【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学装调测试，具体涉及一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统及方法。
技术介绍
1、高精度旋转反射镜和折转反射镜部件都是光电类产品定向干扰系统中的重要光学元件，其高精度旋转反射镜相对于折转反射镜位置精度是关键指标，直接影响干扰系统扫描过程中的指向精度、扫描范围，同时对干扰系统的跟踪精度影响也极大。定向干扰系统主要功能是对来袭的导弹进行快速捕获，连续稳定跟踪，另外对于现有的轻量化设计要求，将k9反射镜更改为金属镜新构型，不仅增大了装调难度，同时设计指标要求也进一步提升。
2、目前，高精度反射镜与折转反射镜部件之间的位置关系只是依赖于机械加工精度来保证装配后的指标要求，还没有很好的装调测试方法，然而仅靠加工精度难以保证高精度反射镜与多反射镜之间的位置精度，从而导致系统指向精度低、扫描范围变化、跟踪精度不好的问题。
3、因此，需要提供一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统及方法以解决上述问题。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统及方法，以解决现有的光电产品干扰系统中高精度反射镜与多反射镜之间的位置精度不达标导致指向精度低、扫描范围变化、跟踪精度不好的问题。
2、本专利技术的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统及方法采用如下技术方案，包括：
3、四维角度调整台，其上设置有水平设置的光学平晶；
4、自准直仪，设置在光学
5、以及扫描机构，其包括安装座，安装座上设置有高精度旋转反射镜、折转反射镜部件以及调整组件，高精度旋转反射镜设置于自准直仪下方，且其反射镜面朝向自准直仪；折转反射镜部件用于将高精度旋转反射镜输出的水平光束转换为垂直光束；调整组件用于调整高精度旋转反射镜的俯仰角和方位角，以及调整折转反射镜部件的俯仰角和方位角。
6、优选地，折转反射镜部件包括：在安装座上对应的安装台上安装的第一反射镜、第二反射镜以及第三反射镜，其中，自准直仪输出的光束经高精度旋转反射镜反射进入第一反射镜，第一反射镜将光束反射至第二反射镜，第二反射镜将光束反射至第三反射镜，第三反射镜将光束反射至光学平晶。
7、优选地，第一反射镜设置于高精度旋转反射镜的一侧，且第一反射镜的反射镜面与高精度旋转反射镜的反射镜面相对且平行；第二反射镜设置于第一反射镜的下方，第二反射镜与第一反射镜的反射镜面相对，且第二反射镜与第一反射镜的反射镜面的法线垂直；第三反射镜设置于第二反射镜的一侧，且第三反射镜的反射镜面与第二反射镜的反射镜面相对且平行。
8、优选地，调整组件包括：方位轴系和俯仰轴系。
9、一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，包括：
10、转动高精度旋转反射镜使其反射面朝上，使得自准直仪光轴与旋转反射镜反射面的夹角为度；
11、将光学平晶贴于折转反射镜部件的安装台的a基准面作为第一基准，调节自准直仪方位角度和俯仰角度，使光学平晶的十字反射像经折转反射镜部件、高精度旋转反射镜后位于自准直仪的分划板十字中心；
12、移出扫描机构，调节四位角度调整台使光学平晶的反射面法线与自准直仪的光轴垂直；
13、将扫描机构放回原位，重新将光学平晶贴于折转反射镜部件的安装台的a基准面进行复测基准，修研并调校三个反射镜，保证经过折转反射镜部件的入射光轴与出射光轴垂直；
14、调节自准直仪使其经高精度旋转反射镜和折转反射镜部件后的入射光轴和出射光轴均对准扫描机构的方位轴系；
15、调节四维角度调整台和高精度旋转反射镜的俯仰角度，使得光学平晶的十字反射像反射至自准直仪中；
16、转动扫描机构的方位轴系和俯仰轴系，直至扫描机构入射光轴与出射光轴同轴。
17、优选地，修研并调校三个反射镜，保证经过折转反射镜部件的入射光轴与出射光轴垂直的步骤为：
18、将扫描机构放回原位，通过自准直仪观察经光学平晶反射的十字反射像，测量并记录光学平晶的十字反射像的方位角度偏差、俯仰角度偏差；
19、依次拆下第一反射镜、第二反射镜以及第三反射镜，并根据方位角度偏差值和俯仰角度偏差值修研固定每个反射镜的安装台，直至修研后测量的光学平晶的十字反射像的方位角度偏差和俯仰角度偏差满足预设的角度偏差指标；
20、修研三个反射镜中对角度最敏感的一个反射镜下方安装面，保证角度，同时要保证安装面的平整度，直至十字分划像的俯仰角度偏差值和方位角度偏差值满足角度偏差指标要求，固定三个反射镜。
21、优选地，十字反射像的方位角度偏差和俯仰角度偏差的角度偏差指标要求为：小于或者等于15″。
22、优选地，使用相同力矩固定折转镜部件和固定每个反射镜。
23、优选地，转动扫描机构的方位轴系和俯仰轴系，直至扫描机构入射光轴与出射光轴同轴的步骤为：
24、以扫描机构的方位轴作为测量基准，转动方位轴系，观察自准直仪的十字分划板上光学平晶的十字反射像的画圆量大小，测量并记录十字反射像的方位角度和俯仰角度；
25、调整自准直仪的方位角度，使得自准直仪的出射光轴经过光学平晶反射后再经过折转镜部件、高精度旋转反射镜输出的十字反射像的画圆中心调整至自准直仪的分划板十字中心；
