【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及mcu芯片设计验证，尤其涉及一种mcu验证方法和系统。
技术介绍
1、mcu芯片设计验证是指对微控制器单元(mcu)芯片进行功能和性能验证的过程。在设计验证阶段，工程团队会使用各种工具和方法来确认芯片是否符合设计要求，并能够正确执行指令、处理数据，并且在各种应用场景下均能可靠运行。通过mcu芯片设计验证，可以提高芯片的质量和可靠性，减少故障率，并确保芯片能够在各种应用领域中正常工作，以确保芯片的设计符合预期，并能够成功投入市场使用。
2、目前，mcu的验证主要是将整个系统拆分为一个个模块，针对每个模块搭建相应的验证平台，从而完成一个个模块的功能行为验证，之后再做集成验证。其中，可采用通用验证方法学(universalverification methodology，uvm)来搭建验证平台，利用uvm平台框架进行验证。但是，因为mcu本身属于轻量级片上系统(soc)，在现有验证方法学验证结构中，每一个外设或者主核都应该搭建相应的随机验证环境，模块级验证完成后还要对系统进行验证，收集功能覆盖率，代码覆盖率，这将给轻量级mcu项目进度造成影响，推迟新产品的上市时间。
3、基于此，需要一种新的解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种mcu验证方法和系统。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种mcu验证方法，包括以下步骤：
3、监测mcu总线，在监测到mcu有对待验证模块的寄存器的写操作时，产生与所述待验证
4、将所述随机数据写入存储模块；
5、mcu在执行所述测试用例时，读取存储在所述存储模块中的所述随机数据；
6、利用所述随机数据对所述待验证模块的寄存器进行配置，生成配置文件；
7、所述待验证模块根据所述配置文件执行相应功能，完成验证。
8、在本专利技术提供的mcu验证方法中，在监测mcu总线，在监测到mcu有对待验证模块的寄存器的写操作时，产生与所述待验证模块的测试用例相关的随机数据的步骤之前，还包括：
9、编写所述待验证模块的汇编源文件；
10、将所述汇编源文件存储到所述mcu。
11、在本专利技术提供的mcu验证方法中，还包括；
12、根据mcu指令集和所述汇编源文件生成所述测试用例。
13、此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种mcu验证系统，包括mcu、存储模块、待验证模块和基于uvm的随机验证平台，所述mcu连接于所述存储模块、所述待验证模块和所述随机验证平台，所述随机验证平台还连接于所述存储模块，
14、所述随机验证平台用于监测mcu总线，在监测到所述mcu有对所述待验证模块的寄存器的写操作时，产生与所述待验证模块的测试用例相关的随机数据，并将所述随机数据写入所述存储模块；
15、所述mcu用于在执行所述测试用例时，读取存储在所述存储模块中的所述随机数据，利用所述随机数据对所述待验证模块的寄存器进行配置，生成配置文件；
16、所述待验证模块用于根据所述配置文件执行相应功能。
17、在本专利技术提供的mcu验证系统中，所述mcu还用于根据预先编写的所述待验证模块的汇编源文件和mcu指令集和生成所述测试用例。
18、在本专利技术提供的mcu验证系统中，所述随机验证平台包括监控器、随机数产生器和驱动器，所述监控器连接于所述随机数产生器，所述随机数产生器连接于所述驱动器，
19、所述监控器用于监测mcu总线，在监测到所述mcu有对所述待验证模块的寄存器的写操作时，发送随机数据产生指令至所述随机数产生器；
20、所述随机数产生器用于产生与所述待验证模块的测试用例相关的随机数据；
21、所述驱动器用于将所述随机数据写入所述存储模块。
22、此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种mcu验证设备，包括：
23、存储器，用于存储计算机程序；
24、处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述的mcu验证方法的步骤。
25、此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的mcu验证方法的步骤。
26、本专利技术中，通过在验证平台监测到mcu对待验证模块的寄存器进行写操作时，产生与待验证模块的测试用例相关的随机数据并写入存储模块；随后，在mcu在执行测试用例时，将存储模块中的随机数据写入待测试模块，以完成对整个系统和外设的随机验证。相较于传统的对每个外设搭建主从机验证部件，该方法简化了整个验证过程；结合uvm本身随机特点联合mcu内核完成了对所有待验证模块和存储的随机验证，不再单靠主机内核直接配置完成的系统验证，增强了随机覆盖率；该验证平台接口简单，灵活，易于复用。
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1.一种MCU验证方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的MCU验证方法，其特征在于，在监测MCU总线，在监测到MCU有对待验证模块的寄存器的写操作时，产生与所述待验证模块的测试用例相关的随机数据的步骤之前，还包括：
3.如权利要求2所述的MCU验证方法，其特征在于，还包括；
4.一种MCU验证系统，其特征在于，包括MCU、存储模块、待验证模块和基于UVM的随机验证平台，所述MCU连接于所述存储模块、所述待验证模块和所述随机验证平台，所述随机验证平台还连接于所述存储模块，
5.如权利要求4所述的MCU验证系统，其特征在于，所述MCU还用于根据预先编写的所述待验证模块的汇编源文件和MCU指令集和生成所述测试用例。
6.如权利要求4所述的MCU验证系统，其特征在于，所述随机验证平台包括监控器、随机数产生器和驱动器，所述监控器连接于所述随机数产生器，所述随机数产生器连接于所述驱动器，
7.一种MCU验证设备，其特征在于，包括：
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介
...【技术特征摘要】
1.一种mcu验证方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的mcu验证方法，其特征在于，在监测mcu总线，在监测到mcu有对待验证模块的寄存器的写操作时，产生与所述待验证模块的测试用例相关的随机数据的步骤之前，还包括：
3.如权利要求2所述的mcu验证方法，其特征在于，还包括；
4.一种mcu验证系统，其特征在于，包括mcu、存储模块、待验证模块和基于uvm的随机验证平台，所述mcu连接于所述存储模块、所述待验证模块和所述随机验证平台，所述随机验证平台还连接于所述存储模块，
5.如权...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢东旭，朱嘉，吴介豫，
申请(专利权)人：辉芒微电子深圳股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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