【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光电设备测试，尤其涉及一种针对待测光电器件的测试装置。
技术介绍
1、光电器件是利用光电效应制成的各种功能器件，包括发光二极管、激光二极管、光电耦合器等。
2、为了确保光电器件的性能，需要对光电器件进行光电转换效率、响应性能等测试，对光电器件进行现场测试时，往往需要现场搭建测试系统，测试效率较低，另外，经常需要对不同类型光电器件依次进行电转光测试或光转电测试，进行电转光测试时需要搭建电转光测试系统，进行光转电测试时需要搭建光转电测试系统，现场搭建两套测试系统过程复杂，使得测试效率进一步降低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种针对待测光电器件的测试装置，以解决对光电器件进行现场测试时需要临时搭建一套或两套测试系统从而使得测试效率低的问题。
2、基于上述目的，本申请提供了一种针对待测光电器件的测试装置包括：
3、光电测试系统，用于光电器件的光转电测试；
4、电光测试系统，用于光电器件的电转光测试；
5、安装板，用于安装所述光电测试系统和所述电光测试系统。
6、可选的，所述光电测试系统包括光源模块、第一光衰减器模块和测试模块，所述光源模块和所述第一光衰减器模块通过光纤连接，所述第一光衰减器模块与待测光电器件通过光纤连接，待测光电器件安装在所述测试模块上并与所述测试模块电连接，所述测试模块用以测试待测光电器件的电流信息。
7、可选的，所述光源模块包括可调谐激光二极管、单模激光二
8、可选的，所述电光测试系统包括第二光衰减器模块和光探测器模块，待测光电器件安装在所述测试模块上并与所述测试模块电连接，待测光电器件接收来自所述测试模块的电流，所述待测光电器件通过光纤与所述第二光衰减器模块连接，所述第二光衰减器模块通过光纤与所述光探测器模块连接。
9、可选的，所述光探测器模块包括光探测器、第二pcb板和第二驱动电路，所述光探测器和所述第二驱动电路均设在所述第二pcb板上，所述光探测器由所述第二驱动电路驱动运行，所述光探测器被封装在光纤接头内。
10、可选的，还包括对待测光电器件进行散热的散热系统，所述散热系统包括：半导体制冷片，位于待测光电器件下方并与其壳体抵接；
11、导热安装座，所述安装板上设有贯穿所述安装板的安装槽，所述导热安装座位于所述安装槽内，所述导热安装座与所述半导体制冷片的下表面连接；
12、散热片，安装在所述安装板下表面，并与所述导热安装座连接；
13、风扇，安装在所述安装板上，并对准散热片；
14、温度探测器，安装在所述导热安装座上并与待测光电器件壳体抵接，且与所述测试模块上的控制器电连接，以实现智能控温。
15、可选的，所述安装板的两侧设有位置相对的竖板，所述光源模块和所述光探测器模块分别安装在所述竖板上，所述测试模块位于安装板的中部。
16、可选的，安装有所述光源模块的所述竖板能够沿着所述安装板侧边方向移动，以使所述可调谐激光二极管或者所述单模激光二极管对准所述第一光衰减器模块，且所述竖板能够向靠近或者远离所述安装板的方向移动，以张紧所述可调谐激光二极管与所述第一光衰减器之间的光纤或者所述单模激光二极管与所述第一光衰减器之间的光纤。
17、可选的，所述第一光衰减器模块包括第一光衰减器和第一底座，所述第一底座和所述导热安装座均可升降，以适配不同高度的第一光衰减器和待测光电器件，使得所述可调谐激光二极管或者所述单模激光二极管、第一光衰减器和待测光电器件之间的光纤位于同一水平高度。
18、可选的，所述第二光衰减器模块包括第二光衰减器和第二底座，所述第二底座能够升降，以适配不同高度的第二光衰减器，使得所述光探测器、所述第二光衰减器和待测光电器件之间的光纤位于同一水平高度。
19、从上面所述可以看出，本申请提供一种针对待测光电器件的测试装置包括安装板、光电测试系统和电光测试系统，将光电测试系统和电光测试系统集成于安装板上，不同类型光电器件可根据测试需求对应选择相应测试系统，不用现场搭建光电测试系统和电光测试系统，从而提高了光电器件的测试效率，整个装置具有体积小、便携、测试方便并通用性强等优点。
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1.一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述光电测试系统(1)包括光源模块(11)、第一光衰减器模块(12)和测试模块(13)，所述光源模块(11)和所述第一光衰减器模块(12)通过光纤连接，所述第一光衰减器模块(12)与待测光电器件通过光纤连接，待测光电器件安装在所述测试模块(13)上并与所述测试模块(13)电连接，所述测试模块(13)用以测试待测光电器件的电流信息。
3.根据权利要求2所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述光源模块(11)包括可调谐激光二极管(111)、单模激光二极管(112)、第一PCB板(113)和第一驱动电路，所述可调谐激光二极管(111)、所述单模激光二极管(112)和所述第一驱动电路均设在第一PCB板(113)上，所述可调谐激动二极管由所述第一驱动电路驱动发光，所述单模激光二极管(112)通过独立的接口与外部驱动设备相连，所述可调谐激光二极管(111)和所述单模激光二极管(112)均被封装在光纤接头内。
