【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及x射线管领域，尤其是x射线管的发射电流感测领域。此外，本专利技术涉及检测x射线管的高电压电位侧的发射电流。更具体而言，本专利技术涉及用于检测x射线管的发射电流的装置、包括这种装置的x射线管、包括这种装置的x射线系统、检测x射线管的发射电流的方法以及霍尔传感器用于检测x射线管的发射电流的用途。
技术介绍
1、实际上，每个x射线管的发射电流以不同的方式取决于加热电流和拾取电压，对于相同类型的管也是如此。例如，在x射线管的长时间操作之后，可能会发生加热丝表面的一些部分被蒸发，因此加热丝变得更细。然后，相同值的加热电流可能导致产生比加热丝表面的一些部分蒸发之前更大的发射电流。这可能导致通过x射线管的电流与获取开始时期望的获取电流值有相对较大的偏差。
2、通常，控制x射线管的灯丝的温度(即，通过灯丝的加热电流)，以便调节发射电流，即，从灯丝到阳极靶的发射电流。
3、基于x射线管的发射电流测量是x射线管的功能的必要特征。例如，由于钨丝磨损导致的灯丝故障(可能是一些x射线管的主要故障模式)可以从达到给定的发射电流所需的加热电流中预测出来。
4、为了确保患者安全(例如在x射线剂量方面)，为了避免管过载(这意味着避免阳极上温度过高)，为了遵守法规方面，为了实现剂量调制以及为了实现管温度监控，x射线管的发射电流需要调节。
5、因此，测量发射电流可以是x射线管监控的一个改进特征。因此，需要直接、快速和精确地测量发射电流，并且需要快速和精确地调节x射线管的发射电流。
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1、需要一种改进的发射电流的测量过程，这进而将导致改善患者的安全性(例如在x射线剂量方面)，用于监测管过载(这意味着避免阳极上温度过高)，用于遵守法规方面，用于实现剂量调制以及用于改进管温度监管。
2、本专利技术的专利技术人已观察到，在x射线管的高电压电位侧的发射电流的测量允许实现快速、直接的发射电流测量，其中无需从其他的x射线管测量结果(例如，从加热电流)中得出发射电流。
3、本专利技术的目的是提供x射线管的发射电流测量结果，其中可以快速、直接地测量发射电流。
4、本专利技术由独立权利要求来限定，其中进一步的实施例由从属权利要求来限定。
5、根据本专利技术的第一方面，一种用于确定x射线管的发射电流的装置包括被配置成用于确定x射线管的发射电流的传感器，且包括被配置成用于操作x射线管的第一x射线管导线和第二x射线管导线。传感器被布置在第一x射线管导线处和第二x射线管导线处，其中传感器被布置在x射线管的高电压电位侧。此外，传感器被以这样的方式配置和布置在第一x射线管导线处和第二x射线管导线处，即在第一x射线管导线中由x射线管的加热电流产生的第一磁场、在第一x射线管导线中由x射线管的发射电流产生的第二磁场、在第二x射线管导线中由x射线管的加热电流产生的第三磁场以及在第二x射线管导线中由x射线管的发射电流产生的第四磁场在传感器处被叠加。传感器被配置成用于测量由在传感器处叠加的磁场产生的合成磁场。该装置被配置成用于基于合成磁场来确定x射线管的发射电流。
6、在本专利技术的上下文中，术语“x射线管导线”应被理解为描述用于操作x射线管的导线，其中x射线管导线被配置成用于提供与x射线管的电源的连接。
7、在本专利技术的上下文中，术语“高电压电位侧”应被理解为描述x射线管的电压侧，其具有与地电位侧不同的电位，例如更高的电位。用于操作x射线管的部件，例如发生器，被连接到地电位，并且由发生器产生的用于操作x射线管的电力产生更高的电压电位，被称为高电压电位侧。发射电流的确定必须在高电压电位上进行(例如，x射线管操作需要高达150kv)，而测量结果是处于地电位的部件所需要的并被提供给处于地电位的部件。因此，不能使用标准的外部探头。针对地电位侧设计的装置、部件和/或元件不能在高电压电位侧操作。因此，对装置、部件等有特殊要求，以便能够在高电压侧操作。
8、在本专利技术的上下文中，术语“合成(resulting)磁场”应被理解为描述可以由不止一个磁场的叠加组成的磁场。例如，合成磁场可以是主磁场，其包括或包含叠加的第一磁场、第二磁场、第三磁场和第四磁场，或它们的一部分。它可以包括第一磁场和第三磁场的减小的磁场以及非减小的第二磁场和第四磁场。
9、在该实施例中，第一x射线管导线和第二x射线管导线被配置成用于提供被配置成用于驱动x射线管的发生器与x射线管的阴极之间的连接。阴极可包括灯丝，因此导线可以提供发生器与x射线管的灯丝之间的连接。具体而言，一个导线可以是输入导线，而另一个导线可以是输出导线。传感器被布置在x射线管的高电压电位侧、在x射线管导线处，该导线提供从x射线管的发生器到x射线管的阴极的电流，反之亦然，其中连接发生器和x射线管的阴极的(x射线管)导线被以这样的方式布置，即由加热电流在每个导线中引起的磁场被减小。换句话说，从发生器进入阴极、灯丝和从阴极、灯丝出来的x射线管导线应被定向，使得由加热电流引起的磁场被减小或抵消。磁场的这种减小是由传感器在x射线管导线处的具体布置结构以及磁场在x射线管导线处产生的方式以及传感器检测磁场的方式所致。根据所选的传感器布置结构和/或传感器元件，通过x射线管导线的加热电流可以沿相同的方向流动，或者通过x射线管导线的加热电流可以沿相反的方向流动。不同磁场的叠加导致的效果是：与加热电流相关的磁场将被减小或在传感器处将被抵消，使得只有关注的磁场，即发射电流的磁场对于传感器仍然是可测量的。如上所述，加热电流的净贡献实际上将为零，而由发射电流引起的磁场将导致可测量的结果。
