System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法及系统技术方案_技高网

一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法及系统技术方案

技术编号:44266948 阅读:1 留言:0更新日期:2025-02-14 22:09
本发明专利技术公开了一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法及系统,涉及金具缺陷巡检技术领域,通过前端处理模块收集待处理结构构成信息与负荷信息,随后缺陷分析模块开展初步检查及试验,利用多种检测设备从多方面检测结构状况,并依结构位置开展特定带电试验,接着进行仿真和试验为基础的成因分析,全面排查显性缺陷及分析成因。策略决算模块则制定缺陷闭环处理方案并赋图谱库,包括建立缺陷类型子集、分解结构特征并录入数据、给出热缺陷分类图谱库及相关操作指南,图谱库通过对比热像图特征向量判断缺陷类型。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及金具缺陷巡检,具体为一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法及系统


技术介绍

1、按照预防性试验规程或者状态检修规程要求的试验周期,变电站运行中的电气一次设备需要按周期或按在运情况,包括负荷情况、设备结构、运行季节等开展红外例行巡检或诊断性测温。电流致热缺陷作为变电站最多发的热缺陷类型,存在分布范围广、常规缺陷多发、热点温度随负荷变化明显、复杂结构成因分析困难等特点。一般而言,由于计划外停电困难,常规缺陷往往易于诊断但难于处理,复杂结构电流致热缺陷有时存在故障表象转移情况而难以识别真正故障点。

2、红外成像仪作为一种成熟的热缺陷识别设备,已广泛配置应用于电力系统,红外测温作为例行试验和巡检项目,也在众多规程中有相应规范和技术指导。但是,由于规范指导不明晰,复杂缺陷成因分析困难、复杂缺陷成因研究较少、人员精测技术不过关、图谱识读偏差等原因,常导致依托缺陷识别无结果或识别舛差等问题,也存在后续管理不规范,从而无法满足变电站金具热缺陷成因分析与缺陷处理规范的要求。

3、鉴于此,有必要提出一种变电站典型区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,用以规范变电站常规及疑难电流致热缺陷识别流程,明确缺陷排查方法,从而提高热缺陷成因分析和设备故障诊断的正确性和准确性,指导图谱库及缺陷闭环管理流程建立,为变电站电流致热缺陷图谱库的建立奠定基础。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种变电站典型区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法及系统,将该类存在电流致热缺陷的结构记为缺陷待处理结构,所述成因分析及闭环处理方法对待处理结构进行,即在待处理结构缺陷分析过程中进行成因分析及缺陷闭环管理。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:

3、一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,包括以下步骤:

4、s1:收集待处理结构信息;

5、s2:开展待处理结构初步检查及试验;

6、s3:进行仿真和试验为基础的成因分析;

7、s4:制定缺陷闭环处理方案并赋图谱库。

8、步骤s1收集待处理结构信息包括待处理结构构成信息与待处理结构负荷信息;所述待处理结构构成信息具体包括金属结构部件、绝缘结构部件、以及部件材料,所述待处理结构负荷信息具体包括电压、电流、以及最大负荷时间段;

9、步骤s2开展待处理结构初步检查及试验,具体包括以下步骤:

10、s21:现场带电检查及诊断性试验,其具体步骤为:

11、s211:采用红外热像仪对待处理结构进行多角度、多时段的红外热像精测,获取其表面温度分布热像图;

12、s212:利用紫外成像检测设备检测待处理结构是否存在局部放电产生的紫外光信号,并记录信号强度与位置;

13、s213:分析主回路负荷曲线评估待处理结构的负荷变化规律与历史数据对比判断是否存在异常波动;

14、s214:对结构进行全面的缺件、松动、错位、烧坏、锈蚀、损坏、裂纹和滑移检查,详细记录发现的问题及位置;

15、s22:根据待处理结构所在位置进行的具体其他带电试验步骤为:

16、s221:若为gis附近件待处理结构,在查阅gis超高频、超声波局放带电检测历史数据后,采用高精度的超高频、超声波局放检测设备按照预定检测路径与参数设置开展gis超高频、超声波局放带电检测;

17、s222:若为变压器附近待处理结构,先查阅变压器超高频、超声波局放带电检测历史数据,然后开展gis超高频、超声波局放带电检测,并且查阅铁芯接地电流在线监测历史数据后,使用专业的铁芯接地电流测试仪器开展铁芯接地电流带电测试;

18、s223:若为避雷器附近待处理结构,查阅避雷器阻性电流检测历史数据及交流耐压试验数据,运用专用的避雷器阻性电流带电检测设备开展避雷器阻性电流带电检测;

19、s224:若待处理结构附近有明显接地点,采用高精度接地电阻测试仪开展接地引下线导通检测,记录接地电阻值与导通情况;

20、步骤s3进行仿真和试验为基础的成因分析,包括以下步骤:

21、s31:检查待处理结构并逐步排查显性缺陷,其详细步骤如下:

22、s311:对待处理结构进行拆解后,采用放大镜检查各构成金具外观,对于存在锈蚀、裂纹、制造性缺陷的情况,进行拍照、标记并记录缺陷的类型、位置与严重程度;

