【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及薄膜卷曲技术，具体地，涉及一种薄膜卷曲评价方法、薄膜卷曲评价装置以及聚乙烯醇薄膜。
技术介绍
1、先进功能高分子薄膜的生产制造是现代平面显示的重要组成部分。其中许多种膜材料，由于经历了流延加工等两面非对称的加工过程的原因，其正反两面的组成、结构会存在微小差异。很多情况下，刚生产出来的薄膜是平直的，但在一定温度、湿度条件下，薄膜两面吸收水分子的能力有区别，导致薄膜两侧膨胀率不同，在宏观上便体现为薄膜在储存、运输、加工环节发生了卷曲。
2、偏光片加工所用的聚乙烯醇(pva)光学基膜就是上述情况的典型例子，由于两面非对称加工引起的正反两面结构的差异，使其在膨润过程中出现了卷曲现象，严重影响了碘染加工过程的结构均匀性及加工稳定性，在后续加工中的收卷、贴合等工序中更是会导致褶皱、折痕、气泡等产品瑕疵的出现。此外，目前生产的pva薄膜在水中的卷曲拉伸不稳定，特别是薄膜任意区域的膜片在不同方向上的水中变化尺寸不一致，无法评判薄膜卷曲程度。
3、为此，需要通过工艺改进来降低薄膜卷曲程度，而如何对薄膜卷曲进行测量和评估也是一个重要的问题。因此，提供一种能够进行pva薄膜卷曲评价的卷曲装置显得尤为急迫。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了克服现有技术存在的薄膜卷曲程度的测量和评估较困难、薄膜卷曲影响后续加工的问题，提供一种薄膜卷曲评价方法、薄膜卷曲评价装置以及聚乙烯醇薄膜，该评价方法利用卷曲系数量化薄膜卷曲程度，评价更客观、更准确，有利于指导加工工艺，降低薄
2、为了实现上述目的，本专利技术第一方面提供一种薄膜卷曲评价方法，该方法包括：
3、将薄膜样品浸泡在测试溶剂中，测定该薄膜样品在所述测试溶剂中的卷曲时间系数a、卷曲方向系数b和卷曲溶胀率系数c；
4、通过卷曲时间系数a、卷曲方向系数b和卷曲溶胀率系数c计算获得薄膜在所述测试溶剂中的卷曲系数ω，以所述卷曲系数ω评价薄膜的卷曲程度。
5、优选地，所述卷曲系数ω通过如下公式(i)计算获得，
6、ω＝a*a+b*b+c*c；
7、其中，a为卷曲时间比重，b为卷曲方向比重，c为卷曲溶胀率比重；所述薄膜样品浸泡在测试溶剂中，发生卷曲则a、b均取1，不发生卷曲则a、b均取0，若薄膜样品的长度和/或宽度改变，则c取1，若薄膜长度和宽度不改变，则c取0。
8、优选地，测定所述卷曲时间系数a的过程包括：测定所述薄膜样品自浸入测试溶剂中开始卷曲的时间t0以及所述薄膜样品浸入测试溶剂中的总时间t，通过如下公式(ii)计算获得卷曲时间系数a；
9、a＝(t-t0)/t公式(ii)。
10、优选地，测定所述卷曲方向系数b的过程包括：测定所述薄膜样品浸泡在测试溶剂中的卷曲方向指标r、所述薄膜样品的初始面积s以及该薄膜样品在测试溶剂中浸泡后的面积s1，通过如下公式(iii)计算获得卷曲方向系数b；
11、b＝|r|*(s-s1)/s公式(iii)，
12、其中，如卷曲方向为td方向则r取值为+1，如卷曲方向为md方向则r取值为-1，如不卷曲r取值为0。
13、优选地，测定所述卷曲溶胀率系数c的过程包括：测定所述薄膜样品的初始长度l以及该薄膜样品在测试溶剂中浸泡后的长度l1，通过如下公式(iv)计算获得卷曲溶胀率系数c；
14、c＝l1/l公式(iv)。
15、优选地，所述测试溶剂为水，所述浸泡的温度为24-28℃、时间为120-180s。
16、优选地，所述评价薄膜的卷曲程度的过程包括：选用卷曲系数ω满足0<ω<5.1的薄膜；更优选为0.5<ω<5.1，进一步优选为0.6<ω<2.1。
17、本专利技术第二方面提供一种薄膜卷曲评价装置，用于进行如前所述的薄膜卷曲评价方法，该装置包括用于装载测试溶剂的箱体、位于所述箱体内的支撑平板以及用于控制所述箱体内测试溶剂温度的控温单元，所述支撑平板可升降地连接在所述箱体的内壁上。
18、优选地，所述支撑平板与所述薄膜接触的表面设置有用于测量所述薄膜尺寸的网格，所述网格具有多种规格的刻度线。
19、优选地，所述控温单元包括位于所述箱体内的控温件、位于所述箱体上的温度显示屏以及用于控制所述控温件工作状态的开关。
20、优选地，所述箱体的顶部设置有可开合的盖板，所述盖板内侧设置有与该盖板可拆卸连接的刀片。
21、本专利技术第三方面提供如前所述的薄膜卷曲评价方法、如前所述的薄膜卷曲评价装置在薄膜加工中的应用。
22、优选地，所述薄膜为聚乙烯醇薄膜。
23、本专利技术第四方面提供一种聚乙烯醇薄膜，该聚乙烯醇薄膜通过将聚乙烯醇膜体在控制牵引系数α的条件下进行收卷后，采用如前所述的薄膜卷曲评价方法筛选获得，所述聚乙烯醇薄膜的卷曲系数ω为0<ω<5.1；所述牵引系数α通过如下公式(v)计算获得；
24、α＝n*d公式(v)，
25、其中，n为薄膜的收卷张力，d为辊组比速。
26、优选地，所述聚乙烯醇薄膜的卷曲系数ω为0.5<ω<5.1，进一步优选为0.6<ω<2.1；
27、所述牵引系数α控制为0.9<α<16.2，更优选为4.9<α<14，进一步优选为10<α<13.1。
28、通过上述技术方案，本专利技术的有益效果为：
