【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于存储器测试领域，更具体地，涉及一种针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统和方法。
技术介绍
1、在嵌入式存储器的验证中，系统级测试是关键一环。系统级测试指的是对嵌入式存储器设备进行整机测试：由上位机下发测试命令，存储器响应测试命令。特别是针对工规、车规领域的存储器，对存储器进行可靠性测试是必不可少一环，同时需要大批量的系统级测试来检查存储器的可靠性。
2、传统情况下，该测试通常对单个存储器进行测试，缺少大批量测试的方法，而现有技术中采用批量测试则主要针对集成电路或者是单个芯片的多个存储器测试，并没有针对存储器本身的批量和集群化的系统级测试。存储器生产者为了测试不同规格和种类存储器，往往需要耗费很多时间和物力。
3、同时，现有技术中也缺少在温箱环境中进行系统级测试相关方面的研究，频繁的温度变化调节及环境变化是必须环节，无法保证在高低温环境下进行大批量验证以及在保证测试效果的前提下达到测试效率；且缺少集群化、网络化管理，导致测试资源的利用率不高、操作和监控测试不够方便，且对于嵌入式存储设备，如emmc、ufs，需要根据设备类型更换硬件，不具备灵活性。
技术实现思路
1、针对现有技术的改进需求，本专利技术提出了一种针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统和测试方法。保证在高低温环境下进行大批量验证以及在保证测试效果的前提下达到大批量测试效率；且对测试资源的利用率不高、操作和监控测试灵活方便，可以适用于不同规格存储器的硬件测试。
3、其中，所述测试节点包括节点控制电脑、温箱、多个测试模块；所述节点控制电脑用于控制该测试节点的测试进程，对控制模块下发到所在测试节点的测试命令进行接收、分析和分发；所述温箱用于调节系统级测试的温度。
4、其中，所述测试模块包括多个测试子系统、降温装置、腔体。
5、其中，所述测试子系统包括嵌入式存储器、承装装置、连接板、fpga平台；所述承装装置用于承装嵌入式存储器，所述fpga平台用于根据被测存储器类型配置测试驱动及对被测存储器下发测试命令，所述连接板用于连接承装装置和fpga平台。
6、其中，所述多个测试子系统的fpga平台均放入同一个腔体中，所述降温装置用于调节fpga平台的温度。
7、其中，所述承装装置具体为治具。
8、其中，所述连接板为隔温连接板，设置为将fpga平台与承装装置的测试环境隔离开。
9、一种针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试方法，所述方法包括：
10、确定待测嵌入式存储器类型和数量，根据嵌入式存储器类型和数量配置测试节点环境并装载嵌入式存储器；
11、配置并装载完成后，控制模块下发测试命令，各测试节点的节点控制电脑接收、分析测试命令，并分发到温箱和各测试子系统的fgpa平台，fgpa平台接受命令后对待测嵌入式存储器下发测试命令。
12、按上述方案，所述的配置测试节点环境包括：设置测试时间，设置各测试节点的温箱温度，设置降温装置启动温度，配置待测嵌入式存储器对应的fpga平台测试驱动，配置待测嵌入式存储器对应的承装装置。
13、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行上文所述针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试方法。
14、本专利技术实现的有益效果为：
15、（1）通过多个测试节点可实现同时对多个嵌入式存储器进行不同条件的系统级测试，并通过网络模块对各测试节点进行集群化管理，提高了资源利用率以及测试效率。
16、（2）通过温箱调节测试温度，实现嵌入式存储器进行系统级测试的不同测试环境，可对高低温环境下的嵌入式存储器系统级测试效果进行验证。
17、（3）根据不同类型的嵌入式存储器，对应不同测试子系统的fpga平台可灵活制定测试驱动；也可直接根据被测对象类型更换测试板或测试子系统，使测试系统更具灵活性。
18、（4）通过监控模块和控制模块实现对测试的远程控制、监控和管理，方便了测试人员操作。测试人员不必守着控制模块才能看测试进度，可以随时随地通过电子设备如手机/电脑查看测试进程。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括多个测试节点、网络模块、控制模块、监控模块；所述多个测试节点用于进行批量系统级测试；所述网络模块用于连接多个测试节点；所述控制模块连接到网络模块，用于下发测试命令，控制测试节点进行系统级测试；所述监控模块连接到网络模块，用于查看测试进程，响应查询请求并反馈查询结果。
2.根据权利要求1所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试节点包括节点控制电脑、温箱、多个测试模块；所述节点控制电脑用于控制该测试节点的测试进程，对控制模块下发到所在测试节点的测试命令进行接收、分析和分发；所述温箱用于调节系统级测试的温度。
3.根据权利要求2所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试模块包括多个测试子系统、降温装置、腔体。
4.根据权利要求3所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试子系统包括嵌入式存储器、承装装置、连接板、FPGA平台；所述承装装置用于承装嵌入式存储器，所述FPGA平台用于根
5.根据权利要求3或权利要求4所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述多个测试子系统的FPGA平台均放入同一个腔体中，所述降温装置用于调节FPGA平台的温度。
6.根据权利要求4所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述承装装置具体为治具。
7.根据权利要求4所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述连接板为隔温连接板，设置为将FPGA平台与承装装置的测试环境隔离开。
8.一种针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
9.根据权利要求8所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试方法，其特征在于，所述的配置测试节点环境包括：设置测试时间，设置温箱温度，设置降温装置启动温度，配置FPGA平台测试驱动，配置待测嵌入式存储器对应的承装装置。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，当所述计算机程序被计算机的处理器执行时，使计算机执行权利要求8或权利要求9中任一项所述针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括多个测试节点、网络模块、控制模块、监控模块；所述多个测试节点用于进行批量系统级测试；所述网络模块用于连接多个测试节点；所述控制模块连接到网络模块，用于下发测试命令，控制测试节点进行系统级测试；所述监控模块连接到网络模块，用于查看测试进程，响应查询请求并反馈查询结果。
2.根据权利要求1所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试节点包括节点控制电脑、温箱、多个测试模块；所述节点控制电脑用于控制该测试节点的测试进程，对控制模块下发到所在测试节点的测试命令进行接收、分析和分发；所述温箱用于调节系统级测试的温度。
3.根据权利要求2所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试模块包括多个测试子系统、降温装置、腔体。
4.根据权利要求3所述的针对嵌入式存储器进行批量系统级测试的测试系统，其特征在于，所述测试子系统包括嵌入式存储器、承装装置、连接板、fpga平台；所述承装装置用于承装嵌入式存储器，所述fpga平台用于根据被测存储器类型配置测试驱动及对被测存储器下发测试命令，所述连接板...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘青松，姚栋，王琪，张杰，
申请(专利权)人：湖北长江万润半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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