System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种测温用微晶玻璃及其制备方法技术_技高网

一种测温用微晶玻璃及其制备方法技术

技术编号:44342769 阅读:2 留言:0更新日期:2025-02-18 20:55
本发明专利技术公开了一种测温用微晶玻璃及其制备方法,其中,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为400‑580℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包含:二氧化硅60‑80%,氧化锂10‑20%,五氧化二磷3‑8%,氧化钠和氧化钾3‑10%,氧化铝1‑6%,氧化锆1‑4%,氧化铈1‑5%,钒化合物0.5‑3%。本发明专利技术通过采用高硅基玻璃作为基体材料,使得测温用微晶玻璃具有较强的惰性,可在氧化或还原环境中稳定存在。采用传统材料替代稀土发光材料,原料价格便宜且无其他特殊要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及温度传感,尤其涉及一种测温用微晶玻璃及其制备方法


技术介绍

1、测温砖是一种用于高温环境下进行温度测量的特殊材料,通常用于工业窑炉中,特别是陶瓷、玻璃、冶金等行业。测温砖能够在高温环境中长时间工作而不发生明显的物理或化学变化,从而准确地反映窑炉内的温度变化。

2、现有测温砖的材料中使用了一定量的稀土发光材料,导致生产加工成本较高,且在使用环境上也有一些限制。

3、因此,现有技术还有待于进一步的改进和提升。


技术实现思路

1、鉴于上述现有技术的不足,本专利技术提供一种测温用微晶玻璃及其制备方法,旨在解决现有测温用微晶玻璃需要使用稀土发光材料导致测温砖成本偏高的问题。

2、本专利技术为解决上述技术问题所采用的技术方案如下:

3、第一方面,一种测温用微晶玻璃的制备方法,其中,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为400-580℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包含:二氧化硅60-80%,氧化锂10-20%,五氧化二磷3-8%,氧化钠和氧化钾3-10%,氧化铝1-6%,氧化锆1-4%,氧化铈1-5%,钒化合物0.5-3%。

4、以下作为本专利技术的优选技术方案,但不作为对本专利技术提供的技术方案的限制,通过以下优选的技术方案,可以更好地达到和实现本专利技术的目的和有益效果。

5、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃,其中,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为450-500℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包括:二氧化硅70-75%,氧化锂15-20%,五氧化二磷5-8%,氧化钠和氧化钾6-10%,氧化铝1-4%,氧化锆1-4%,氧化铈1-3%,钒化合物1-2%。

6、第二方面,一种第一方面所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其中,包括:

7、获取玻璃原材料,所述玻璃原材料按质量百分比计,包括:二氧化硅60-80%,氧化锂10-20%,五氧化二磷3-8%,氧化钠和氧化钾3-10%,氧化铝1-6%,氧化锆1-4%,氧化铈1-5%,钒化合物0.5-3%;

8、将所述玻璃原材料在1450-1700℃温度条件下熔化、并进行澄清处理,得到玻璃熔液;

9、将所述玻璃熔液浇筑成型,得到基础玻璃;

10、对所述基础玻璃进行微晶化处理,得到所述测温用微晶玻璃。

11、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其中,所述获取玻璃原材料,具体包括:

12、按添加比例称取所述二氧化硅,氧化锂,五氧化二磷,氧化钠和氧化钾,氧化铝,氧化锆,氧化铈以及钒化合物,混合均匀后进行研磨,得到所述玻璃原材料,其中,研磨时间为30-35min,研磨后的粒径为10-35微米。

13、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其中,所述将所述玻璃原材料在1450-1700℃温度条件下熔化,具体包括:

14、将所述玻璃原料置于坩埚中,在将所述坩埚至于加热设备中,以10-15℃/min的速率升温至800-1200℃,再以3-5℃/min的速率升温至1450-1700℃,保温0.5-5h。

15、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其中,所述将所述玻璃熔液浇筑成型,得到基础玻璃,具体包括:

16、将所述玻璃熔液浇筑到预热后的模具中,模具放入已升温至500-520℃的马弗炉中保温2.5-3h后,降温至室温,得到所述基础玻璃。

17、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其中,所述对所述基础玻璃进行微晶化处理,得到所述测温用微晶玻璃,具体包括:

18、将所述基础玻璃置于加热设备中,升温至400-580℃,保温2-3h,得到所述测温用微晶玻璃。

19、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其中,所述升温至400-580℃,其中,升温速率为1-5℃/min。

20、作为优选的技术方案,所述的测温用微晶玻璃,其中,所述测温用微晶玻璃的形状为方形或圆形;所述测温微晶玻璃的体积大于0.5cm3小于2cm3。

21、有益效果:与现有技术相比,本专利技术通过采用高硅基玻璃作为基体材料,使得测温用微晶玻璃具有较强的惰性,可在氧化或还原环境中稳定存在。采用传统材料替代稀土发光材料,原料价格便宜且无其他特殊要求。

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【技术保护点】

1.一种测温用微晶玻璃,其特征在于,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为400-580℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包含:二氧化硅60-80%,氧化锂10-20%,五氧化二磷3-8%,氧化钠和氧化钾3-10%,氧化铝1-6%,氧化锆1-4%,氧化铈1-5%,钒化合物0.5-3%。

2.根据权利要求1所述的测温用微晶玻璃,其特征在于,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为450-500℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包括:二氧化硅70-75%,氧化锂15-20%,五氧化二磷5-8%,氧化钠和氧化钾6-10%,氧化铝1-4%,氧化锆1-4%,氧化铈1-3%,钒化合物1-2%。

3.一种权利要求1所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,包括:

4.根据权利要求3所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,所述获取玻璃原材料,具体包括:

5.根据权利要求3所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,所述将所述玻璃原材料在1450-1700℃温度条件下熔化,具体包括:

6.根据权利要求3所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,所述将所述玻璃熔液浇筑成型,得到基础玻璃,具体包括:

7.根据权利要求3所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,所述对所述基础玻璃进行微晶化处理,得到所述测温用微晶玻璃,具体包括:

8.根据权利要求7所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,所述升温至400-580℃,其中,升温速率为1-5℃/min。

9.根据权利要求3所述的测温用微晶玻璃,其特征在于,所述测温用微晶玻璃的形状为方形或圆形;所述测温微晶玻璃的体积大于0.5cm3小于2cm3。

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【技术特征摘要】

1.一种测温用微晶玻璃,其特征在于,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为400-580℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包含:二氧化硅60-80%,氧化锂10-20%,五氧化二磷3-8%,氧化钠和氧化钾3-10%,氧化铝1-6%,氧化锆1-4%,氧化铈1-5%,钒化合物0.5-3%。

2.根据权利要求1所述的测温用微晶玻璃,其特征在于,所述测温用微晶玻璃的晶化温度为450-500℃;按质量百分比计,所述测温用微晶玻璃包括:二氧化硅70-75%,氧化锂15-20%,五氧化二磷5-8%,氧化钠和氧化钾6-10%,氧化铝1-4%,氧化锆1-4%,氧化铈1-3%,钒化合物1-2%。

3.一种权利要求1所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在于,包括:

4.根据权利要求3所述的测温用微晶玻璃的制备方法,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊建都谭莉冯强何文礼
申请(专利权)人:深圳市翔通光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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