4.根据权利
5.根据权利要求4所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述光探测器模块(22)包括光探测器(221)、第二PCB板(222)和第二驱动电路，所述光探测器(221)和所述第二驱动电路均设在所述第二PCB板(222)上，所述光探测器(221)由所述第二驱动电路驱动运行，所述光探测器(221)被封装在光纤接头内。
6.根据权利要求3所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，还包括对待测光电器件进行散热的散热系统(6)，所述散热系统(6)包括：半导体制冷片(61)，位于待测光电器件下方并与其壳体抵接；
7.根据权利要求5所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述安装板(3)的两侧设有位置相对的竖板(4)，所述光源模块(11)和所述光探测器模块(22)分别安装在所述竖板(4)上，所述测试模块(13)位于安装板(3)的中部。
8.根据权利要求7所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，安装有所述光源模块(11)的所述竖板(4)能够沿着所述安装板(3)侧边方向移动，以使所述可调谐激光二极管(111)或者所述单模激光二极管(112)对准所述第一光衰减器模块(12)，且所述竖板(4)能够向靠近或者远离所述安装板(3)的方向移动，以张紧所述可调谐激光二极管(111)与所述第一光衰减器(121)之间的光纤或者所述单模激光二极管(112)与所述第一光衰减器(121)之间的光纤。
9.根据权利要求6所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述第一光衰减器(121)模块包括第一光衰减器(121)和第一底座(122)，所述第一底座(122)和所述导热安装座(62)均可升降，以适配不同高度的第一光衰减器(121)和待测光电器件，使得所述可调谐激光二极管(111)或者所述单模激光二极管(112)、第一光衰减器(121)和待测光电器件之间的光纤位于同一水平高度。
10.根据权利要求4所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述第二光衰减器模块(21)包括第二光衰减器(211)和第二底座(212)，所述第二底座(212)能够升降，以适配不同高度的第二光衰减器(211)，使得所述光探测器(221)、所述第二光衰减器(211)和待测光电器件之间的光纤位于同一水平高度。
...【技术特征摘要】
1.一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述光电测试系统(1)包括光源模块(11)、第一光衰减器模块(12)和测试模块(13)，所述光源模块(11)和所述第一光衰减器模块(12)通过光纤连接，所述第一光衰减器模块(12)与待测光电器件通过光纤连接，待测光电器件安装在所述测试模块(13)上并与所述测试模块(13)电连接，所述测试模块(13)用以测试待测光电器件的电流信息。
3.根据权利要求2所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述光源模块(11)包括可调谐激光二极管(111)、单模激光二极管(112)、第一pcb板(113)和第一驱动电路，所述可调谐激光二极管(111)、所述单模激光二极管(112)和所述第一驱动电路均设在第一pcb板(113)上，所述可调谐激动二极管由所述第一驱动电路驱动发光，所述单模激光二极管(112)通过独立的接口与外部驱动设备相连，所述可调谐激光二极管(111)和所述单模激光二极管(112)均被封装在光纤接头内。
4.根据权利要求2所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述电光测试系统(2)包括第二光衰减器模块(21)和光探测器模块(22)，待测光电器件安装在所述测试模块(13)上并与所述测试模块(13)电连接，待测光电器件接收来自所述测试模块(13)的电流，所述待测光电器件通过光纤与所述第二光衰减器模块(21)连接，所述第二光衰减器模块(21)通过光纤与所述光探测器模块(22)连接。
5.根据权利要求4所述的一种针对待测光电器件的测试装置，其特征在于，所述光探测器模块(22)包括光探测器(221)、第二pcb板(222)和第二驱动电路，所述光探测器(221)和所述第二驱动电路均设在所述第二pcb板(222)上，所述光探测器(221)由所述第二驱动电路驱动运行，所述光探测器(22...
【专利技术属性】
技术研发人员：张凌峰，王思娴，马帅帅，周鑫，李静，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：
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