29、本专利技术提供的薄膜卷曲评价方法基于样品浸泡在测试溶剂中的卷曲时间系数a、卷曲方向系数b和卷曲溶胀率系数c，以卷曲系数ω的形式量化了薄膜的卷曲程度，考量了卷曲方向、卷曲时间、卷曲溶胀率，使得评价更客观、更准确；卷曲系数ω可用于指导薄膜的选用，以降低薄膜的卷曲程度，有利于减少后续产品出现褶皱、折痕、气泡等瑕疵，在薄膜性能提升领域表现出一定的应用潜力；尤其适用于聚乙烯醇薄膜的评价，通过控制牵引系数α进行收卷获得的聚乙烯醇薄膜，采用该方法进行评价，选择卷曲系数ω在限定范围内的聚乙烯醇薄膜，后期使用不卷曲，且提高下游聚乙烯醇薄膜与碘复合物的稳定性和膜拉伸性能。
30、本专利技术提供的薄膜卷曲评价装置结构简单、操作方便，使得薄膜在评价测量时不发生变形皱褶，且该装置占用室内空间小。
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1.一种薄膜卷曲评价方法，其特征在于，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，所述卷曲系数ω通过如下公式(I)计算获得，
3.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，测定所述卷曲时间系数A的过程包括：测定所述薄膜样品自浸入测试溶剂中开始卷曲的时间T0以及所述薄膜样品浸入测试溶剂中的总时间T，通过如下公式(II)计算获得卷曲时间系数A；
4.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，测定所述卷曲方向系数B的过程包括：测定所述薄膜样品浸泡在测试溶剂中的卷曲方向指标r、所述薄膜样品的初始面积S以及该薄膜样品在测试溶剂中浸泡后的面积S1，通过如下公式(III)计算获得卷曲方向系数B；
5.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，测定所述卷曲溶胀率系数C的过程包括：测定所述薄膜样品的初始长度L以及该薄膜样品在测试溶剂中浸泡后的长度L1，通过如下公式(IV)计算获得卷曲溶胀率系数C；
6.根据权利要求1至5中任意一项所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，所述测试溶剂为水，所述浸泡
7.一种薄膜卷曲评价装置，其特征在于，用于进行权利要求1至6中任意一项所述的薄膜卷曲评价方法，该装置包括用于装载测试溶剂的箱体(1)、位于所述箱体(1)内的支撑平板(6)以及用于控制所述箱体(1)内测试溶剂温度的控温单元，所述支撑平板(6)可升降地连接在所述箱体(1)的内壁上；所述支撑平板(6)与所述薄膜接触的表面设置有用于测量所述薄膜尺寸的网格(4)，所述网格(4)具有多种规格的刻度线(5)。
8.根据权利要求7所述的薄膜卷曲评价装置，其特征在于，所述控温单元包括位于所述箱体(1)内的控温件、位于所述箱体(1)上的温度显示屏(2)以及用于控制所述控温件工作状态的开关(3)；
9.权利要求1至6中任意一项所述的薄膜卷曲评价方法、权利要求7或8所述的薄膜卷曲评价装置在薄膜加工中的应用；
10.一种聚乙烯醇薄膜，其特征在于，该聚乙烯醇薄膜通过将聚乙烯醇膜体在控制牵引系数α的条件下进行收卷后，采用权利要求1至6中任意一项所述的薄膜卷曲评价方法筛选获得，所述聚乙烯醇薄膜的卷曲系数ω为0<ω<5.1；
...【技术特征摘要】
1.一种薄膜卷曲评价方法，其特征在于，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，所述卷曲系数ω通过如下公式(i)计算获得，
3.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，测定所述卷曲时间系数a的过程包括：测定所述薄膜样品自浸入测试溶剂中开始卷曲的时间t0以及所述薄膜样品浸入测试溶剂中的总时间t，通过如下公式(ii)计算获得卷曲时间系数a；
4.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，测定所述卷曲方向系数b的过程包括：测定所述薄膜样品浸泡在测试溶剂中的卷曲方向指标r、所述薄膜样品的初始面积s以及该薄膜样品在测试溶剂中浸泡后的面积s1，通过如下公式(iii)计算获得卷曲方向系数b；
5.根据权利要求1所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，测定所述卷曲溶胀率系数c的过程包括：测定所述薄膜样品的初始长度l以及该薄膜样品在测试溶剂中浸泡后的长度l1，通过如下公式(iv)计算获得卷曲溶胀率系数c；
6.根据权利要求1至5中任意一项所述的薄膜卷曲评价方法，其特征在于，所述测试溶剂为水，所述浸泡的温度为2...
【专利技术属性】
技术研发人员：全远霞，胡晓迪，蒋小云，安志敏，王宏星，李荣河，
申请(专利权)人：重庆光谱新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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