但现有半导体激光器件所采用的algainp热阻较大,若采用宽条型结构往往导致多模激射,使得慢轴方向上的光束质量较差,光斑杂乱。


技术实现思路

1、针对上述问题,本申请提供了一种半导体激光器件及其制备方法,该半导体激光器件采用宽条型结构有效保证了光束质量,避免光斑杂乱。

2、本专利技术解决其技术问题所采取的技术方案是:

3、一种半导体激光器件,由下至上依次包括衬底层、缓冲层、下限制层、下复合波导层、量子阱、上复合波导层、上限制层、过渡层和帽层;

4、所述的下复合波导层从下往上依次包括(alx2ga1-x2)y2in1-y2p第一下波导层、(alx3ga1-x3)y3in1-y3p第二下波导层和(alx4ga1-x4)y4in1-y4p第三下波导层;

5、所述的上复合波导层从下往上依次包括(alx6ga1-x6)y5in1-y5p第一上波导层、(alx7ga1-x7)y6in1-y6p第二上波导层和(alx8ga1-x8)y7in1-y7p第三上波导层;

6、所述的下限制层为(alx1ga1-x1)y1in1-y1p,所述的上限制层为(alx9ga1-x9)y8in1-y8p;

7、其中,x3>x1>x2=x4,x7>x9>x6=x8。

8、进一步地,参数x1、y1、x2、y2、x3、y3、x4、y4、x6、y5、x7、y6、x8、y7、x9和y8的取值范围为,

9、0.6≤x1≤0.7,0.4≤y1≤0.6,0.4≤x2≤0.55,0.4≤y2≤0.6;0.7≤x3≤0.8,0.5≤y3≤0.65;0.4≤x4≤0.55,0.4≤y4≤0.6,0.4≤x6≤0.55,0.4≤y5≤0.6;0.7≤x7≤0.8,0.5≤y6≤0.66;0.4≤x8≤0.55,0.4≤y7≤0.6,0.6≤x9≤0.7,0.4≤y8≤0.6。

10、进一步地,所述的量子阱为ga1-x5inx5p,且参数x5的取值范围为0.55≤x5≤0.65。

11、进一步地,y2>0.5,y6>0.5,x5>0.55。

12、进一步地,所述上复合波导层的厚度大于所述下复合波导层的厚度。

13、进一步地,所述第一下波导层的厚度与第三上波导层的厚度相等,所述第二下波导层的厚度与第二上波导层的厚度相等,所述第三下波导层的厚度小于所述第一上波导层的厚度。

14、进一步地,所述第一下波导层的厚度等于所述第二下波导层的厚度。

15、进一步地,所述第一下波导层、第二下波导层、第二上波导层和第三上波导层的厚度均为20nm,所述第三下波导层的厚度为40nm,所述第一上波导层的厚度为80nm。

16、进一步地,所述的过渡层从下往上依次包括(alx10ga1-x10)y9in1-y9p第一过渡层和ga0.5in0.5p第二过渡层。

17、一种半导体激光器件制备方法,包括以下步骤,

18、s1,将衬底放在设备生长室内,在h2环境下升温到720±10℃烘烤,并通入ash3,对衬底进行表面热处理;

19、s2,温度缓降到680±10℃,然后通入tmga和ash3,在衬底上生长缓冲层;

20、s3,温度保持在680±10℃,并中止停断v族源(100%ash3)及iii族源(tmga),通入ph3,实现在缓冲层上的生长停顿;

21、s4,温度缓变至700±10℃,然后通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述缓冲层上生长下限制层;

22、s5,温度保持在700±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述下限制层上生长第一下波导层;

23、s6,温度保持在700±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述第一下波导层上生长第二下波导层;

24、s7,温度缓变至640±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述第二下波导层上生长第三下波导层;

25、s8,温度保持在640±10℃,通入tmin、tmga和ph3,在所述第三下波导层上生长量子阱;

26、s9,温度缓变至700±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述量子阱上生长第一上波导层;

27、s10,温度保持在700±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述第一上波导层上生长第二上波导层;

28、s11,温度保持在700±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述第二上波导层上生长第三上波导层;

