一种液态硅取样装置制造方法及图纸

技术编号:44357751 阅读:0 留言:0更新日期:2025-02-25 09:40
本技术一种液态硅取样装置,包括锅体和托架,锅体和托架可拆卸连接;所述锅体由锅体上部和锅体下部组成,锅体上部和锅体下部均呈圆柱状,且锅体上部的直径大于锅体下部的直径;锅体上部和锅体下部内部开设有贯通的圆台状的容置腔,且容置腔的上部开口直径大于下部开口直径;容置腔下部开口内塞设有堵头,且堵头的最大外径大于容置腔的下部开口直径。本技术结构简单,使用方便,试样取出速度快,具有较好的实用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及工业硅生产领域,具体涉及一种液态硅取样装置


技术介绍

1、工业硅是在埋弧电炉中用电热法冶炼生产的,在高温和强还原条件下一些由含硅原料和还原剂带入的氧化杂质部分必然会被还原而进入产品金属相中,需要对每炉成品进行取样化验,分析其fe、al、ga等主要杂质含量。杂质含量越高,工业硅品质越差,价格越低。一般fe杂质主要是原料带入或者开炉眼至浇注定型环节外部铁带入;而al、ga可以通过炉外氧化精炼工艺及外部操作工艺去除,通过分析各环节杂质的含量,及时调整工艺、操作,达到提升工业硅产品品级率的目的。

2、中国技术专利cn201320142578.1公开一种液态硅取样器,包括托架和锅体,锅体内部具有开口的液态硅容纳空间,锅体与托架可拆卸连接;托架可以进一步的包括托架主体和把手,托架主体的一端与锅体连接,托架主体的另一端与把手可拆卸连接。本技术可广泛应用于工业硅生产时为分析硅的化学成分而进行的取样操作中。

3、然上述技术在使用时发现存在脱模困难的弊端,由于锅体采用石墨材质制成,材质较脆,待硅液冷却凝固后进行叩击或敲击脱模时,用力过大容易损坏锅体,用力过小则难以脱模,影响现场工作人员的使用体验。


技术实现思路

1、本技术目的在于公开一种液态硅取样装置,以实现取样后样品的快速脱模,弥补现有技术不足。

2、为实现上述目的,本技术采用如下技术方案:

3、一种液态硅取样装置,包括锅体和托架,锅体和托架可拆卸连接;所述锅体由锅体上部和锅体下部组成,锅体上部和锅体下部均呈圆柱状,且锅体上部的直径大于锅体下部的直径;锅体上部和锅体下部内部开设有贯通的圆台状的容置腔,且容置腔的上部开口直径大于下部开口直径;容置腔下部开口内塞设有堵头,且堵头的最大外径大于容置腔的下部开口直径。

4、所述托架包括托环和与托环一侧连接的把手,使用时托环套设在锅体下部上与锅体上部底面相抵接。

5、与现有技术相比,本技术具有如下优点:

6、本技术结构简单,使用方便,试样取出速度快,使用过程中,只需工作人员握持手柄,将锅体伸入浇铸的硅液流中接取硅液,待硅液盛满后将锅体取出冷却,冷却后反向敲击堵头将试样从锅体容置腔中退出即可。

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【技术保护点】

1.一种液态硅取样装置,其特征在于:包括锅体(1)和托架(2),锅体(1)和托架(2)可拆卸连接;所述锅体(1)由锅体上部(3)和锅体下部(4)组成,锅体上部(3)和锅体下部(4)均呈圆柱状,且锅体上部(3)的直径大于锅体下部(4)的直径;锅体上部(3)和锅体下部(4)内部开设有贯通的圆台状的容置腔(5),且容置腔(5)的上部开口直径大于下部开口直径;容置腔(5)下部开口内塞设有与开口相适配的堵头(6),且堵头(6)的最大外径大于容置腔(5)的下部开口直径。

2.如权利要求1所述一种液态硅取样装置,其特征在于:所述托架(2)包括托环(7)和与托环(7)一侧连接的把手(8),使用时托环(7)套设在锅体下部(4)上与锅体上部(3)底面相抵接。

【技术特征摘要】

1.一种液态硅取样装置,其特征在于:包括锅体(1)和托架(2),锅体(1)和托架(2)可拆卸连接;所述锅体(1)由锅体上部(3)和锅体下部(4)组成,锅体上部(3)和锅体下部(4)均呈圆柱状,且锅体上部(3)的直径大于锅体下部(4)的直径;锅体上部(3)和锅体下部(4)内部开设有贯通的圆台状的容置腔(5),且容置腔(5)的上部开...

【专利技术属性】
技术研发人员:于建红张军山严宝年李广东李勇刚陈伟华裴建文
申请(专利权)人:嘉峪关大友企业集团有限责任公司硅业分公司
类型:新型
国别省市:

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