26、调整折转镜部件的方位角度，保证十字反射像沿着方位方向调整至画圆中心的纵向延长线上；再调整折转镜部件的俯仰角度，保证十字反射像沿着俯仰方向修正至画圆中心；锁紧折转镜部件的固定螺钉；
27、调整自准直仪方位角度和俯仰角度，使得十字反射像围绕自准直仪十字线中心画圆；测量光学平晶的十字反射像的画圆直径；
28、调整折转反射镜部件的俯仰角度和方位角度，直至十字反射像的画圆直径最小，即扫描机构的入射光轴与出射光轴同轴。
29、优选地，在测量得到的十字反射像的画圆直径相对于自准直仪的分划板十字中心的偏差值小于20″时，十字反射像的画圆直径最小。
30、本专利技术的有益效果是：
31、通过以扫描机构的方位轴系作为测量基准，用自准直仪观察方位轴转动过程中十字反射像的画圆量及位置，调整折转反射镜部件的俯仰角度和方位角度，以保证十字反射像画圆最小且在十字线中心，最终保证高精度旋转反射镜与折转反射镜部件的位置精度。
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1.一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，折转反射镜部件包括：在安装座上对应的安装台上安装的第一反射镜、第二反射镜以及第三反射镜，其中，自准直仪输出的光束经高精度旋转反射镜反射进入第一反射镜，第一反射镜将光束反射至第二反射镜，第二反射镜将光束反射至第三反射镜，第三反射镜将光束反射至光学平晶。
3.根据权利要求2所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，第一反射镜设置于高精度旋转反射镜的一侧，且第一反射镜的反射镜面与高精度旋转反射镜的反射镜面相对且平行；第二反射镜设置于第一反射镜的下方，第二反射镜与第一反射镜的反射镜面相对，且第二反射镜与第一反射镜的反射镜面的法线垂直；第三反射镜设置于第二反射镜的一侧，且第三反射镜的反射镜面与第二反射镜的反射镜面相对且平行。
4.根据权利要求1所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，调整组件包括：方位轴系和俯仰轴系。p>
5.一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，其特征在于，包括：
6.根据权利要求1所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，其特征在于，修研并调校三个反射镜，保证经过折转反射镜部件的入射光轴与出射光轴垂直的步骤为：
7.根据权利要求6所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，其特征在于，十字反射像的方位角度偏差和俯仰角度偏差的角度偏差指标要求为：小于或者等于15″。
8.根据权利要求6所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，其特征在于，使用相同力矩固定折转镜部件和固定每个反射镜。
9.根据权利要求5所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，其特征在于，转动扫描机构的方位轴系和俯仰轴系，直至扫描机构入射光轴与出射光轴同轴的步骤为：
10.根据权利要求8所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校方法，其特征在于，在测量得到的十字反射像的画圆直径相对于自准直仪的分划板十字中心的偏差值小于20″时，十字反射像的画圆直径最小。
...【技术特征摘要】
1.一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，折转反射镜部件包括：在安装座上对应的安装台上安装的第一反射镜、第二反射镜以及第三反射镜，其中，自准直仪输出的光束经高精度旋转反射镜反射进入第一反射镜，第一反射镜将光束反射至第二反射镜，第二反射镜将光束反射至第三反射镜，第三反射镜将光束反射至光学平晶。
3.根据权利要求2所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，第一反射镜设置于高精度旋转反射镜的一侧，且第一反射镜的反射镜面与高精度旋转反射镜的反射镜面相对且平行；第二反射镜设置于第一反射镜的下方，第二反射镜与第一反射镜的反射镜面相对，且第二反射镜与第一反射镜的反射镜面的法线垂直；第三反射镜设置于第二反射镜的一侧，且第三反射镜的反射镜面与第二反射镜的反射镜面相对且平行。
4.根据权利要求1所述的一种高精度旋转反射镜相对于折转反射镜部件位置度调校系统，其特征在于，调整组件包括：方位轴系和俯仰轴系。
【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，王浩男，王旭朝，孙佳明，高鹏涛，谢高峰，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：
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