29、s12,温度保持在700±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述第三上波导层上生长上限制层;

30、s13,温度缓变至670±10℃,通入tmal、tmin、tmga和ph3,在所述上限制层上生长第一过渡层;

31、s14,温度保持在670±10℃,通入tmin、tmga和ph3,在所述第一过渡层上生长第二过渡层;

32、s15,温度缓变至540±10℃,并在降温过程中通入ph3以保护生长界面;

33、s16,将温度保持在540±10℃,并通入tmga和ash3,在所述第二过渡层上生长帽层。

34、本专利技术的有益效果是:

35、本申请实施例提供的一种半导体激光器件采用复合波导层,且波导层的高al组分algainp能够扩展进场光斑,通过低折射率光扩展,降低光限制因子,增大高阶模损耗降,同时利用高al组分algainp具有更大导带带阶,能够提升载流子限制能力和高温工作特性,从而利用热透镜效应,增大慢轴发散角,保证慢轴方向上的光束质量,避免光斑杂乱。该半导体激光器件采用宽条型结构,同时通过在波导层中增加高al组分algainp解决了宽条型结构所带来的慢轴方向上的光束质量较差,光斑杂乱的问题。

36、另外,利用波导层中的高al组分algainp,能够实现与量子阱应力补偿,减少阱垒晶格常数差异造成的缺陷增殖,降低有源区应力,提升工作可靠性。

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【技术保护点】

1.一种半导体激光器件,其特征在于:由下至上依次包括衬底层(1)、缓冲层(2)、下限制层(3)、下复合波导层、量子阱(5)、上复合波导层、上限制层(7)、过渡层和帽层(9);

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件,其特征在于:参数x1、y1、x2、y2、x3、y3、x4、y4、x6、y5、x7、y6、x8、y7、x9和y8的取值范围为,

3.根据权利要求2所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述的量子阱(5)为Ga1-x5Inx5P,且参数x5的取值范围为0.55≤x5≤0.65。

4.根据权利要求3所述的一种半导体激光器件,其特征在于:y2>0.5,y6>0.5,x5>0.55。

5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述上复合波导层的厚度大于所述下复合波导层的厚度。

6.根据权利要求5所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述第一下波导层(41)的厚度与第三上波导层(63)的厚度相等,所述第二下波导层(42)的厚度与第二上波导层(62)的厚度相等,所述第三下波导层(43)的厚度小于所述第一上波导层(61)的厚度。

7.根据权利要求6所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述第一下波导层(41)的厚度等于所述第二下波导层(42)的厚度。

8.根据权利要求7所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述第一下波导层(41)、第二下波导层(42)、第二上波导层(62)和第三上波导层(63)的厚度均为20nm,所述第三下波导层(43)的厚度为40nm,所述第一上波导层(61)的厚度为80nm。

9.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述的过渡层从下往上依次包括(Alx10Ga1-x10)y9In1-y9P第一过渡层(81)和Ga0.5In0.5P第二过渡层(82)。

10.一种用于权利要求9所述的一种半导体激光器件的制备方法,其特征在于:包括以下步骤,

...

【技术特征摘要】

1.一种半导体激光器件,其特征在于:由下至上依次包括衬底层(1)、缓冲层(2)、下限制层(3)、下复合波导层、量子阱(5)、上复合波导层、上限制层(7)、过渡层和帽层(9);

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件,其特征在于:参数x1、y1、x2、y2、x3、y3、x4、y4、x6、y5、x7、y6、x8、y7、x9和y8的取值范围为,

3.根据权利要求2所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述的量子阱(5)为ga1-x5inx5p,且参数x5的取值范围为0.55≤x5≤0.65。

4.根据权利要求3所述的一种半导体激光器件,其特征在于:y2>0.5,y6>0.5,x5>0.55。

5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述上复合波导层的厚度大于所述下复合波导层的厚度。

6.根据权利要求5所述的一种半导体激光器件,其特征在于:所述第一下波导层(41)的厚度与第三上波...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘飞吴德华黄辅帅
申请(专利权)人:山东华光光电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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