23、s312:建立待处理结构电路拓扑模型,测量各部件的电气参数并录入系统,记录并输入电流致热缺陷的模拟分析装置;所述电流致热缺陷的模拟分析装置包括中心热成像特征记录装置与红外成像仪;

24、s313:依据处理结构电路拓扑模型、负荷状态、结构状态,开展电路仿真,计算各等效电阻功率变化曲线;

25、s314:有涂层金具检查涂层时,采用憎水性检测仪器进行憎水性测试、运用污秽度测量装置进行污秽度测试、排查放电痕迹,记录检测数据与结果;

26、s315:在定义待处理结构的不同状态下进行操作:

27、s3151:在jgzt1状态下,采样锈斑及洁净金具部位,将样品送往进行金相分析并记录金相组织结果;

28、s3152:在jgzt2状态下,运用扭力测试仪分别检测各处螺栓的扭力,并记录扭力数值;

29、s3153:在jgzt3状态下,重复s3152的操作并记录数据;

30、s3154:在jgzt4状态下,再次重复s3152的操作并记录数据;

31、s3155:在jgzt1状态下,采用电阻测量仪分别测量待处理结构电路拓扑模型中所包含的每条支路的支路电阻值,并记录电阻值;

32、s3156:在jgzt2状态下,重复s3155的操作并记录数据;

33、s3157:在jgzt3状态下,重复s3155的操作并记录数据;

34、s3158:在jgzt4状态下,重复s3155的操作并记录数据;

35、s32:待处理结构发热模拟实验步骤如下:

36、s321:jgzt2状态待处理结构发热模拟实验:

37、s3211:在jgzt2状态下,将待处理结构连接至发热模拟试验装置,按照待处理结构实际运行电流参数设置试验电流,开展发热模拟试验并记录温度随时间变化曲线;

38、s3212:在jgzt2状态下,按照待处理结构实际运行电压参数设置试验电压,开展发热模拟试验并记录温度分布情况;

39、s3213:在jgzt2状态下,按照待处理结构实际运行参数综合设置电流与电压,开展发热模拟试验并记录发热过程中的各项数据;

40、s322:jgzt3状态待处理结构发热模拟实验:

41、s3221:在jgzt3状态下,将待处理结构连接至发热模拟试验装置,按照待处理结构实际运行电流参数设置试验电流,开展发热模本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤S1收集待处理结构信息包括待处理结构构成信息与待处理结构负荷信息;所述待处理结构构成信息具体包括金属结构部件、绝缘结构部件、以及部件材料,所述待处理结构负荷信息具体包括电压、电流、以及最大负荷时间段。

3.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤S2开展待处理结构初步检查及试验具体包括以下步骤:

4.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤S3进行仿真和试验为基础的成因分析包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,所述定义待处理结构的不同状态具体内容如下:

6.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤S4制定缺陷闭环处理方案并赋图谱库具体为:

7.根据权利要求4所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,所述发热模拟试验通过大电流发生装置和高电压发生装置,模拟待处理结构的负荷状态;通过调整试验装置拉力以调整待处理结构张力、调整结构中螺栓扭力、打磨锈蚀部位、结构缝隙中垫入绝缘垫等模拟不同的结构状态;通过所述的JGZT1—5情况下在FHZT1—3状态中的模拟情况开展试验;所述FHZT1—3状态具体为:

8.一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理系统,包括前端处理模块,缺陷分析模块,策略决算模块,其特征在于,所述系统执行实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤;所述前端处理模块包括信息输入模块,所述信息输入模块输入待处理结构构成信息与待处理结构负荷信息;所述缺陷分析模块包括本地服务器及中央数据处理模块与典型电流致热的模拟分析装置,所述典型电流致热的模拟分析装置具体包括中心热成像特征记录装置与红外成像仪。

9.根据权利要求8所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理系统,其特征在于,所述策略决算模块包括从缺陷分析模块得出的精测技巧指南及红外热像仪技术参数设置指南和典型电流致热缺陷图谱库。

10.根据权利要求9所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理系统,其特征在于,所述典型电流致热缺陷图谱库对比方法为:

...

【技术特征摘要】

1.一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤s1收集待处理结构信息包括待处理结构构成信息与待处理结构负荷信息;所述待处理结构构成信息具体包括金属结构部件、绝缘结构部件、以及部件材料,所述待处理结构负荷信息具体包括电压、电流、以及最大负荷时间段。

3.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤s2开展待处理结构初步检查及试验具体包括以下步骤:

4.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤s3进行仿真和试验为基础的成因分析包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,所述定义待处理结构的不同状态具体内容如下:

6.根据权利要求1所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,其特征在于,步骤s4制定缺陷闭环处理方案并赋图谱库具体为:

7.根据权利要求4所述的一种区域结构内金具电流致热缺陷成因分析及闭环处理方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:王英杰陈波于鲜莉刘琦赵顺车传强梁帅白洁谢明佐刘学芳
申请(专利权)人:内蒙古电力集团有限责任公司内蒙古电力科学研究院分公司
类型:发明
国别省市:

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