10、使用磁场补偿，以便区分加热电流和发射电流，两者都在x射线管的高电压电位侧流动。因此，由于传感器在x射线管导线处的具体布置结构，加热电流的磁场可被减小，或者优选地通过在传感器处的磁场叠加来抵消。具体而言，通过叠加由加热电流(即进入x射线管的输入加热电流和来自加热管的输出加热电流)引起的磁场，这将在下文的图中阐明。由于进入阴极、灯丝的加热电流等于来自阴极、灯丝的加热电流，因此如果相应地选择本实施例的装置的布置结构的几何形状，则加热电流的净磁场会减小或抵消。发射电流的剩余磁场导致在传感器上产生可测量的信号，该信号不含任何剩余的加热电流贡献或至少仅含一些加热电流残余，这些残余可在稍后阶段被过滤掉。因此，由于加热电流磁场减小，传感器的动态范围要求可被减小，这样能够实现干净的发射电流测量。因此，传感器测量发射电流的剩余磁场，该剩余磁场与流过x射线管导线的发射电流有关。除了确定发射电流之外，传感器还可被配置成用于生成发射电流信号，该信号可包括所确定的发射电流的值，并且该信号可以提供给x射线管的其他部件或本专利技术的实施例的其他部件，这将在下文中描述。
11、确定x射线管的高电压电位侧的发射电流允许直接、快速地确定该电流，从而可以省略外部探针，并且也不需要从其他测量值(例如，加热电流)中得出发射电流。此外，其优点在于，x射线管的高电压电位侧可以配备这样的装置，从而可以进行本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于确定X射线管(100)的发射电流的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，
3.根据权利要求1或2所述的装置，
4.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，
5.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，
7.根据前述权利要求1至5中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
8.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，
9.根据前述权利要求1至7中的任一项所述的装置，
10.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
11.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
12.一种X射线管，包括：
13.一种X射线系统，包括：
14.一种用于测量X射线管的发射电流的方法，所述方法包括：
15.一种霍尔传感器用于测量X射线管的发射电流的用途，其中通过将在第一X射线管导线中由所述X射线管的加热电流产生的磁
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于确定x射线管(100)的发射电流的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，
3.根据权利要求1或2所述的装置，
4.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，
5.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，
7.根据前述权利要求1至5中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
8.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，
9.根据前述权利要求1至7中的任一项所述的装置，
10.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述装置还包括：
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【专利技术属性】
技术研发人员：T·罗伊施，C·卡尔，C·霍姆斯，
申请(专利权)人：皇家飞利浦有限公司，
类型：发明
国别省市：
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