【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测设备，具体为一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置。
技术介绍
1、检测设备有很多种类，工厂常用的检测设备有很多，包括测量设备卡尺、天平、打点机等，另外还有质量检测分析仪器，材质检测、包装检测设备等也是常见的检测设备，在包装环节中比较常见的有包装材料检测仪、金属检测设备、非金属检测设备以及无损检测设备等，而在电子元器件生产过程中，同样需要使用到外观缺陷检测装置对其外观的缺陷进行检测。
2、传统的电子元器件制造用外观缺陷检测装置具有结构简单且操作方便的优点，但仍然存在其不足之处。
3、传统的电子元器件制造用外观缺陷检测装置在进行使用的过程中，无法精确的捕捉到缺陷的部位，难以进行修理。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的无法精确捕捉到缺陷部位的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，包括底脚，还包括检测结构以及固定结构；
3、所述底脚的顶端安装有底板，且底板的内部开设有空腔，所述空腔内部的一侧通过转轴安装有单向螺纹杆，且空腔内部单向螺纹杆的外壁通过螺纹连接有第一螺纹块，所述单向螺纹杆的一端安装有摇杆，且固定结构位于第一螺纹块的顶端；
4、所述底板顶端一侧的后端安装有支撑柱，且支撑柱的顶端安装有顶板，所述顶板底端的两侧安装有气动伸缩杆，且气动伸缩杆的底端安装有活动板，所述检测结构位于活动板的上下两端；
5、所述检测结构包括检测罩，所述检测罩安装于活动板的底端，且活动板的顶端中间位置处安装有安装槽，所述安装槽内部的顶端均安装有多个触碰传感器，且安装槽内部的底端均安装有多个固定弹簧，所述固定弹簧的顶端均安装有第二接触板，且第二接触板的底端均安装有推杆，所述推杆的底端均安装有第一接触板。
6、优选的，所述单向螺纹杆的一端穿过底板，且单向螺纹杆的一端延伸至底板的一侧。
7、优选的，所述第一螺纹块的顶端穿过底板，且第一螺纹块的顶端延伸至底板的上方。
8、优选的，所述推杆的底端均依次穿过固定弹簧、活动板和检测罩，且推杆的底端均延伸至检测罩的内部。
9、优选的，所述固定结构包括活动槽、双向螺纹杆、固定板、第二螺纹块和旋钮，所述活动槽安装于第一螺纹块的顶端，且活动槽内部的一侧通过转轴安装有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆的外壁通过螺纹连接有两个第二螺纹块，且第二螺纹块的顶端均安装有固定板，所述双向螺纹杆的一端安装有旋钮。
10、优选的，所述双向螺纹杆的一端穿过活动槽，且双向螺纹杆的一端延伸至活动槽的一侧。
11、优选的，所述固定板的顶端均穿过活动槽，且固定板的顶端均延伸至活动槽的上方。
12、与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过气动伸缩杆推动活动板，通过活动板推动检测罩，使检测罩将电子元器件进行笼罩，随后第一接触板即可与电子元器件的顶端接触，通过电子元器件推动第一接触板，使第一接触板推动推杆，通过推杆推动第二接触板，并通过第二接触板将固定弹簧拉伸，随后第二接触板即可与触碰传感器进行接触，若电子元器件外观有缺陷，出现部分缺失，则该部分所对应的推杆则无法被推动，则对应的触碰传感器则无法接收到接触的信号，此时工作人员即可判断该区域发生缺失，即可对其进行修补，该结构实现了对缺陷部分的精准捕捉。
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1.一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，包括底脚(1)，其特征在于：还包括检测结构以及固定结构(9)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述单向螺纹杆(4)的一端穿过底板(3)，且单向螺纹杆(4)的一端延伸至底板(3)的一侧。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述第一螺纹块(2)的顶端穿过底板(3)，且第一螺纹块(2)的顶端延伸至底板(3)的上方。
4.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述推杆(18)的底端均依次穿过固定弹簧(14)、活动板(6)和检测罩(13)，且推杆(18)的底端均延伸至检测罩(13)的内部。
5.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述固定结构(9)包括活动槽(901)、双向螺纹杆(902)、固定板(903)、第二螺纹块(904)和旋钮(905)，所述活动槽(901)安装于第一螺纹块(2)的顶端，且活动槽(901)内部的一侧通过转轴安装有双向螺纹杆(902
6.根据权利要求5所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述双向螺纹杆(902)的一端穿过活动槽(901)，且双向螺纹杆(902)的一端延伸至活动槽(901)的一侧。
7.根据权利要求5所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述固定板(903)的顶端均穿过活动槽(901)，且固定板(903)的顶端均延伸至活动槽(901)的上方。
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，包括底脚(1)，其特征在于：还包括检测结构以及固定结构(9)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述单向螺纹杆(4)的一端穿过底板(3)，且单向螺纹杆(4)的一端延伸至底板(3)的一侧。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述第一螺纹块(2)的顶端穿过底板(3)，且第一螺纹块(2)的顶端延伸至底板(3)的上方。
4.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述推杆(18)的底端均依次穿过固定弹簧(14)、活动板(6)和检测罩(13)，且推杆(18)的底端均延伸至检测罩(13)的内部。
5.根据权利要求1所述的一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置，其特征在于：所述固定结构(9)...
【专利技术属性】
技术研发人员：荣凤华，李宁宁，
申请(专利权)人：济宁圣辉电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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