【技术实现步骤摘要】
技术介绍
1、ae算法用于计算散斑图的曝光时间，曝光时间在很大程度上决定了拍摄的图像质量。在运动场景下，模组拍摄的场景会随时变化，这意味着拍摄到的材质和深度在变化，也就是需要曝光时间随之变化。在运动场景下我们可以根据当前的图像和前面的信息计算当前的曝光，这里前面的信息是指当前帧以前的幅度图及其对应的曝光时间，假设在短时间内场景没有发生非常大的变化，也就是曝光时间没有发生很大变化，那么预测的曝光时间可以用于下一帧的拍摄，这里的短时间内场景没有发生非常大的假设需要在很短的时间内能够算出曝光时间，并且不能用太久之前的信息，甚至只能用当前帧的信息。
2、infineon芯片获取的散斑图可以用于三维重建，散斑图的质量会影响到重建结果，ae算法在优化散斑图质量中起到了很大作用。不同于很多其他芯片，infineon芯片的散斑图具有随着曝光时间增加像素值超过一定的值后反而会无规律减小的特点。这会使得单个散斑的幅度值出现较大偏差。这一特点给ae算法增加了难度，普通的ae算法无法生效。
3、以上
技术介绍
内容的公开仅用于辅助理解本专利技术的专利技术构思及技术方案，其并不必然属于本专利申请的现有技术，在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日已经公开的情况下，上述
技术介绍
不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。
技术实现思路
1、为此，本专利技术基于infineon芯片的散斑图，使用散斑图及其对应的曝光值计算曝光时间，当曝光时间距离理想值比较远时，先跳到理想曝光时间附近，当在
2、第一方面，本专利技术提供一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，包括：
3、步骤s1：获取散斑图和对应的曝光时间；
4、步骤s2：在所述散斑图上提取散斑中心；
5、步骤s3：根据所述散斑中心计算平均幅度值和过曝像素比例；
6、步骤s4：判断所述过曝像素比例是否在理想值附近，并当在所述理想值附近时进行精调，不在所述理想值附近时进行粗调。
7、可选地，所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，在步骤s2中，以第一半径遍历所述散斑图上的像素点，并判断中心点与所述第一半径内的其他点的像素值，如果所述中心点的亮度是所述第一半径内的最大值，则将所述中心点标记为散斑中心。
8、可选地，所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s3中计算平均幅度值时包括：
9、步骤s31：计算每个所述散斑中心八邻域的幅度值；
10、步骤s32：计算c个最大的所述幅度值的均值作为平均幅度；其中，所述c是所述散斑中心的数量与预设比例的积。
11、可选地，所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s3中计算过曝像素比例时，将幅度值大于幅度阈值的散斑中心标记为初步过曝散斑中心，再将第一距离内的所述初步过曝散斑中心合并，得到最终过曝散斑中心，将所述最终过曝散斑中心的数量除以总像素数量，得到过曝像素比例；其中，所述第一距离大于所述第一半径。
12、可选地，所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s4中判断所述过曝像素比例是否在理想值附近时，将所述理想值乘以大于1的阈值u作为上界，乘以小于1的值d作为下界，作为临近搜索范围，并将平均幅度值直线上理想值对应的曝光值作为临近点；当前图像对应的过曝像素比例在所述临近搜索范围内时，视为在理想值附近，否则视为不在理想值附近。
13、可选地，所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s4中进行粗调时包括：
14、步骤s41：根据所述平均幅度值获取平均幅度值直线；
15、步骤s42：根据当前距离和所述过曝像素比例确定得到理想幅度值；
16、步骤s43：根据所述平均幅度值直线和所述理想幅度值计算得到粗调曝光时间。
17、可选地，所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s4中进行精调时根据公式nt＝ct+s2*(ir-cr)/pl，s2是大于0且小于1的缩放比例系数计算精调曝光时间；其中，pl是平均幅度值直线的斜率，cr是过曝比例，ct是曝光时间，ir是理想过曝比例，nt是精调曝光时间。
18、第二方面，本专利技术提供一种基于infineon芯片的快速ae系统，用于实现前述任一项所述的基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，包括：
19、获取模块，用于获取散斑图和对应的曝光时间；
20、提取模块，用于在所述散斑图上提取散斑中心；
21、计算模块，用于根据所述散斑中心计算平均幅度值和过曝像素比例；
22、调节模块，用于判断所述过曝像素比例是否在理想值附近，并当在所述理想值附近时进行精调，不在所述理想值附近时进行粗调。
23、第三方面，本专利技术提供一种基于infineon芯片的快速ae设备，其特征在于，包括：
24、处理器；
25、存储器，其中存储有所述处理器的可执行指令；
26、其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行前述任一项所述基于infineon芯片的快速ae方法的步骤。
27、第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，用于存储程序，其特征在于，所述程序被执行时实现前述任一项所述基于infineon芯片的快速ae方法的步骤。
28、与现有技术相比，本专利技术具有如下的有益效果：
29、本专利技术基于infineon芯片的散斑图，使用散斑图及其对应的曝光值计算曝光时间，当曝光时间距离理想值比较远时，先跳到理想曝光时间附近，当在理想值附近时逐渐逼近理想曝光时间，这样可以达到在短时间内快速收敛的效果。
30、本专利技术只使用散斑图及其对应的曝光值即可快速计算出下一帧的曝光时间，计算依赖的数据少、计算快，响应快，适合移动场景曝光的快速调节。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，在步骤S2中，以第一半径遍历所述散斑图上的像素点，并判断中心点与所述第一半径内的其他点的像素值，如果所述中心点的亮度是所述第一半径内的最大值，则将所述中心点标记为散斑中心。
3.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，步骤S3中计算平均幅度值时包括：
4.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，步骤S3中计算过曝像素比例时，将幅度值大于幅度阈值的散斑中心标记为初步过曝散斑中心，再将第一距离内的所述初步过曝散斑中心合并，得到最终过曝散斑中心，将所述最终过曝散斑中心的数量除以总像素数量，得到过曝像素比例；其中，所述第一距离大于所述第一半径。
5.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，步骤S4中判断所述过曝像素比例是否在理想值附近时，将所述理想值乘以大于1的阈值u作为上界，乘以小于1的
6.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，步骤S4中进行粗调时包括：
7.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，步骤S4中进行精调时根据公式nt＝ct+s2*(ir-cr)/pl，s2是大于0且小于1的缩放比例系数计算精调曝光时间；其中，pl是平均幅度值直线的斜率，cr是过曝比例，ct是曝光时间，ir是理想过曝比例，nt是精调曝光时间。
8.一种基于infineon芯片的快速AE系统，用于实现权利要求1至7中任一项所述的基于infineon芯片的快速AE方法，其特征在于，包括：
9.一种基于infineon芯片的快速AE设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，用于存储程序，其特征在于，所述程序被执行时实现权利要求1至7中任意一项所述基于infineon芯片的快速AE方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，在步骤s2中，以第一半径遍历所述散斑图上的像素点，并判断中心点与所述第一半径内的其他点的像素值，如果所述中心点的亮度是所述第一半径内的最大值，则将所述中心点标记为散斑中心。
3.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s3中计算平均幅度值时包括：
4.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s3中计算过曝像素比例时，将幅度值大于幅度阈值的散斑中心标记为初步过曝散斑中心，再将第一距离内的所述初步过曝散斑中心合并，得到最终过曝散斑中心，将所述最终过曝散斑中心的数量除以总像素数量，得到过曝像素比例；其中，所述第一距离大于所述第一半径。
5.根据权利要求1所述的一种基于infineon芯片的快速ae方法，其特征在于，步骤s4中判断所述过曝像素比例是否在理想值附近时，将所述理想值乘以大于1的阈值u作为上界，乘以小于1的值d作为下...
【专利技术属性】
技术研发人员：周响南，陈松坤，王永领，黄龙祥，汪博，朱力，吕方璐，
申请(专利权)人：深圳市光鉴科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。